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空間光測定対応！各種光ファイバやLDの他、VCSELのウエハレベル測定も可能です
『PMD002/POL』は、空間偏光子回転方式の偏光消光比測定モジュールです。 コリメートされた入射光の偏光状態を直接測定します。 対物レンズを使用すれば、光ファイバや半導体レーザの出射偏光状…
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～10Wクラス高出力レーザ用高機能型光ビームプロファイル計測・NFP計測用システム
『高出力レーザ用高機能NFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザのNFP計測に 対応した光ビーム形状計測装置です。 光学系は、当社製ハイパワーレーザ用高機能NFP計測光学系M-Scope …
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～10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置
『高出力レーザ用FFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布（ファーフィールドパターン）を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Sco…
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シリコンフォトニクス導波路等の微細構造導波路デバイスの挿入損失を高速・高精度測定可能！
『光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置』は、当社の簡易型光計測用光学系 M-Scope type Jを使用した光学系方式挿入損失自動測定装置です。 光ファイバ計測ポートと同軸観察画像検出器に…
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さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム
『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです…
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光配線基板用多チャンネルポリマー光導波路の量産検査用光導通検査装置
『光テスター（光配線導波路高速導通検査装置）』は、光配線基板用の 多チャンネルポリマー光導波路各チャンネルの導通を高速・高精度で検査する装置です。 測定光一括照射方式と高速導通検査ソフトウエア…
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VCSEL等の発光素子の各種光学特性をウエハレベルで測定・検査！
『ウエハレベル発光素子光学特性測定装置』は、VCSEL等各種発光素子の 電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステムです。 VCSELの特性計測に必要な電気的特性測定のほか、発光ビームプ…
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18mm角大口径フォトダイオードのセンサを使用！広い放射角をカバーできます
『PMD002/IVL』は、半導体レーザやVCSEL等発光素子のIVL特性を 簡単に測定可能な測光モジュールです。 小型軽量のIVL測定センサヘッドは、単体での使用の他、 当社製高機能NFP…
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ハイパワーレーザ用FFP計測光学系M-Scope type HF
【※デモ測定対応可能】高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰！
『M-Scope type HF』は、1～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布(ファーフィールドパターン)計測用光学系です。 専用設計のハイパワーレーザ対応FFP計測光学系＋2次元画像検出…
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専用光学系＋画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用システム
『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール 等のFFP(ファーフィールドパターン：遠視野像)を計測する装置です。 専用光学系＋画像処理方式により、様々な光デバイスの…
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【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできます。
『M-Scope type HS』は、1～10Wクラス高出力レーザのNFP・ 発光ビームプロファイル計測用光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、 2段ビーム…
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光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能！
『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光 モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く 対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。 …
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電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム
『ウエハレベル光素子特性測定装置』は、VCSELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セ…
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高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』
複数の光計測を実現！多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光学系
『M-Scope type I』は、光照射計測・受光計測・光ビームプロファイル計測 等の多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光学系です。 光計測用光ファイバポートと画像処理・解析用…
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ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』
5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光学系
『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル 計測用のNFP計測光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を 反…
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さまざまな電気・光学特性をウエハレベルで測定可能！
シナジーオプトシステムズ株式会社の「VCSEL／LED用ウエハレベル 発光素子計測システム」は、VCSEL／LEDなどの発光デバイスをウエハ状態で 解析するシステムです。 各種測定器との組み…
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モード伝播を迅速に評価・測定するシステム！
『エンサークルドフラックス計測システム』は、エンサークルドフラックス・ 結合パワー計数等ファイバの性能評価において特に重要なモード分布の解析が 可能なシステムです。 光ファイバのNFP（ニア…
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検出器の選択により可視・近赤外まで対応可能！
『M-Scope typeC／コリメート光調整システム』は、専用光学系と、 画像解析による、LDモジュール等コリメート光調整用光学システムです。 本光学系および処理装置を応用し、各種精密位置決…
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ビームスポット観察から高度な光学特性解析まで対応可能！
『M-Scope typeS／NFP計測システム』は、ビームスポット観察から 光デバイスの高度な光学特性解析まで対応可能な、高機能光ビーム観察・ 計測光学系M-Scope typeSとその専用処理…
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各種発光素子・光学モジュールの発光ビーム観察などに最適な製品を掲載！
『シナジーオプトシステムズ株式会社 総合カタログ』は、主に光学機器や 精密機器の開発製造・販売を行うシナジーオプトシステムズ株式会社の 「光ビーム観察・計測光学系光ビーム測定システム」の総合カタロ…
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