CCTECH Japan 資料無料進呈中！半導体ICテスターの選定方法について
- 最終更新日：2022-04-11 14:38:45.0
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CCTECH 社は海外の半導体ICテスターメーカー。中国に本社を構え、日本にも
サポートセンターをもち手厚いサポートをすることで有名。
現在、パワー半導体のICテスター、アナログミクスト系のテスターから、
ICをテスター部に搬送するハンドラー、プローバーなども開発、製造しており、
日本にてテスターを選定したのち、海外のOSATに量産用テスターを配備する際には、
海外でのサポートも重要。
CCTECH製の装置を使用すると、中国本社より、海外のOSATメーカーを
サポートすることが可能です。
※詳しくは資料をダウンロードいただくか、お問い合わせください。
基本情報資料無料進呈中！半導体ICテスターの選定方法について
海外の装置メーカーを選定するメリットのご紹介。その手法から、ICテスターのスペックをご紹介。
パワー半導体テスタ（P3000)
概要
P3000はパワー半導体製品の電気的特性を検査するのに好適です。2000V/200A、高速、
高精度なテスターで、4サイトまでの同時検査を可能にします。ダイオードやMOSFET、レギュレータ、IGBT、SiCやGaNなどの様々なパワー半導体をサポートしております。
オプションにより、DCテスト以外にも、ACテスト、アバランシェテスト、熱抵抗テスト、RgCgテストを可能にします。
主な機能
■C言語による開発プログラムのため、開発が容易。専用言語の習得の必要なし。
■テストパラメータを変更することにより用意にテスト環境の変更が可能。
■４サイトの同時検査。
■DC/AC/USI/THR/RGCG/CP/対応。（AC以降はオプション装置にて）
■セルフテスト機能搭載。
■pAレベルのリーケージ電流の計測。
■Wafer検査、MAP対応。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | CCTECH |
| 用途／実績例 | パワー半導体向けICテスター。シリコン、SiC、GaNなどの製品、また、MOSFETからIGBTまで幅広くサポートをしております。 |
カタログ資料無料進呈中！半導体ICテスターの選定方法について
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CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 日本法人
事業内容は主に ★半導体ウェハー上で検査するために必要なプローバー、テスター、ハンドラー ★モジュール検査用のデジタル検査装置 ★Wafer上の各ダイがムラなく均一に製造されているか確認できる外観装置。 ★Wafer上の前工程で異物やパーティクルなどを確認する外観装置 などをご提供しております。 製品は、既存で準備している製品から、お客様の要望に基づき、検査装置をカスタム開発することも行っており、スタートアップかつ、若手Engineerが多く活躍する非常に柔軟な対応のできる企業になります。新規工場設立の際の検査装置の導入から、既存ラインで、人的外観検査を行っている部分へ外観検査装置を導入することで、検査の精度を上げつつ、経費を削減できることを可能にします。現在人的に検査をしている作業を自動化させるための製品を提供しております。
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