X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】クオルテック

より良い観察の提案が可能！高い透過力と解像度を併せ持つX線CTを導入

自動車の電装化が進むにつれ、部品の採用車種や一台当たりの搭載部品点数が
飛躍的に増大し、開発段階においては、試作品の評価工数の短縮が、ますます
要求されています。

試作品の製造品質確認や信頼性評価は、破壊解析によるものが主流でしたが、
工数もかかるうえに、問題が無かったとしても、一度破壊してしまった試作品や
市場不良・工程不良品を元に戻す事は出来ません。

そこで、非破壊のままでも多くの有益なデータを得たい、直接目視できない
モジュール内部の出来栄えを確認したい、信頼性試験による劣化調査を行いたい、
といった要望が高まっています。

”クオルテック　名古屋品質技術センター”では、高い透過力と解像度を併せ持つ
X線CT「FF35」を導入。より良い観察の提案が可能です。

【特長】
■内部構図を立体的に把握でき、任意箇所の断面画像を得られる
■二つのX線管を併せ持つCTシステム
■150nmまでの微細構造を認識できる高解像度観察が可能
■積層物のCTに適したヘリカルスキャン機能も搭載

※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報X線CTを使った非破壊解析【STEP/STLファイル作成も対応】

【装置スペック】
■管電圧：225kV/190kV（X線管を2台搭載）
■認識解像度：≦4μm/≦150nm
■最大サンプルサイズ：直径300×高さ500mm
■最大サンプル重量：30kg
■寸法測定精度：8μm＋L/75mm（サンプル長さ）
　（VDI/VDE2630-1.3規格準拠）

※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯	お問い合わせください
納期	お問い合わせください
用途／実績例	【主な分析用途（一部）】 ■はんだ接合部の状態観察（ボイド、クラックの有無） ■電子部品や電子機器内部の損傷状態調査 ■パワーモジュール等の内部構造解析 ■3D観察データを、STLデータに変換することが可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。