パルスパターン発生器ビットエラーテスター日本レーザー

高密度マルチチャンネルのパルスパターン発生器及びビットエラー検出器です。光トランシーバーや光学電子部品での設計、特性評価に最適

高密度マルチチャンネルパルスパターン発生器・ビットエラーテスター
光学電子部品や光トランシーバーでの特性の評価、テスト、設計用のパルスパターンを高密度かつマルチチャンネルで発生させます。またビットエラー検出することが可能です。電気信号試験装置と光学試験装置を組み合わせることで、製造環境におけるエンドツーエンド（end to end）のトランシーバーの検証を効率的に行うことができます。

●ビットエラーレートテスタ BERT 1000 シリーズ
最大14.5Gb/sのデータレートにおける光トランシーバー、光電気部品の設計・特性評価・製造向けの4チャンネルのパルスパターン発生器（PPG）およびエラー検出器です。

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●PAM4　ビットエラーレートテスタ BERT 1102 シリーズ
8チャンネル PAM4およびNRZパルスパターン発生器（PPG）およびエラー検出器。最大29Gbaudのシンボルレートでの光トランシーバおよび光学電子部品の設計、特性評価、製造に使用いただけます。

基本情報パルスパターン発生器ビットエラーテスター

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用途／実績例	●光トランシーバー製造テスト ●高速SerDes、クロック・データ・リカバリー、レーザードライバーのテストと特性評価

取扱企業パルスパターン発生器ビットエラーテスター

株式会社日本レーザー

【取扱製品】 ■レーザー海外より多くの種類のレーザー製品輸入し、あらゆる業種・用途でのお客様の要望に適応できるよう多彩な製品をラインナップしております。 ■ レーザー周辺機器・アクセサリーオプトメカニクス、オプトエレクトロニクス、除振台、光学部品・変調素子、ビームプロファイラー、パワーメーター、ガルバノスキャナ、保護メガネ等。 ■計測応用装置レーザー光を中心に、光を活用した工業計測・解析装置、粒子径分布測定、流体のベクトル測定、非接触測定による各種の最先端機器をご用意。赤外カメラを始めとした画像処理関連の機器・装置 ■加工応用装置描画装置、切断、穴開け、抵抗体のトリミングから、溶接、半田付け、一般加工から半導体製造向けまで