株式会社アイテス
最終更新日:2023-01-12 17:17:50.0
超音波顕微鏡『SAM』
超音波顕微鏡『SAM』
当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を
ご紹介いたします。
半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の
不具合検出に大変威力を発揮します。
非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、
剥離等の検出ができます。
【仕様(抜粋)】
■パルサーレシーバー:500MHz
■観察手法:反射法/透過法 両観察手法に対応
■音響レンズ/反射法:15,25,30,50,80,100,230MHz
■音響レンズ/透過法:15,25,30,50,100MHz
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
半導体製品の信頼性トータル・ソリューション
【試験・評価・分析・解析】
●信頼性試験
■温度サイクル試験
■冷熱衝撃試験
■高温保存試験
■高度加速寿命試験
■プリコンディショニング
■ホットオイル試験
■In-situ常時測定
■イオンマイグレーション試験
■エレクトロマイグレーション試験
■テストコンサルティンング
●評価試験
■接合強度試験:プル/ シェア試験
■機械的強度試験:振動・衝撃/落下試験/圧縮強度・ズレ強度
■ESD / Latch Up / CDM試験
■電気特性計測
■塩水噴霧試験
●分析・解析
■X線透過観察
■超音波顕微鏡観察
■発光解析(EMS/IR-OBIRCH)
■走査型電子顕微鏡(SEM)
■透過型電子顕微鏡(TEM)
■表面汚染分析(TOF-SIMS)
■異物分析(FT-IR)
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品質技術トータルソリューション
●製品ライフサイクル全般をカバーする総合的な技術サービス
電子部品の品質向上のために必要な開発時の原材料評価、信頼性試験と結果解析、出荷後の故障解析と結果の開発・製造現場へのタイムリーなフィードバック、さらには品質問題解決のコンサルティングまで、製品ライフサイクル全体にわたりご支援します。
●信頼性試験の結果を速やかに解析、速報
信頼性試験での不良に対し、豊富で効率的な解析メニューにより的確でタイムリーな原因特定、考察をご支援します。
●必要なサービスを必要なだけご利用ください
決められた評価計画に基づく試験・検査実施から、問題解決のための評価・解析計画立案、結果解析、原因究明とコンサルテーションまで、必要にあわせて自由にご選択頂けます。
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パワーデバイスのトータルソリューションサービス
■解決する力
知識と技術でかいけつに導くコンサルティング
スピード対応でお客様スケジュールを支援
■つきとめる力
故障個所をピンポイントし可視化する技能
深い洞察力と高度かつ繊細な試料加工技術
■特化した設備
最高180℃での液槽熱衝撃試験
パワー半導体に必須のパワーサイクル試験 (詳細を見る)
パワーデバイスの故障解析
あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の
パワーデバイスに対し最適な前処理を行い
裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。
■解析の前処理-裏面研磨-
各種サンプル形態に対応します。
Siチップサイズ:200um~15mm角
■不良箇所特定-裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析-
IR-OBIRCH解析:~100mA/10V ~100uA/25V まで対応
エミッション解析:~2kV まで対応
*低抵抗ショート、微小リーク、高電圧耐圧不良など幅広い不良特性に対応
■リーク箇所のピンポイント断面観察-SEM・TEM-
予測される不良に合わせてSEM観察・TEM観察を選択し
リーク不良箇所をピンポイントで物理観察/元素分析を実施可能
(詳細を見る)
信頼性保証サービスのご紹介
■高度加速寿命試験 5台
■冷熱衝撃試験 24台
■恒温恒湿試験 22台
■液槽冷熱衝撃試験 3台
■高温保存試験
■耐ホットオイル評価試験
■絶縁抵抗連続モニター評価
■導通抵抗連続モニター評価
■エレクトロマイグレーション連続モニター評価
■マイクロフォーカスX線透過観察
■超音波顕微鏡観察
■ESD評価試験
■CDM評価試験
■万能引張評価試験
■断面(研磨)観察サービス(環境試験前後の評価も可能です)
■太陽電池(結晶シリコン/アモルファスシリコン/化合物/有機薄膜など)EL発光現象
■発熱観察 (詳細を見る)
断面研磨・加工・観察・分析のトータルサポートサービス
アイテスでは電子部品、実装基板、半導体、化合物半導体、パワーデバイス、
フィルム、樹脂成形品、太陽パネル、液晶ガラスなど
さまざまな部品・材料の断面を受託加工作製します。
また作製した断面の観察や分析を行い、不良解析や出来栄え評価などを
受託分析いたします。
【サービス一覧】
■機械研磨
■CP加工
■ミクロトーム
■FIB加工
■半導体拡散層の解析 など
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
信頼性のトータルサポートサービス
アイテスでは、JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、
様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価受託試験を承ります。
電気試験をはじめ、非破壊観察やパワーサイクル試験
などがございます。
【環境試験】
■高度寿命加速試験
■恒温恒湿試験
■冷熱衝撃試験
■液槽冷熱衝撃試験
■In-Situ常時測定信頼性評価試験サービス
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パワーサイクル試験と特性評価
株式会社アイテスでは、シーメンス製(メンター製)のパワーサイクル
試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。
試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。
また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。
パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。
【特長】
■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能
■パワーデバイスの各種観察・測定にも対応
■パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができる
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モジュール試作と熱抵抗評価
株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。
パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際に
デバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有効な方法です。
試作から評価まで対応致します。
ご興味がございましたら、是非お気軽にご相談ください。
【特長】
<パワーモジュールの試作>
■チップの調達からモジュールの組立てまで、一貫して柔軟かつ安価でご提供
■ダイアタッチやTIM材などの評価に好適
<過渡熱抵抗測定>
■パワーデバイス向けのT3Ster(パワーサイクル試験装置 内蔵)にて、
過渡熱抵抗の測定を実施、構造関数の取得と熱解析を行う
■そのデータも用いて、材料間の比較や熱抵抗の算出・不良部の推定などが可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
取扱会社 超音波顕微鏡『SAM』
【解析・信頼性評価事業】 ■電子部品各種データ収集から故障解析までの解析・評価 ■研究開発・製造における原材料評価および特性評価 【検査装置開発事業】 ■太陽光パネル検査・測定器の開発・販売 【電子機器修理事業】 ■産業用機器およびパソコンの修理 【ウェハー加工事業】 ■ウェハー加工サービスおよび販売
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