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開発初期の信頼性を向上させたJTAGバウンダリスキャンテスト!
自社開発製品の生産ラインに「JTAGバウンダリスキャンテスト」を採用したお客様の事例をご紹介します。 JTAG対応デバイスのパッケージがBGAの場合とDSP(CPU) + RAM + ROMの形態の基板は、基本的な配線チェックをJTAGテストで確認してからファームウェア担当者に提供。 これにより、基板や部品の実装不良による無駄な開発時間を費やすことがなく、開発効率を上げることができてい...
メーカー・取り扱い企業: アンドールシステムサポート株式会社 自動テストソリューション事業部
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