株式会社ハイブリッジ 極低温電気抵抗測定装置『HCER-100』
- 最終更新日：2023-07-13 10:20:29.0
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多様なサンプルに対応！温度制御可能範囲300K～4.2Kの極低温電気抵抗測定装置！
多様なサンプルに対応しており、最大□10mmのサンプルを計測可能。
多段式輻射シールド及び三段式真空容器構造によりサンプル交換が容易です。
スイッチ一つで室温から極低温まで、温度制御できます。（温度調整には
温度センサー及び温度コントローラ〔オプション〕が必要になります。）
【仕様（抜粋）】
■温度可変サンプルステージ：□10mm 無酸素銅ステージ ネジ型8系統端子台
■冷却機構（空冷式2段式クライオスタッド）
・1段ステージ：3.0W @60K
・2段ステージ：0.1W @4.2K
■温度制御可能範囲：300K～4.2K
■真空容器：三段式真空容器
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報極低温電気抵抗測定装置『HCER-100』
【その他の仕様】
■輻射シールド：多段式輻射シールド
■導入端子
・デバイス計測BNC端子（50Ω）8系統
・温度センサー導入端子 2系統
■支持架台：アジャスタ／キャスタ付き支持架台
■外形寸法：W540×D420×H568m 重量約50kg
■ユーティリティー：所要電力 φ1 AC100V／20A D種アース
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ極低温電気抵抗測定装置『HCER-100』
取扱企業極低温電気抵抗測定装置『HCER-100』
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