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      蛍光X線方式膜厚測定・素材分析器

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      フィッシャー社製の蛍光X線方式膜厚測定器では、オプションにより最大で23層24元素の膜厚測定を可能です。
      また、膜厚測定と同時に合金メッキ等の組成分析、オプションのセルキットを用いればメッキ液の分析も可能です。

      • フィッシャージャパン 製品カタログ 製品画像

        フィッシャージャパン 製品カタログ

        ハンディータイプ、卓上型などの膜厚測定と材料試験機を多数掲載!

        『フィッシャージャパン 製品カタログ』は、膜厚測定器、素材分析器、 微小硬さ試験機、材料試験器の販売・保守サービス等を行う、 株式会社フィッシャー・インストルメンツの製品カタログです。 電磁…

      • 蛍光X線方式膜厚測定器 XULM 製品画像

        蛍光X線方式膜厚測定器 XULM

        測定チャンバの下にX線源と検出器を配置しており、測定物を簡単かつ直接ポジショニング

        X線源と検出器が測定チャンバ―の下側に配置されており、迅速かつ容易なサンプルのセッティングが行えるよう設計されています。 コンパクトな設計ですが、量産品の測定用に設計されており、大きなサンプルを測る…

      • 貴金属用全自動判別分析機器  製品画像

        貴金属用全自動判別分析機器

        貴金属買取ビジネスに最適!専門知識が無くても金・プラチナ等の含有量を正確に分析できます。卓上型エネルギー分散方式蛍光X線分析器

        金・プラチナ・ロジウムめっき品等の貴金属買取ビジネスに新提案! 卓上型エネルギー分散方式蛍光X線分析器 ■□■特徴■□■ ■貴金属全般・金・プラチナ・銀・ロジウム・ホワイトゴールド・ …

      • コンパクト型蛍光X線方式測定器 XANシリーズ 製品画像

        コンパクト型蛍光X線方式測定器 XANシリーズ

        下から照射型でコンパクト設計の蛍光X線膜厚・素材分析装置です。測定物を直接ポジショニング。

        ■ 測定方向が下側から照射されるため、サンプルのポジショニングが容易 ■ シリコンドリフト検出器搭載により、高分解能・高感度な測定が可能(XAN250、XAN252) ■ コンパクト設計 ■…

      • 蛍光X線式測定器『XANシリーズ』 製品画像

        蛍光X線式測定器『XANシリーズ』

        膜厚測定や素材分析用の蛍光X線分析装置!非破壊式で簡単に素早く測定!

        『XANシリーズ』は、貴金属・歯科用合金・ホワイト ゴールド・銀・ ロジウムなど、あらゆる宝飾用合金やコーティングを非破壊式で簡単に素早く 測定することができる蛍光X線式測定器です。 わずか…

      • 蛍光X線式測定器『XDALシリーズ』 製品画像

        蛍光X線式測定器『XDALシリーズ』

        非破壊で膜厚測定と素材分析ができる!品質管理や生産管理における測定にも好適!

        『XDALシリーズ』は、微小部品や複雑な構造部品を非破壊で膜厚測定と 素材分析をするのに好適な蛍光X線式測定器です! また、プログラム可能な電動式XYステージを搭載しており、自動測定で 品質…

      • 蛍光X線式測定器の自動化システム『XDV-μ SEMI』 製品画像

        蛍光X線式測定器の自動化システム『XDV-μ SEMI』

        お客様に合わせたカスタマイズが可能!クリーンルーム環境にも適用します!

        『XDV-μ SEMI』は、微小部膜厚測定にすぐれたエネルギー分散型 蛍光X線測定装置です。 当製品の測定では、信頼性のある高精度な測定が可能なため、ナノスケールの UBMメッキ、C4はんだ…

      • 『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』 製品画像

        『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』

        集光レンズタイプの蛍光X線式測定器!回路基板や微細構造部分の分析・測定に特別設計されたモデル!

        『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』は、大型プリント回路基板と 部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された 集光レンズタイプ蛍光X線式測定装置です。 …

      • 蛍光X線式測定器『XDLシリーズ』 製品画像

        蛍光X線式測定器『XDLシリーズ』

        簡単に膜厚測定と素材分析ができる汎用性の高い膜厚測定・素材分析装置です。

        『XDLシリーズ』は、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。 当シリーズは、量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析に好適な装置です。 高精度かつ長期安定性をもち、…

      • フェライト組織量の測定器『FERITSCOPE FMP30』 製品画像

        フェライト組織量の測定器『FERITSCOPE FMP30』

        オーステナイト鋼とデュープレックス鋼におけるフェライト組織量を測定!

        『FERITSCOPE FMP30』は、フェライト組織量を簡単に高精度で 測定することができる測定器です。 フェライト量が少なすぎる場合は、溶接部分が高温でひび割れの可能性が出てきます。フェラ…

      • 『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』持ち運び可能! 製品画像

        『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』持ち運び可能!

        高精度かつ高い検出感度!現場で素早く非破壊で検査します【携帯可能な蛍光X線式の膜厚測定・素材分析機器】

        『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』は、携帯可能な蛍光X線式の 膜厚測定および素材分析機器です。 シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度を実現。 品質管理、受け入…

      • 蛍光X線測定装置『X-RAY XULM』 製品画像

        蛍光X線測定装置『X-RAY XULM』

        コンパクトで測定サンプルセッティングが簡単な蛍光X線測定装置

        『FISCHERSCOPE X-RAY XULM』は、X線源と検出器が測定チャンバーの 下側に配置されており、迅速かつ容易なサンプルのセッティングが 行えるよう設計された蛍光X線測定装置です。 …

      • インライン測定システム『X-RAY 5000』 製品画像

        インライン測定システム『X-RAY 5000』

        大きな測定エリアを持つ量産品の薄膜測定や合金分析を連続して行うシステム!

        『FISCHERSCOPE X-RAY 5000』は、大きな測定エリアを持つ量産品の 薄膜測定や合金分析を非破壊で連続して行うシステムです。 再現性精度は、大きな測定面積、半導体ディテクター、…

      • 蛍光X線測定器『X-RAY 4000シリーズ』 製品画像

        蛍光X線測定器『X-RAY 4000シリーズ』

        量産工程に組み込む測定オートメーションシステム

        『FISCHERSCOPE X-RAY 4000シリーズ』は、生産ラインの現場にて インライン測定できるよう設計されたエネルギー分散型蛍光X線測定器です。 連続した量産工程に組み込んで測定する…

      • 蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』 製品画像

        蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

        ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線式測定器!

        『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルで…

      • 蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』 製品画像

        蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』

        電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能です。

        『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適…

      • 蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』 製品画像

        蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』

        新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!高性能で万能型。研究開発、工程解析、実験室などに好適!

        『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や 微量分析ができる蛍光X線式測定器です。 大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検…

      • ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』 製品画像

        ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』

        新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!薄膜・多層メッキを短時間で測定!

        『X-RAY XDV-μ』は、汎用性が非常に高いエネルギー分散型蛍光X線 測定装置です。 非常に小さい部品や構造部分、複雑な多層膜を、非破壊で膜厚測定と 素材分析が可能。さまざまな測定におけ…

      • 蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』 製品画像

        蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』

        新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!プリント回路基板やコネクターの複雑形状を短時間で測定が可能

        『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μLD』は、複雑な形状をより容易に測定 できるよう、測定距離をより長く設計されたロングディスタンスタイプの ポリキャピラリ集光レンズ搭載蛍光X線測定…

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