JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社本社
最終更新日：2018-04-27 11:38:56.0
ミクロトームによる受託サービスカタログ
基本情報ミクロトームによる受託サービスカタログ
切削技術で機械研磨より高精度な試料調整を実施します。
光学顕微鏡、電子顕微鏡での観察に用いる試料調整の一つであり、目的に応じたミクロトームでの試料調整を受託にて実施致します。試料調整方法は研磨法・切削法・FIB法などありますが、ミクロトームでは広範囲での対応が可能な切削法を用います。
ミクロトームによる切削試料調整は機械研磨と比べると精密に加工ができる反面、観察目的により様々な技術が必要になります。JTLでは豊富な経験・知識を基に、目的に合わせた最適な試料調整サービスをご提供致します。
分析サービス｜JTL
精密研磨やイオンミリング、FIBなどによる高度な試料調整から、SEMやEPMAなどを用いた観察分析まで一貫して対応しています。
また、SATやＸ線ＣＴによる非破壊の内部構造観察も対応可能です。化学分析では、FT-IRやICP、GC、HPLCなどによる対象成分の各種分析を行います。 （詳細を見る）
ミクロトームによる受託サービス｜JTL
光学顕微鏡、電子顕微鏡での観察に用いる試料調整の一つであり、目的に応じたミクロトームでの試料調整を受託にて実施致します。試料調整方法は研磨法・切削法・FIB法などありますが、ミクロトームでは広範囲での対応が可能な切削法を用います。
ミクロトームによる切削試料調整は機械研磨と比べると精密に加工ができる反面、観察目的により様々な技術が必要になります。JTLでは豊富な経験・知識を基に、目的に合わせた最適な試料調整サービスをご提供致します。
LEICA製
EM-UC7
●倍率：9.6～77倍
●観察角度：5°～25°
●カット速度：0.05～100mm/s
●断面厚さ：0～15,000nm （詳細を見る）
取扱会社 ミクロトームによる受託サービスカタログ
JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
●計測領域 製品の精密寸法測定に関わるあらゆるニーズに対し、受託専門機関ならではの幅広い知識・設備力で対応します。 ●試験領域 治具作製から試験前準備、規格・特殊試験にわたりR&Dに関わる信頼性試験をワンストップで対応します。 ●分析領域 解析箇所の特定から試料調整や観察、分析まで、有機・無機問わず一貫した評価をサポートします。
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