セイコーフューチャークリエーション株式会社 【DL可：XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1
- 最終更新日：2023-12-06 08:13:17.0
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Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD-OES各装置での表面分析および測定事例をご紹介します
当事例集では、『表面分析』にかかる事例をご紹介します。
「めっき基板の洗浄評価（GD-OES測定）」の目的や手法と結果をはじめ、
「XPSによる表面汚染分析」の特長や分析事例、「鉄サビの分析
（ラマン分光分析）」の特長や分析事例など多数掲載。
他にも、解析結果や状態解析、組成測定などご紹介しております。
ぜひ、ご一読ください。
【掲載内容】
■めっき基板の洗浄評価（GD-OES測定）
■XPSによる表面汚染分析
■酸化銅の状態解析（XPS・AES分析）
■鉄サビの分析（ラマン分光分析）
■変色したステンレスの組成調査
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報【DL可：XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1
【掲載内容詳細（抜粋）】
■めっき基板の洗浄評価（GD-OES測定）
・目的：めっき工程前の基板洗浄効果を調査
・手法：GD-OES（グロー放電発光分析）
・結果：ステンレス基板表面のC元素（カーボン）が減少しており洗浄効果を確認
■XPSによる表面汚染分析
〈XPSの特長〉
・試料最表面（数nm）の元素情報を得ることができるため、表面汚染・変色の分析、
表面処理の評価に有効
・元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能
・分析事例
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