アドバンスマテリアルズテクノロジー株式会社 【CMP用テストウエハ】3D ILD Pattern wafer
- 最終更新日:2019-04-19 17:23:11.0
- 印刷用ページ
CMP研究・開発用途に大変有用! 高段差のパターンも用意あり
アドバンスマテリアルズテクノロジーでは、
テスト用ウェハの中でも特に、成膜・CMP・洗浄・エッチング・TSVの
研究開発に必要な先端の技術を盛り込んだウェハを供給しています。
画像はHDP、SiN on Si の例です。
200mm 300mm にて対応可能です。
対応膜種はご希望によりご相談ください。
高段差のパターンもご用意があり、
CMP研究・開発用途に大変有用です。
※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。
基本情報【CMP用テストウエハ】3D ILD Pattern wafer
【サービスについて】
当社では、製品の迅速な供給、安定供給、より安価での供給を目標に、
各種ご要望に応じたウェハの提供、販売をしております。
■各種評価用パターンウェハ、成膜ウェハの販売
■使用済みシリコンウェハの回収とリサイクル
■各種分析、解析の受託
アメリカ・ヨーロッパ・韓国・台湾などに優秀な調達先を有し、
お客様により良い品質のウェハを安定してご提供できるよう
体勢を整えております。
※詳しくはお気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯 | お問い合わせください |
---|---|
納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ※詳しくはお気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ【CMP用テストウエハ】3D ILD Pattern wafer
取扱企業【CMP用テストウエハ】3D ILD Pattern wafer
【CMP用テストウエハ】3D ILD Pattern waferへのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。