QIII SM/ST 表面粒子(パーティクル)測定器 JFE 商事エレクトロニクス

QIII SM (0.3μm以上)、QIII ST (0.1μm以上) は数秒で粒子を測定出来ます。

■ 測定プローブを表面に置き、吸引してパーティクル測定するだけ。
■ 精密洗浄パーツの出荷前・受入時の品質確認
■ 各種製造装置のクリーン維持管理
■ クリーン化が求められる試料表面の洗浄度検査
■ パーティクルに起因したトラブルの低減
■ 表面洗浄度管理・定量化
■ 各種装置メンテナンス回数の低減

基本情報QIII SM/ST 表面粒子(パーティクル)測定器

Pentagon Technologies 社が提供するQIII 表面パーティクル検出器（SPD）は、現在の表面パーティクルの計測と管理における業界標準となっている製品です。
QIII は表面上の粒子が簡単・迅速に計測でき、クリーニングの手順と基準を定量的に規定できるため、作業者の勘と経験に頼ること無く粒子管理のバラつきを抑えます。

※ QIII Ultra、Maxの上位互換機。

価格情報	お問い合わせ願います。
納期	お問い合わせください
型番・ブランド名	QIII SM/ST
用途／実績例	各種装置の品質保全とダウンタイム低減