エルボ・ベンド管用部材『スーパーエルボ』＜導入実績付き資料進呈＞

PR摩耗や閉塞のトラブルを減少させ、メンテコストを削減。既存システムを変更…

『スーパーエルボ』は、配管コーナー部に設置することで、 空気輸送における摩耗・閉塞・粒子変形などの問題を防げる配管部材です。 出入口の間に設けた窪み内で空気と粉体粒子が緩やかに回転することにより 管壁への輸送物の衝突を抑制でき、配管の長寿命化を実現。 取付寸法が小さく、省スペースに設置が可能です。 当社は他にも、粉体や粒体等を水平・垂直・傾斜など 様々な方向に輸送できる「チュー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社山本工作所

【2024年5月22日～24日】2024NEW環境展出展のご案内

PR取組内容と各製品をご紹介。ブースにて実機デモを実施予定！

この度、5月22日より東京ビッグサイトで開催される国内最大級の 環境製品の展示会「2024NEW環境展」に弊社の製品を出展します。 飲料容器再資源化システム『ペトリス』『リサイクル4』を展示し、 飲料容器を選別・圧縮する実機デモを実施予定です。 【出展概要】 ■会期：2024年5月22日(水)～24日(金) ■時間：午前10時～午後5時(最終日は午後4時まで) ■会場：東京ビ...

メーカー・取り扱い企業： 日工株式会社 事業本部

技術情報誌 202304-01 エリプソメトリーを用いた薄膜評価

エリプソメトリによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁…

を測定し、光学定数（屈折率・消衰係数）や膜厚を評価する手法として知られている。2021年に導入した高速分光エリプソメトリーM-2000UIによる、PVA膜スピンコート直後の経時変化とシリコン絶縁膜の傾斜エッチング評価について解析例を紹介する。 【目次】 １. はじめに ２. エリプソメトリーについて ３. PVA膜スピンコート直後の経時変化 ４. シリコン絶縁膜の傾斜エッチング評価 ５...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

【分析事例】コアシェル構造の3次元形状評価

高分解能EELSトモグラフィー

トモグラフィーは、試料を連続的に傾斜させて撮影した多数の投影像をコンピュータで画像処理し、3次元的内部構造を再構成する手法です。粒子など表面積・体積の算出も可能です。 Csコレクタ付きSTEMで0～180度のEELSマップ連続傾斜像...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

EBSD分析（電子後方散乱回折法）

容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

約60～70°傾斜した試料に電子線を照射すると、試料表面から約50nm以下の領域の各結晶面で回折電子線が作られます。この後方散乱電子回折を解析することで結晶性試料の方位解析の情報が得られます。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

受託解析コンサルティング

経験豊富な技術力＋コミュニケーションカでお客様の業務改善に貢献いたしま…

コーティング ・スロット、スライド、カーテン、スピン、ロール、ディップなど ■マイクロフルイディクス ・電気浸透・泳動、誘電泳動、医療機器、ジュール熱 ■鋳造 ・高圧ダイカスト、重力鋳造、傾斜鋳造、ロストフォーム鋳造、遠心鋳造、ショットスリーブ＆ラドルなど ■攪拌 ・ギヤ、オイル攪拌、ミキサー、スターラー、インペラ、ローテーターなど ■はんだ付け ・フロー、リフローなど ■水理...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ポセイドンCAE

【分析事例】Siウエハベベル部の汚染評価

金属成分と有機成分を同時に評価可能です

半導体デバイス製造において、歩留まり向上の観点から、ウエハの裏面の清浄度向上に加え、ウエハのベベル部に残留する物質を除去することが求められています。今回、ベベル傾斜面のTOF-SIMS分析を行い、汚染の分布を評価しました（図2）。また、付着物と正常部・汚染源のマススペクトルを比較し、付着物は汚染源の金属（Cr）成分・有機物成分と一致していることがわかりました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST