JFE 商事エレクトロニクス株式会社
最終更新日：2023-03-07 10:45:59.0
QIII SM/ST 表面粒子(パーティクル)測定器
基本情報QIII SM/ST 表面粒子(パーティクル)測定器
QIII SM (0.3μm以上)、QIII ST (0.1μm以上) は数秒で粒子を測定
Pentagon Technologies 社が提供するQIII 表面パーティクル検出器（SPD）は現在の表面パーティクルの計測と管理における業界標準となっている製品です。
QIII は表面上の粒子が簡単・迅速に計測でき、クリーニングの手順と基準を定量的に規定できるため、 作業者の勘と経験に頼ること無く粒子管理のバラつきを抑えます。
※ QIII Ultra、Maxの上位互換機。
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
QIII SM/ST 表面粒子(パーティクル)測定器
■ 測定プローブを表面に置き、吸引してパーティクル測定するだけ。
■ 精密洗浄パーツの出荷前・受入時の品質確認
■ 各種製造装置のクリーン維持管理
■ クリーン化が求められる試料表面の洗浄度検査
■ パーティクルに起因したトラブルの低減
■ 表面洗浄度管理・定量化
■ 各種装置メンテナンス回数の低減
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取扱会社 QIII SM/ST 表面粒子(パーティクル)測定器
システムLSIを含むASIC全般、高性能IC用ウェーハ・ファンドリー、放送機器用IC、メモリ、セキュリティ（センサー）関連ICなどの半導体製品及び、電子部品実装関連、デバイス関連、ディスプレイ関連装置、生産システム全体の提案からメンテナンス、業用洗浄設備、計測機器 等。
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