株式会社日本レーザー 原子間力顕微鏡
- 最終更新日：2024-04-19 15:46:19.0
- 印刷用ページ
C-AFMやKFM、sMIMなどの測定モードで最大100mm角のサンプルに対応
導電性AFM、ケルビンプローブフォース顕微鏡法（KFM）、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法（sMIM）などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応。
■サンプルサイズ ：最大100 mm角
■ステージ移動距離 ：100 mm
■XY走査範囲 ： 100 μm (製造寸法公差 +/- 10%)
■Z走査範囲 ： 9 μm (製造寸法公差 +/- 10%)
■XY走査分解能 : 24ビット制御 – 0.06 Angströms
■Z走査分解能 : 24ビット制御 – 0.006 Angströms
■ノイズレベル ：Typ : <0.01 mV RMS
基本情報原子間力顕微鏡
※詳しくはお問い合わせください。
| 価格情報 | **お問合せ下さい。 |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | Nano Observer AFM XL |
| 用途／実績例 | ● GaAs層 ● 電磁体構造 ● SRAM |
カタログ原子間力顕微鏡
取扱企業原子間力顕微鏡
-
-
【取扱製品】 ■レーザー 海外より多くの種類のレーザー製品輸入し、あらゆる業種・用途でのお客様の要望に適応できるよう多彩な製品をラインナップしております。 ■ レーザー周辺機器・アクセサリー オプトメカニクス、オプトエレクトロニクス、除振台、光学部品・変調素子、ビームプロファイラー、パワーメーター、ガルバノスキャナ、保護メガネ等。 ■計測応用装置 レーザー光を中心に、光を活用した工業計測・解析装置、粒子径分布測定、流体のベクトル測定、非接触測定による各種の最先端機器をご用意。赤外カメラを始めとした画像処理関連の機器・装置 ■加工応用装置 描画装置、切断、穴開け、抵抗体のトリミングから、溶接、半田付け、一般加工から半導体製造向けまで
原子間力顕微鏡へのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。
