JFE商事エレクトロニクス株式会社 ロゴ

JFE商事エレクトロニクス株式会社開発営業部 計測機器営業室

      JFE商事エレクトロニクス株式会社 企業イメージ

      JFE商事エレクトロニクス株式会社 企業イメージ

      半導体デバイスから実装機器、産業用洗浄装置、各種分析機器に至る特長ある豊富な製品の取扱による、存在感の高い技術商社

      弊社は、技術サポート力とシステム提案力を備えたパートナーとしてお客様、仕入先様、ステークホルダーの皆様から信頼される技術商社として着実な歩みを続けております。
      半導体分野においては、ASIC、ASSPなどのLSI製品に加え、モジュールでの提案、ファンドリーサービスなど幅広いソリューションを提供しております。また、お客様のご要求に応じたカスタマイズにも迅速に対応致します。
      実装分野では、製品の高性能・小型・軽量化に対応するため「高速、高密度、高品質」をキーワードとして、優れた電子部品実装関連、デバイス関連、ディスプレイ関連装置を国内外に広く販売すると共に、生産システム全体の提案からメンテナンスに至るまで、お客様の課題解決のための高い品質と優れた精度を備えたトータルソリューションを提供致します。
      環境に配慮した産業用洗浄設備、計測機器もお客様の多様なご要望にお応えすべくラインナップを取り揃えております。
      また、国内のお客様の生産拠点の海外シフト、並びに海外のお客様からのニーズにもお応えするため、中国、マレーシア、タイ、台湾などにおいて販売からサービスまで顧客サポートができる体制を整えております。

      事業内容

      システムLSIを含むASIC全般、高性能IC用ウェーハ・ファンドリー、放送機器用IC、メモリ、セキュリティ(センサー)関連ICなどの半導体製品及び、電子部品実装関連、デバイス関連、ディスプレイ関連装置、生産システム全体の提案からメンテナンス、業用洗浄設備、計測機器 等。

      計測機器営業室では主に海外の最先端の計測器、分析装置、製造装置を取り扱っております。下記分野・用途への適用が可能です。
      *微粒子に関するコンタミネーションコントロールのノウハウとソリューション — 領域は液中、真空中、大気中(表面汚染粒子)
      *微量成分分析、ナノサイズの物質の形状・環境変化に応じた動態観察
       *膜ムラ分布分析
       *マイクロ波分解・合成調製
       *粘度、密度、粘弾性、ゼータ電位測定

      詳細情報

      おすすめ情報

      HIAC液中微粒子計測器『System 9703+ -MC05』 製品画像

      HIAC液中微粒子計測器『System 9703+ -MC05』

      光散乱方式と光遮断方式に同一センサーで対応!メンテも簡単。無料デモ受付中!

      HIAC液中微粒子計測器『System 9703+ -MC05』は、 同一センサー内に光散乱方式と光遮断方式の測定原理を搭載し、 0.5~350μmのワイドレンジな測定に対応できる製品です。 …

      製品・サービス(42件)一覧

      カタログ(41件)一覧

      ニュース(11件)一覧

      JFE商事エレクトロニクスへのお問い合わせ

      お問い合わせ内容をご記入ください。

      至急度必須
      添付資料
      お問い合わせ内容 必須

      あと文字入力できます。

      【ご利用上の注意】
      お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。

      はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら

      イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。

      ※お問い合わせの際、以下の出展者へご連絡先(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されます。

      JFE商事エレクトロニクス株式会社 開発営業部 計測機器営業室