積層エレメント型スタティックミキサー『Nim』『Rim』

PR配管内に設置するだけで流体を効率よく混合。配管へのねじ込み、フランジ間…

当社は、配管内に設置するだけで高い混合能力を発揮する、 2種類の積層エレメント型スタティックミキサーを提供しています。 『Nim(ニップルミキサー)』は、配管にねじ込むだけで設置でき、 『Rim(リングミキサー)』は、フランジ部分での固定により、さらにスペースを抑えた設置が可能。 混合エレメント構造体による分流と合流の繰り返しで、 効率よく気液混合や二液混合、分散、均一化が行えま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ニクニ 本社、本社営業部、大阪営業所、名古屋営業所、福岡営業所

オートストレーナー／ARSフィルター／自動洗浄・異物ろ過・粗濾過

PR現場ストレーナーの清掃作業や修理交換にかかるコストを大幅に削減する …

ARS (アース) シリーズは現場ストレーナーの清掃作業や修理交換にかかるコストを大幅に削減するオートストレーナー（自動ストレーナー）です。ろ過によって堆積する異物を自動洗浄することで、ストレーナー機能を維持します。 １. メンテナンス費用削減 　・砂濾過装置や熱交換器配管の前処理工程に好適 　・装置の異常や故障リスクを大幅に低減可能 ２. 省力化 　・メンテナンス作業の発生そのもの...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社いけうち

EBSD法による解析例

EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹…

試料を大きく傾斜し電子線を照射したとき、試料が結晶性 の物であれば、試料内で電子線回折が生じます。そのパターンを指数付け することでその点の結晶方位を求めることが可能となります。 結晶方位差を観察することで、結晶粒内の残留応力を推測することができます。 【特長】 ■個々の結晶の方位情報を取得しマップ化 ■結晶方位、結晶粒分布や応力ひずみ等の材料組織状態を調べる ■結晶方位差...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

FIB-SEMによる半導体の拡散層観察

他手法より短納期！FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実…

よって半導体の拡散層を可視化、 形状評価を行いました。 SEMのInlens 検出器によって内蔵電位の違いを可視化した事例では 内蔵電位によりN型とP型領域で発生する二次電子のエネルギーに差が発生。 それによって生まれる軌道の差をSEMの検出器で検出します。 【特長】 ■FIB-SEMによる形状観察と、拡散層観察の両方を実施することが可能 ■他手法より短納期で対応 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】カニカン

長期の使用により破損したカニカンの破断部に関する解析例をご紹介！

BSDによる解析を行いましたので紹介致します。 EDXによる元素分析では、マッピング分析の結果、Pb結晶の 粒界にSbの分布が見られました。 また、EBSD法により結晶粒の配向性や方位差を確認できました。 【解析概要】 ■EDXによる元素分析 ・マッピング分析の結果、Pb結晶の粒界にSbの分布が見られた ■EBSDによる解析 ・EBSD法により結晶粒の配向性や方位差を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】ネジ

ネジ(Cu2Zn)について、EBSDによる解析例をご紹介致します。

EBSD法により結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認する ことができます。 今回はネジの谷部分の方位差が大きいことがわかり、残留応力が 大きいことが推測されます。 また、ネジ表面には粒径の小さい結晶粒が分布している様子も 観察されました。 【概要】 ■解析方法 ・EBSDにて結晶...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス