顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計フォトンプローブ

極めて微少な変位量を、レーザ光を用いて非接触で計測！過渡応答現象測定に適した、光ヘテロダイン変位計

光ヘテロダイン変位計の１プローブ１出射型のプローブを
顕微鏡鏡筒上部に設置し、顕微鏡による観察と同時に変位量を測定する
顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計

【特徴】
○被測定物の測定点をピンポイント
○被測定物状態観察と並行計測可能
○落射照明系、CCDカメラを取りつけ通常の顕微鏡として
　被測定物を視認すると共にCCDカメラを用い
　ディスプレイ（CRT）上で被測定面状態を観測
○ステージ上に様々な装置を取り付けることも可能
○ステージに自動ステージを取り付けることで、自動化することも可能
○手動ステージか自動ステージかで構成の大きさが異なります。
○ヘテロダイン変位計の選択はHV400,HV250いずれも可能

●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。

基本情報顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計

価格情報	-
納期	お問い合わせください
型番・ブランド名	HVM-４０0、HVM-２50
用途／実績例	【用途】 ○微少形状物の変位量分布測定 ○面粗さ・うねり分布測定 ○全体像と微少部分の変動の関連性・相関測定 ○全体像の観察と測定の同時進行