【GD-OES測定】めっき基板の洗浄評価

当事例集では、『表面分析』にかかる事例をご紹介します。

「めっき基板の洗浄評価（GD-OES測定）」の目的や手法と結果をはじめ、
「XPSによる表面汚染分析」の特長や分析事例、「鉄サビの分析
（ラマン分光分析）」の特長や分析事例など多数掲載。

他にも、解析結果や状態解析、組成測定などご紹介しております。
ぜひ、ご一読ください。

【掲載内容】
■めっき基板の洗浄評価（GD-OES測定）
■XPSによる表面汚染分析
■酸化銅の状態解析（XPS・AES分析）
■鉄サビの分析（ラマン分光分析）
■変色したステンレスの組成調査

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

グロー放電発光分析法(Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し、生じた発光を測定することで試料の組成を分析する方法です。

この事例ではGD-OESによる「めっき工程前の基板洗浄効果調査」を紹介します。

ぜひPDF資料をご一読ください。

弊社では、本事例以外でもめっき関連の分析実績は多数あります。
また、本GD-OESに加えXPS、オージェなどの各種表面分析を行っております。

何かございましたらお気軽にご相談いただければ幸いです。
セイコーフューチャークリエーション 公式HP
https://www.seiko-sfc.co.jp/

※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。 （詳細を見る）