• 研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」 製品画像

    研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」

    お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

    CP-MS 誘導結合プラズマ質量分析法 ほか ○光電子分光法 XPS X線光電子分光法 UPS 紫外光電子分光法 ○電子顕微鏡観察・分析 AES オージェ電子分光法 SEM 走査電子顕微鏡法 EBIC 電子線誘起電流法 ほか ○振動分光 FT-IR フーリエ変換赤外分光法 Raman ラマン分光法 ○X線回折関連 XRD X線回折法 SAXS X線小角散乱法 XRR...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 電子顕微鏡解析受託サービス※解析事例紹介! 製品画像

    電子顕微鏡解析受託サービス※解析事例紹介!

    ワンストップサービスできめ細かく対応!

    【技術力】日本顕微鏡学会認定、電子顕微鏡技師が実施します。 【対応力】ワンストップサービスできめ細かく対応します。 【スピーディー】高度な解析もスピーディーに対応します。 【コストダウン】弊社に委託頂くことで、お客様の経費削減に寄与します。 【秘密保持】完全独立資本ですので、外部へは洩れません。 【受託例】 ■培養組織の観察による再生組織の確認 ■ナノオーダーの粉体の粒子測定 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法 製品画像

    STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法

    極小に絞った電子ビームを試料に照射!試料内部の原子像分布・形態などを画…

    当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得ることが可能。 また、物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に 観測することが出来ます。 【特長】 ■原子像やサブnmオーダーで物質...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 透過型電子顕微鏡法によるアスベスト分析 製品画像

    透過型電子顕微鏡法によるアスベスト分析

    透過型電子顕微鏡法によるアスベスト分析が可能です。

    環境省アスベストモニタリングマニュアル(第4.0版)に対応した測定が可能です。 ...■アスベストの同定が可能です。 ■分散染色法やX線回折法では分析が難しいトレモライト等のアスベストを分析します。...

    メーカー・取り扱い企業: 環境リサーチ株式会社

  • 医薬品業界向け!電子顕微鏡による『ウイルス安全性試験』 製品画像

    医薬品業界向け!電子顕微鏡による『ウイルス安全性試験』

    透過型電子顕微鏡による安全性試験!長年積み重ねてきた経験と実績がありま…

    花市電子顕微鏡技術研究所では、電子顕微鏡による『ウイルス安全性試験』の 受託を行っております。 GLP/GMPに準拠した厳正な管理の下、ウイルス安全性試験を実施。 例としてCHO細胞を使用してバイオ医薬品を製造する場合、ICH Q5A,Q5Dに 基づいた試験項目におけるレトロウイルス否定試験において、電子顕微鏡 観察の実施が必要とされています。 当社では、長年積み重ねてきた...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • 散乱型近接場光赤外顕微鏡「neaSCOPE」受託測定サービス 製品画像

    散乱型近接場光赤外顕微鏡「neaSCOPE」受託測定サービス

    空間分解能 最高10nmのスケールで、AFM像、赤外光イメージング、赤…

    日本カンタム・デザインでは、散乱型近接場赤外顕微鏡「neaSCOPE」を 用いた受託測定サービスを行っております。 【装置仕様】 ■測定可能波長:650cm^-1~2200mcm^-1 ■ナノFT-IRスペクトル測定 ■ブロードバンドレーザーによる白色光赤外光反射イメージング ■ハイパースペクトル赤外光反射/吸収イメージング ■ラインスキャン赤外吸収イメージング ※詳細情報...

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    メーカー・取り扱い企業: 日本カンタム・デザイン株式会社

  • 3D顕微鏡 3Dプリンターの製品確認 製品画像

    3D顕微鏡 3Dプリンターの製品確認

    3Dプリンターの製品確認 材料学も3Dの時代へ! 組織観察過程を全自動…

    さまざまな材料にも適用できる3D顕微鏡です。 コンピュータ制御により、組織観察、研磨機、洗浄、エッチングを 繰り返し全自動で行え、高効率で 3D組織像 が得ることができます。 従来、手動で繰り返し行っていた機械研磨と光学顕微鏡観察を全自動化することで、数ヶ月要していた作業を1日で終わらせることができます。...【特長】 ●金属組織の3D像を<2~3ヶ月 → 1日>で取得  手動で数ヶ月か...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社中山電機

  • 『X線・超音波を用いた非破壊分析の基礎と事例』※希望者全員に進呈 製品画像

    『X線・超音波を用いた非破壊分析の基礎と事例』※希望者全員に進呈

    非破壊分析の手法(超音波顕微鏡法・X線CT法)の基礎的な解説や、代表的…

    実際の分析事例や、分析手法の基礎的な解説を掲載した冊子を ご希望の方全員に無料でプレゼント中です。 【掲載内容(一部)】 ■X線・超音波を用いた非破壊分析の手法紹介  ・超音波顕微鏡法  ・X線CT法  ・in situ X線CT測定 ■分析事例  ・炭素繊維強化プラスチック(CFRP)内部の繊維配向解析  ・発泡ウレタン内部の空隙率評価  ・発泡ゴムの引っ張り試験...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【解析事例】ネガティブ染色法によるトリアデノウイルスの観察 製品画像

    【解析事例】ネガティブ染色法によるトリアデノウイルスの観察

    ×100,000 TEMで解析!風邪の主要病原ウイルスと言われ、直径約…

    当社が行った『トリアデノウイルス』の解析事例をご紹介します。 アデノウイルスは、風邪の主要病原ウイルスと言われ、 直径約80nmの球状粒子です。 ネガティブ染色法により、表面のスパイクが観察できます。 【解析概要】 ■解析対象:トリアデノウイルス ■アデノウイルスは、風邪の主要病原ウイルス ■直径約80nmの球状粒子 ■ネガティブ染色法により、表面のスパイクが観察可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • [SEM]走査電子顕微鏡法 製品画像

    [SEM]走査電子顕微鏡法

    高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

    SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子(Secondary Electron;SE)像、反射電子(BackScattered Electron;BSE)像、透過電子(Transmitted Electron;TE)像の観察が可能 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • SEM-ECCI法による転位観察 製品画像

    SEM-ECCI法による転位観察

    金属材料中の転位の観察にはTEMが用いられてきましたが、SEMを用いた…

    金属材料の変形や破壊のプロセスの本質的な理解には、転位の状態を可視化することが重要となっています。従来、金属材料中の転位の観察にはTEM(透過電子顕微鏡法)が用いられてきましたが、近年ではSEM(走査電子顕微鏡法)による観察も試みられていました。今回、当社でもこのSEMを用いた転位の観察ができるようになりました。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • クライオ電子顕微鏡ハンドブック 製品画像

    クライオ電子顕微鏡ハンドブック

    2017年ノーベル化学賞に輝いたクライオ電子顕微鏡に関する知見を体系的…

    研究者、技術者のためのクライオ電子顕微鏡設置機関とそのサービス内容も紹介...「クライオ電子顕微鏡ハンドブック」 ■体裁:B5判 460頁 ■定価:54,000円+税 ■監修:難波啓一、加藤貴之、牧野文信 ■発行:エヌ・ティー・エス 序 章  クライオ電子顕微鏡が切り開く構造生命科学の新展開 第1章 クライオ電子顕微鏡三種の神器 第2章 試料作製技術 第3章 単粒子解析~撮影...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エヌ・ティー・エス

  • SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view故障解析 製品画像

    SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view故障解析

    SEM像の3D化でリークパスを確認

    裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについて、Slice&Viewによる断面SEM観察を行いました。Slice&Viewでは、リーク箇所周辺から数十nmオーダーのピッチで断面観察を行うことにより、リーク箇所を逃さず画像として捉えることが可能です。SEM画像を3D化することでリークパスを確認することができます。 測定法:Slice&View・EMS 製品分野:パワーデバ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 分析事例トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所複合解析 製品画像

    分析事例トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所複合解析

    デバイスの不良箇所特定から要因解析までワンストップでご提供

    パワーデバイスでは、高電圧がかかるゆえの配線の不良や電気的な不良が生じます。また製品の信頼性向上のためには、不良要因の特定および解析が必須となります。本資料では不良箇所の特定をEMS(エミッション顕微鏡法)を用いて行い、不良要因解析をSCM(走査型静電容量顕微鏡法)とSEM(走査型顕微鏡法)で評価した事例をご紹介します。 測定法:EMS,SCM,SEM 製品分野:パワーデバイス 分析目的:故...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 偏光顕微鏡法による定性定量分析 製品画像

    偏光顕微鏡法による定性定量分析

    各種光学特性を利用し、分析精度が向上

    現在、日本国内では偏光顕微鏡を用いたアスベストの分析はまだあまり知られていませんが、諸外国では当方法が一般的であり弊社でも先駆けてこの技術を取り入れ、判定判断の一助としています。...偏光顕微鏡を使用した際の特異的光学特性としては ①複屈折 ②消光位 ③伸長性 ④多色性 等があり、これらの結果を総合して判定を行う為、より精度の高い分析を行うことが可能となります。...

    メーカー・取り扱い企業: 環境リサーチ株式会社

  • 免疫電顕法 製品画像

    免疫電顕法

    タンパクなど細胞内高分子の局在を免疫法により解析します。

    蛍光やレーザー顕微鏡では追いきれない細胞内のタンパクなどの局在を、免疫電顕法で解析します。...蛍光やレーザー顕微鏡では追いきれない細胞内のタンパクなどの局在を、免疫電顕法で解析します。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • [SIM]走査イオン顕微鏡法 製品画像

    [SIM]走査イオン顕微鏡法

    高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能

    ・高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能(Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る(SIM:4nm, SEM:0.5nm) ■MST所有装置の特徴 ・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能 ・FIB(集束イオンビーム)加工との組み合わせで連続的な断面SI...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【会社案内】株式会社日新環境調査センター 製品画像

    【会社案内】株式会社日新環境調査センター

    私たちが見つめる先は、地球と人の未来。広い分野で高い調査・分析結果を提…

    ベスト診断 ・設計図書による事前調査、現場目視による事前調査 ■建材中のアスベスト分析 ・吹付け材・成形材等の定性・定量分析、天然鉱物中の石綿含有率分析、  分散染色法、X線回折法、偏光顕微鏡法 ■空気中のアスベスト測定 ・位相差顕微鏡法、分散染色法、偏光顕微鏡法、  EDS検出器付き走査型電子顕微鏡法 <土壌・廃棄物分析> ■工場跡地等の土壌汚染調査 ■河川・運河・港...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日新環境調査センター

  • 【設備紹介】物理・化学分析 製品画像

    【設備紹介】物理・化学分析

    ICP発光分光分析やガスクロマトグラフィー装置など!さまざまな金属とオ…

    当社で保有している「物理・化学分析」についてご紹介いたします。 電子プローブマイクロアナライザー(EPMA)のほか、 走査型電子顕微鏡(SEM)や微小部X線応力測定装置(PSPC)を保有。 さまざまな金属とオイルの分析評価が可能です。 詳細については、お気軽にご相談ください。 【代表例(一部)】 ■金属破壊解析 ・SEM(走査型電子顕微鏡) ■金属組織調査 ・金属顕微...

    メーカー・取り扱い企業: ジヤトコエンジニアリング株式会社 本社

  • [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 製品画像

    [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法

    ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

    TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能 ・FIBで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能 ・オプション機能を組み合わせること...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • アスベスト分析 製品画像

    アスベスト分析

    低コスト+短納期、層別に結果をご提供!石綿除去方法の選定にご活用くださ…

    年間約14000検体「アスベスト分析」の実績があります。 日本作業環境測定協会及び日本環境測定分析協会に登録されており、 高い技術を持ったスタッフが在籍。同一試料を2名でクロスチェックし、 日環協インストラクターが最終検査します。 “JIS A 1481-1”“JIS A 1481-2”“JIS A 1481-3”“JIS A 1481-4”の 全ての分析方法に対応。定量分析で3...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アサヒテクノリサーチ

  • 静電破壊した橙色LEDの不良解析 製品画像

    静電破壊した橙色LEDの不良解析

    良品と静電気(ESD)破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光…

    当社では、静電破壊した橙色LEDの不良解析を行っております。 ESD試験にて破壊され、発光強度の低下したLEDはエミッション発光と IR-OBIRCH法を用いて解析し、不良現象を明らかにすることが可能です。 「良品と静電気(ESD)破壊品の輝度と特性比較」や「エミッション 顕微鏡による発光解析」などの事例がございます。 【解析例】 ■良品と静電気(ESD)破壊品の輝度と特性...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【分析事例】SiCパワートランジスタリーク箇所の成分分析 製品画像

    【分析事例】SiCパワートランジスタリーク箇所の成分分析

    Slice&Viewで特定したゲート破壊箇所で拡大観察やEDX分析が可…

    裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについてSlice&Viewを行い、破壊を確認した箇所で拡大観察とSEM-EDX分析を行いました。反射電子像で明るいコントラストが見られる場所では、SiやNiの偏析が確認されました。リークによる破壊に伴い、SiやNiなどが一部偏析しているものと考えられます。 測定法:Slice&View・SEM-EDX・EMS 製品分野:パワーデバ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析 製品画像

    技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 CNFを扱う研究開発のうち、ほぼすべての材料分野、研究フェーズで電子顕微鏡を用いた観察は必要な評価となっている。特にポリマー中に分散するCNFをTEM観察するためには、これまで高分子材料のTEM試料作製を実施する上で不可欠であった「電子染色」の技法を駆使する必要がある。今回、CNFを用いた複合材料の形態観察事例を紹介すると共に、CNF自体の観察事例、構造解析例として13C核 固体NMR...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 蛍光顕微鏡法による簡易判定 製品画像

    蛍光顕微鏡法による簡易判定

    アスベスト繊維の発光により、より分かり易い計測が可能です。

    蛍光顕微鏡を用いたアスベストの分析法は、日本国内ではあまり一般的ではありませんが、繊維が光って見える事により、通常の方法では分かりにくい細い繊維でも、より分かり易くなります。...アスベスト繊維に特異的に結合するタンパク質試薬を使用することにより、結合したタンパクが蛍光を発するため繊維が光って見え、細い繊維でも分かり易く、アスベスト繊維含有の有無を簡易的に判定する事ができます。...

    メーカー・取り扱い企業: 環境リサーチ株式会社

  • [ED]電子回折法 製品画像

    [ED]電子回折法

    EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を…

    EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です。 ・物質の結晶学的情報が得られます。 透過電子顕微鏡の場合、単結晶では規則正しく並んだ回折斑点(スポット)、多結晶では同心円状の円環、非晶質ではブロードな円環状の電子回折図形となります。 ・透過電子顕微鏡で観察される微小領域の結晶構造を調べることができます。 ・結晶構造とEDX法での元素分析結果とを組...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 初心者向けオンライン講座(e-learning)【形態観察】 製品画像

    初心者向けオンライン講座(e-learning)【形態観察】

    形態観察を基礎から学びたい方向きの講座です。 SEM、TEM、球面収差…

    形態観察を基礎から学びたい方向きの講座です。受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 形態観察手法について ・  走査型電子顕微鏡(SEM):原理、試料作製法、分析例 ・  透過型電子顕微鏡(TEM):原理、試料作製法、分析例 ・ 球面収差補正走査透過型電子顕微鏡:原理、分析例 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • [AFM]原子間力顕微鏡法 製品画像

    [AFM]原子間力顕微鏡法

    ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

    AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能...■使用する探針 シリコン単結晶ウエハを加工して作られた鋭い探針で試料表面を走査します。先端径は10nm未満にまで加工されています...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • EMS分析(エミッション顕微鏡法) 製品画像

    EMS分析(エミッション顕微鏡法

    故障箇所を迅速に特定

    EMSは、半導体デバイスの異常動作に伴い発生する微弱な発光を検出することで、故障箇所を迅速に特定できる手法です。EMMS、PEM、EMIとも呼ばれます。 ・測定波長領域(可視域から近赤外域)に対して透明な材料のみ評価可能 ・クラック・結晶欠陥・ESDによる酸化膜破壊・Alスパイクによるショートなどの内部の欠陥を低損傷で捉えることが可能...発光源としては、空間電荷領域でのキャリアの電界加速...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • Arイオンミリング加工 製品画像

    Arイオンミリング加工

    機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

    Arイオンミリング法とは、機械研磨を行った後、低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です。...1.貼り合わせ サンプル同士もしくは支持基板とを接着剤で貼り合わせます。 2.切断 数mmの厚みで切り出します。 3.研磨 機械研磨を行い、貼り合わせ界面が中心になるように薄くします。 4.Arイオンミリング ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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