株式会社クオルテック 冷間CP(クロスセクションポリッシャ)技術

熱負荷試験後の試料や熱に弱い素材、試料をもCP加工可能としました!

当社の「冷間CP(クロスセクションポリッシャ)技術」についてご紹介します。

一般のCP加工機と同じく、試料を応力無しに断面研磨できることはもちろん
ですが、試料を冷却しながらの加工や、完結式ビーム照射による加工により、
通常CPで発生する熱負荷を押さえることができ、熱に非常に弱い物質や熱変成
が考えられる食品などの断面試料作成が可能。

また、導入したCP機は照射間欠機能を備え、通常加工+間欠、冷却加工+間欠
など、試料に好適な加工方法を選ぶことができます。

【対象材料・材質(一部)】
■微細な組織構造を持つ高分子材料(ゴムなど)
■熱による変形の恐れがある材料(樹脂など)
■熱変成の恐れのある材料(タンパク質、酵素など)
■非常に薄いメッキ膜、塗膜など
■加工中の熱により変形し易い低融点金属(ハンダ等)

※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報冷間CP(クロスセクションポリッシャ)技術

【クライオCP装置仕様】
■ミリングスピード:500μm/h(2時間の平均値、加速電圧:8kV、Si換算、エッジ距離100μm)
■試料ホルダー冷却到達温度:-120℃以下
■試料冷却:-100℃到達時間:60分以内
■イオン光学系
・イオン加速電圧:2~8kV
・イオンビーム径:500μm(半値幅)
■間欠機能(詳細設定有り)

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納期 お問い合わせください
用途/実績例 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

カタログ冷間CP(クロスセクションポリッシャ)技術

取扱企業冷間CP(クロスセクションポリッシャ)技術

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株式会社クオルテック

○ビルドアップ基板及びパッケージ基板のレーザ加工 ○電子部品の不良解析・信頼性試験及び新技術の開発 ○品質管理を中心とした工場経営、技術に関するコンサルタント

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