• プリント基板/半導体パッケージ基板用めっき薬品のご紹介 製品画像

    プリント基板/半導体パッケージ基板用めっき薬品のご紹介

    PR【JPCAShow2024】半導体ウエハ、パッケージ基板、フレキシブル…

    奥野製薬工業は、東京ビッグサイト(東京国際展示場)で、2024年6月12日(水)~6月14日(金)に開催されますJPCA Show 2024に出展いたします。 電子機器の普及とともに急速に発展するプリント基板/半導体パッケージ基板。 その高性能化、多機能化に貢献する表面処理薬品とプロセスをご提案します。 その他新技術として、封止樹脂との高い密着性を有する高信頼性粒状銅めっき、リチウムデンドライ...

    メーカー・取り扱い企業: 奥野製薬工業株式会社 大阪・放出、東京、名古屋など

  • 樹脂成形機用洗浄 添加剤タイプ 乳化パージ剤「CORATEX」 製品画像

    樹脂成形機用洗浄 添加剤タイプ 乳化パージ剤「CORATEX」

    PR色替え、樹脂替え、およびロングラン成形の炭化物除去に

    プラスチック射出成形機のシリンダー、スクリューを分解せずに、 シリンダー内の不純物を除去する洗浄剤です。 ...【特徴】 ◯特殊研磨剤と界面活性剤の働きにより、  物理的洗浄と化学的洗浄の相乗効果で不純物を除去 ◯顔料、樹脂の残留物、錆などの堆積物を除去する性能に優れる ◯特殊研磨剤は潰れながらシリンダー内を洗浄するため、  めっき加工したスクリューなどに傷がつくことがない ◯金属...

    メーカー・取り扱い企業: スガイケミー株式会社

  • 蛍光X線式 膜厚測定器 微小部測定用『 XDV-μ 』 製品画像

    蛍光X線式 膜厚測定器 微小部測定用『 XDV-μ 』

    ポリキャピラリX線光学系を採用。微小部の薄膜メタライズ、高機能めっきの…

    【サンプル試測定実施中】 『XDV-μ』は、ポリキャピラリX線光学系を採用した汎用性の高い エネルギー分散型蛍光X線測定装置です。 当製品は、非常に小さい部品や構造部分を非破壊で膜厚測定・ 素材分析に適した測定器です。 【特長】 ●最小10µmの集光レンズを搭載可   従来では測定できなかった微小部の薄膜メッキでも測定が出来ます。 ●検出器には半導体検出器の中でも最高性...

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    メーカー・取り扱い企業: アンリツ株式会社 環境計測カンパニー

  • 蛍光X線式 膜厚測定器  汎用測定器『 XDLM 237 』 製品画像

    蛍光X線式 膜厚測定器  汎用測定器『 XDLM 237 』

    汎用性が高く、電子部品やさまざまな形状のめっき加工品などの膜厚測定や素…

    電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能です。 『XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 操作性も簡単に膜厚測定と素材分析...

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    メーカー・取り扱い企業: アンリツ株式会社 環境計測カンパニー

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