株式会社ニューリー・土山
最終更新日：2007-08-06 15:53:21.0
JTAGテストツール（バウンダリスキャンテスト）
基本情報JTAGテストツール（バウンダリスキャンテスト）
JTAGテストツール（バウンダリスキャンテスト）
狭ピッチリードやボールグリッドの出現により、テストプローブによるアクセスが困難になっているCSP、BGA、MCM等のSMTデバイス搭載基板の実装不良を確実に検出します。JTAGテストツールには、ScanExpress TPG（テストプログラム開発ソフト）、ScanExpress Runner（テスト実行ソフト）、ScanExpress ADO（不良解析ソフト）等があり、基板との接続にはコントローラ（I/F)が必要です。
JTAGテストツール（バウンダリースキャンテスト）
●PCベースでバウンダリスキャン・テストパターンを自動生成、検査します。
●半田ブリッジ、オープン等、ピンレベルの不良解析が可能です（スキャンプラス・ ランナーADOオプション）。
●検査機能には以下のものがあります。
・TAP Integrity
・Interconnect
・Buswire
・Cluster
・メモリ、FIFOデバイステスト
技術サポート万全！ 治具まで含め全て引き受けられます。 （詳細を見る）
取扱会社 JTAGテストツール（バウンダリスキャンテスト）
各種基板検査機（インサーキットテスタ、バウンダリスキャンテスタ、n=1チェッカー、V/Iトレーサ等）、ファンクションテスタ、各種テスタ用冶具、インラインプレス機、検査用アクセサリ
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