小型連続晶析装置『リアクタライザー』

PR原薬やファインケミカル・二次電池の開発に！閉塞・バックミキシングなく均…

『リアクタライザー』は、結晶生成を効率化する小型連続晶析装置です。 反応管内にテイラー渦流を起こすことで、閉塞やバックミキシングなく、 連続的な強力なせん断攪拌が行なえ、均質な粒径の粒子生成が可能。 また、核の発生や結晶の成長の高速化にも貢献します。 【特長】 ■閉塞なく連続した結晶生成が可能 ■均質な粒径の粒子を生成 ■核発生・結晶の成長スピード向上にも貢献 ■原薬やファ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社徳寿工作所

極性溶媒の濃縮再利用に『BC膜濃縮システム』

PR極性溶媒の水溶液を膜処理で再利用へ。非加熱で省エネルギーな膜による濃縮…

BC膜(*1)濃縮システムは、水溶液を高濃縮できる非加熱で省エネルギーな膜濃縮システムです。 極性溶媒（NMP、DMF、DMSO、DMACなど）の希薄な水溶液を濃度30～40％程度の濃度まで濃縮できます。 BC膜濃縮システムで蒸留器による溶剤濃縮の一部もしくは全部を置き替えることができれば、燃料の大幅な削減が見込まれカーボンニュートラルの一助となります。 これまで廃棄されていた希薄な溶剤の水...

メーカー・取り扱い企業： 東洋紡エムシー株式会社／東洋紡エンジニアリング株式会社

機械部品の確性試験（材質、熱処理、硬度など）

図面指示あるいはJIS規格通りのものとなっているかを"確性試験"により…

【例】 ■対象機械部品：ギヤ ■材質、熱処理：SCM420（表面部：浸炭焼入れ） ＜金属組織観察＞ 　・短評：表面では、（低温）焼戻しマルテンサイト組織を呈しており、特に問題無い 　・判定：合...

メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社

【資料】ラミネートフィルムの複屈折測定

PETとEVAを複合させることによる効果を解説！ラミネートフィルムを用…

ていることが想定されます。 今回は、ラミネートフィルムに対して、熱を加えた条件と加えていない条件を 比較して、製品に残留する応力を複屈折から明らかにすることを試みました。 当資料では、例として、ポリエチレンテレフタレート(PET)とエチレン酢酸ビニル (EVA)で構成されたラミネートフィルムを用いた測定結果を紹介しています。 【掲載内容】 ■DSCによるガラス転移点測定 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

表面処理の特性予測ソリューション

複数の解析ソフトウェアを駆使した表面処理の特性予測ソリューションを提案…

ラズマプロセス装置の解析と表面状態の特性予測をまとめて提供します！ 【解析対象となる物理現象】 ・結合と活性化 ・成膜 ・スパッタや浸食 ・脱離や洗浄　　　など 【評価可能な表面特性例】 ・原料ガスやプラズマの入射量やエネルギー、あるいは浸食/成膜速度の評価 ・物質の原子/分子データに基づきその材料特性を評価 ・入射粒子の表面反応予測 ・処理後の表面粗さ評価 ・処理前後...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ウェーブフロント 本社

BRDF測定受託サービス

BRDF測定承ります！

「ゴニオフォトメータによる散乱測定」 フィルムなどの物質の光学特性（透過散乱測定、反射散乱測定）を、目的に応じた種々の光を当てながら受光器を自動で回転させることによって測定します。 ●測定応用例 ・フィルム、ガラス基板等の透過、反射特性の角度変化の測定 ・BRDF、BTDFの測定...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Camerium

プラスチック、ゴム／柔らかい製品の測定はお任せください！

最短半日見積り／プラスチック、ゴムなどの柔らかい製品測定には非接触型測…

樹脂、プラスチック、ゴム等の柔らかい製品は ノギス等で挟んで測定しようとしても変形したりして ‟測定が難しい” です。 測定者によっても誤差が生じます。特にゴム製のOリングはその代表例です。 当社では、そういった際、非接触型の測定器を使用しています。 画像寸法測定器（キーエンス）／IM-8000は、 画像を用いて測定を行なう非接触式の測定機なので、 対象物を変形させることなく...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社 エージェンシーアシスト 京都本社　営業所(仙台・東京・埼玉・神奈川・浜松・愛知・岐阜・新潟・福井・奈良・兵庫・岡山・福岡)

無機繊維の種別判定

RCFは特定化学物質障害防止規則の対象！施行作業者の安全確保のために適…

造鉱物性繊維の種類を定性することが可能。 また、特定化学物質障害防止規則の対象であるRCFが使用されているか、 製品が仕様通りの材料を使用しているかを調べることができます。 【判定の一例】 ■XRD分析 ■EPMA/WDS分析 ■顕微鏡観察 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社分析センター 第一技術研究所

【設備紹介】精密測定​

三次元測定や形状測定などが可能！さまざまな精密測定ができます

型三次元測定機、非接触3Dスキャナー、真円度測定器や 表面粗さ・輪郭形状測定器などを保有。 さまざまな精密測定が可能です。 測定内容や条件については、お気軽にご相談ください。 【代表例】 ■三次元測定 ■非接触 三次元画像測定 ■真円度測定 ■形状測定 ■非接触 形状測定 ■表面粗さ・輪郭形状測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい...

メーカー・取り扱い企業： ジヤトコエンジニアリング株式会社 本社

【資料】不具合の原因を化学の視点で解決します

不具合の原因を化学の視点で解決！化学、および反応機構でアプローチする方…

当資料では、何が起きているのかを化学、および反応機構で アプローチする方法をご紹介します。 【掲載内容】 ■クラック（割れ）、剥離 ■変色、変形 ■化学反応機構（エポキシ樹脂硬化例） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【資料】反応熱分解によるポリカーボネート劣化解析

材料評価や不良品解析に！分解生成物の違いから、かかった負荷や劣化機構に…

しかし優れた性質を持つポリマーであっても、使用環境や経時変化により 化学変化、いわゆる劣化が生じます。 当資料では、UV照射及び恒温恒湿試験を行ったポリカーボネート材料の 劣化解析例を紹介します。 【掲載内容】 ■ポリカーボネートの反応熱分解GC-MS分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【分析事例】化合物へテロ接合界面歪の可視化

FFTM法による格子像解析

方向の格子歪みの解析、(3)結晶面間隔分布、結晶面方位分布の解析、(4)データ分布のヒストグラム表示、(5)空間分解能5nmで0.5%の歪の検出、が可能です。 化合物ヘテロ接合多層膜試料に適用した例を示します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】ウエットエッチングによる有機付着物除去

表面汚染を除去してXPSによる評価を行います

パッタによるダメージにより膜本来の組成,結合状態が評価できない場合があります。Arイオンスパッタを使用せず、表面酸化層をウェットエッチングを用いて除去することで、有機付着物由来のCの影響を低減させた例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【資料】ICP発光分光分析（ICP-AES）

原子が励起状態から基底状態に戻るときに生じる原子発光を検出し分析を行い…

ICP発光分光分析では、試料中に含まれる金属元素などを複数同時に 検出することが出来ます。 当資料では、液晶中に含まれる微量な金属元素の分析例をご紹介。 ICP-AES分析の原理・概要や測定事例を掲載しています。 サンプルの状態や分析対象の元素など、お気軽にお問い合わせください。 【掲載内容】 ■ICP-AES分析の原理・...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【分析事例】セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価

ppmオーダーの微量金属も評価可能です

析法)やICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析法)などによって評価可能ですが、価数・化学結合状態などといった存在状態の評価には放射光を用いたXAFS(X線吸収微細構造)測定が有効です。本資料では測定例としてセラミックス材料に微量含まれるCeの価数を評価した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

米品種判別検査 ～DNA検査で安心の強化、ブランド保護～

最新品種を含む「全658品種」のDNAデータベースを用いた検査の他、品…

米（飼料用米）にも対応しています。 詳細は「鑑定可能品種リスト」をご覧ください。 ◆加工品も検査可能 玄米や精米はもちろん、葉や種籾、炊飯米や餅などにも対応しています。 ≪加工品のご依頼例≫ おにぎり、お弁当、レトルト米飯、冷凍ピラフ、餅、米粉、ライスミルク ◆全658品種のデータベースによる高精度検査 品種判別では、1）対象品種の原種DNAデータと同一かどうか（同一性）、...

メーカー・取り扱い企業： ビジョンバイオ株式会社

【分析事例】X線吸収・発光分光によるバンド構造評価

材料の価電子帯・伝導帯・ギャップ内準位の詳細な情報が得られます

光を用いたX線吸収分光(XAS)とX線発光分光(XES)の同時測定からはバンド構造の全容が把握できると共に、それらを構成する元素・軌道の帰属といった詳細な情報も得ることが可能です。 本資料では測定例としてGaN基板のXAS・XESスペクトルをご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】Cu表面のXPSによる酸化状態評価

Cuスペクトルの成分分離、定量、膜厚算出

Cu2p3/2スペクトルとCuオージェスペクトル等の解析から、Cu表面の結合状態・定量評価・膜厚評価が可能です。 主な応用例として、Cu配線のCMP処理・洗浄の評価、Cu電極の錆・変色調査が挙げられます。 各種処理を施したCu表面状態および酸化膜厚についてまとめます。 （クリーンルーム環境下にて処理し、直後に測定を行...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】発泡ゴムの引っ張り試験CT測定

サンプル内部の形状変化をin situで測定・解析

試料に応力（引っ張りもしくは圧縮）をかけた状態でX線CTによる内部構造分析を行うことが可能です。 本資料では、発泡ゴムを例として、通常状態と伸ばした状態においてin situ X線CT測定を実施し、取得したCT像から気泡の体積変化を解析しました。 in situ X線CT測定と画像解析技術を組み合わせることで、従来で...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】半導体基板中軽元素の高感度分析

SIMS分析によりH, C, N, O, Fなどを1ppm以下まで評価…

では評価が難しい半導体基板中のH,C,N,Oを1ppm(約5E16atoms/cm3)以下まで、Fを1ppb(約5E13atoms/cm3)以下の濃度まで検出可能です。実際のFZ-Si中における測定例（図1）とIII-V族半導体のバックグラウンドレベルを紹介します（表2）。III-V族半導体以外にも、金属膜・絶縁膜など各種材料で標準試料をとりえ揃えており、高感度な定量分析が可能です。半導体基板な...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】Si基板に含まれる格子間型炭素の評価

Si基板に含まれる微量な炭素の確認が可能です

常に感度良く観測することが可能であり、SIMS分析の下限以下の微量な炭素についての知見を得ることが可能です。 本資料では、イオン注入を行ったSi基板について低温PL分析とSIMS分析を行い確認した例を示します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】高純度雰囲気下での前処理・測定

XPS：X線光電子分光法など

高純度不活性ガス雰囲気下で試料前処理、搬送、測定を行うことで表面酸化、水分吸着を抑えた評価が可能です。 ■適用例 ・半導体電極材料 　剥離面の評価等には二次汚染、酸化の影響を抑えて評価ができます。 ・有機EL材料 　開封から不活性ガス雰囲気下で作業を行うことで、材料の劣化を防ぎます。 ・Li等電池材...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】真空中での有機成分の脱離評価

複合解析により特定の有機成分の脱離について温度依存性評価が可能です

グラフィー質量分析法）とTDSの結果を組み合わせて解析することで、真空中において、特定の脱離成分の脱離温度について評価が可能です。 以下にグラフェンについてTDSとGC/MSの複合解析を実施した例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】化合物積層構造試料のSIMS分析

前処理により化合物層を選択的に除去してから分析が可能

分析することが有効です。本資料では、 InP/InGaAs系 SHBT（Single Heterojunction Bipolar Transistor）試料について、選択的かつ段階的に層を除去した例を示します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】有機多層膜のラマン3Dマッピング

表面からの測定で、深さ方向の成分分布を確認可能です

向の成分分布が確認できます。光を透過し易い物質に有効で、断面加工やイオンスパッタエッチングを併用せず非破壊での評価が可能です。 本資料では、有機多層膜の各層について、ラマン3Dマッピングで評価した例を示します。結果より、有機多層膜は四層で構成されていることが分かりました。また、ライブラリデータとの照合により、各層の成分が同定できました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】反応熱分解GC/MS法によるポリエステルの分析

ポリエステルの詳細な構造解析が可能

系高分子の構造解析を行う際、通常の熱分解GC/MS法では分解生成物が複雑で構造推定に到らない場合があります。このような時、誘導体化試薬を共存させて熱分解を行う、反応熱分解GC/MS法が有効です。本事例ではポリエチレンテレフタレート（PET）をテトラメチルアンモニウムヒドロキシド共存下で熱分解した例を紹介します。通常の熱分解法では多数のピークが観測されたのに対し、反応熱分解法ではモノマー構造を反映...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】極浅注入プロファイルの評価

極浅い領域においてもドーパント分布・接合の評価が可能

オンビームを用いたSIMS分析が必要になります。図1にBF2+ 1keV, P+ 1keV, As+ 1keVで注入されたSiウエハを一次イオンビームエネルギー250eV～300eVを用いて測定した例を示します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】Si-IGBTチップのキャリア濃度分布評価

フィールドストップ層およびライフタイムキラーのSRA評価

SRAでは、キャリアの深さ方向濃度分布を浅い領域（数100nm）から深い領域（数100μm）までの幅広いレンジで分析が可能です。また、試料表面や指定深さにおける抵抗値の面内分布評価も可能です。 一例として、市販品のSi-IGBTチップを解体し、チップ全体/フィールドストップ層/ライフタイムキラーの深さ方向濃度分布評価と、ライフタイムキラー照射深さにおける抵抗値の面内分布評価をSRAで行った事例...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】洗浄リンス液中の有機物残渣量評価

TOCやLC/MS/MSによる評価が可能です！

トグラフ-タンデム質量分析計（LC/MS/MS）を用いた評価が可能です。ここでは、工業用界面活性剤の一つであるNPnEO（ノニルフェノールエトキシレート）についてTOCとLC/MS/MSを用いた評価例を紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】バイポーラトランジスタ（IGBT）の不良品調査

高電圧電源を用いたエミッション顕微鏡による故障箇所の特定

合には、コレクタ電極を除去し、コレクタ側から近赤外光を検出します。 2000Vまで印加可能な高電圧電源を用い、高耐圧で低リーク電流のパワーデバイスを動作させ、エミッション顕微鏡で故障箇所を特定する例を紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】薄膜表面処理後の仕事関数評価

ITO表面プラズマ処理後のUPS分析

らの効果を検証することは重要です。 本資料では、有機ELや太陽電池等の電極材料として用いられるITO（SnドープIn2O3）について、表面プラズマ処理前後での仕事関数変化をUPS分析により評価した例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST