【DL可/GD-OES分析・測定】めっき基板の洗浄評価セイコーフューチャークリエーション

GD-OES（グロー放電発光分析）によりNiめっきの膜厚、濃度の分析状態を把握できます。他の表面加工の解析にもご活用ください

グロー放電発光分析法(Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し、生じた発光を測定することで試料の組成を分析する方法です。

この事例ではGD-OESによる「めっき工程前の基板洗浄効果調査」を紹介します。

ぜひPDF資料をご一読ください。

弊社では、本事例以外でもめっき関連の分析実績は多数あります。
また、本GD-OESに加えXPS、オージェなどの各種表面分析を行っております。

何かございましたらお気軽にご相談いただければ幸いです。
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関連リンク - https://www.seiko-sfc.co.jp/analysis-service/case.…

基本情報【DL可/GD-OES分析・測定】めっき基板の洗浄評価

●目的:めっき工程前の基板洗浄効果を調査
●手法:GD-OES（グロー放電発光分析）
●結果:ステンレス基板表面のC元素（カーボン）が減少しており洗浄効果を確認

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