超高安定性二次元分光干渉計 GEMINI 2D 日本レーザー

過渡吸収分光測定を先進の2次元分光装置に変換します

〇コンパクトで軽量(180mm x 180mmフットプリント、0.4kg)
〇UVから近赤外までの選択波長範囲においてOPAやNOPAをサポート
〇吸収スペクトルのためのポンプ・プローブ分光法
〇グレーティングも入力/出力スリットも無い、1cmのクリアーアパーチャーにより高スループット実現
〇お客様がお持ちの既存の光学系に容易に結合が可能
〇頑丈で堅牢なデザイン
〇ドライバーを含めた完全な一体型
〇世界中で迅速なサポート

NIREOS社のGEMINI-2Dは、過渡吸収分光測定を最先端の2次元分光装置に変換しする、コンパクト・軽量で安定性に優れた干渉計です。フェムト秒レーザーパルスの入力光を2つのレプリカ間の時間遅延を制御することにより、比類なき安定性と堅牢性を備えています。

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基本情報超高安定性二次元分光干渉計 GEMINI 2D

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型番・ブランド名	超高安定性・二次元分光干渉計 “GEMINI 2D”
用途／実績例	干渉計

取扱企業超高安定性二次元分光干渉計 GEMINI 2D

株式会社日本レーザー

【取扱製品】 ■レーザー海外より多くの種類のレーザー製品輸入し、あらゆる業種・用途でのお客様の要望に適応できるよう多彩な製品をラインナップしております。 ■ レーザー周辺機器・アクセサリーオプトメカニクス、オプトエレクトロニクス、除振台、光学部品・変調素子、ビームプロファイラー、パワーメーター、ガルバノスキャナ、保護メガネ等。 ■計測応用装置レーザー光を中心に、光を活用した工業計測・解析装置、粒子径分布測定、流体のベクトル測定、非接触測定による各種の最先端機器をご用意。赤外カメラを始めとした画像処理関連の機器・装置 ■加工応用装置描画装置、切断、穴開け、抵抗体のトリミングから、溶接、半田付け、一般加工から半導体製造向けまで