Enovasense Field Sensor

PR高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレーザーフ…

フランスのEnovasense社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 本新製品は、従来のシングルポイントセンサと異なり、約１１万点を同時に測定できるエリアセンサです。 不透明体の厚みマッピングだけでなく、表面層下の欠陥、欠け、剥がれの有無を検知できます。 ■特長 　・非接触で下記が測定できます。 　　　☆不透明体の厚みマッピング...

メーカー・取り扱い企業： プレシテック・ジャパン株式会社

超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ

PR超高画素カメラによる広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好…

Sony社製 CMOSセンサ(Pregius IMX661/3.6型)を搭載した、1億2700万画素のCoaXPressカメラ「VCC-127CXP6」と、Canon社製CMOSセンサ(Ll8020SAM/APS-H型)を搭載した、2億5000万画素のCoaXPressカメラ「VCC-250CXP1」。どちらも超高解像度を誇り、各種外観検査(液晶・基板・半導体ウエハ・建築物等の欠陥/異物/形状)、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

第一原理計算によるワイドギャップ半導体GaNにおける欠陥準位解析

点欠陥の形成エネルギー、電荷、光学遷移など様々な物性情報が得られます

ギャップ半導体である窒化ガリウム（GaN）は主にパワーデバイスの分野で用いられ、近年では急速充電器や5G通信基地局用途としての需要が高まっています。高信頼性を有するGaNの開発にあたっては、結晶中の欠陥量の低減や欠陥がもたらす電気/光学特性などへの影響の理解が重要です。本資料では第一原理計算を用いてGaN中の窒素欠損（VN）が形成する欠陥準位の解析を行った事例を紹介します。本解析は欠損だけでなく、...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】PL・TEMによるSiCパワーデバイスの結晶欠陥評価

PLマッピングで検出した結晶欠陥の高分解能TEM観察

PL（フォトルミネッセンス）マッピングでは、発光箇所から結晶欠陥位置の特定が可能です。 更に同一箇所を高分解能STEM観察（HAADF-STEM像）を行うことで積層欠陥を捉えることができます。 本事例では、市販のSiCパワーデバイスについてPLマッピング...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ドイツ diondo工業CT測定サービス-繊維複合材料分析

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

【分析事例】プラスチック製グリル表面の欠陥調査

何らかの原因でCuメッキが異常成長！その上にNiメッキが施されたと推察…

当社で行った、プラスチック製グリル表面の欠陥調査についてご紹介します。 表面観察では、欠陥の一部は表面から伸びており、その伸張した突起物が もげたと思われる跡が認められ、その跡の中心はCuでありその周囲にNiを検出。 断面観察で...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

ボイド/内部欠陥/異物抽出 ExFact VR ボイド解析

ボイド/内部欠陥/異物抽出 ExFact VR ボイド解析オプション

『ExFact VR 2.0 ボイド解析オプション』は、 ソフトウェア「ExFact VR 2.0」に別売りで機能追加できるオプション製品です。 鋳造品や樹脂などの三次元画像から内部欠陥や粒子を抽出し、 カラー表示して可視化、解析できます。 是非こちらも併せてご使用ください。 【特長】 ■様々な検出条件の設定により、多様な画像データに対応 ■検出・分類条件も任意に...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

ドイツ diondo工業CT測定サービス-自動車鋳造部品

低価格・高精度・正確な非破壊検査 15万円～/1 検体

15万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-鋳巣分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイク...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

ドイツ diondo工業CT測定サービス-電子部品

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイク...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

［EBIC］電子線誘起電流

試料内部の電界構造（半導体の接合構造）に関する情報を得ることができる手…

電流をEBIC（Electron Beam Induced Current）と呼び、SEM像と併せて取得することでpn接合の位置や空乏層の広がりを可視化することが可能です。 ・ｐｎ接合部や結晶欠陥(転位、積層欠陥など)の評価が可能。 ・SEM像と重ねることで、接合や結晶欠陥の位置を特定可能。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ドイツ diondo工業CT測定サービス-金属材料

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・ナノCT...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

【分析事例】多結晶シリコン太陽電池のPLマッピング

太陽電池セルの欠陥の位置を非破壊で特定することができます

太陽電池に禁制帯幅以上のエネルギーの光を照射するとキャリアが生成し、一部は発光性再結合をします。その際の発光をフォトルミネッセンス（PL）と呼びます。しかし、欠陥が存在する箇所では、キャリアが捕捉されPL強度が弱くなります。このことから、PLマッピング測定をすることで、非破壊かつ簡便に欠陥箇所を特定することができます。多結晶シリコン太陽電池セルにおいて、PL...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

不良発生を抑える！鋳造シミュレーションで欠陥の種類・箇所を予測！

好適な鋳造方案！不良発生率を限りなく抑えた高品質な鋳物造りを目指してい…

当社では『鋳造シミュレーション』を行っています。 鋳造シミュレーションソフトにて、事前に解析し、欠陥の種類・発生箇所・ 程度などを予測。 試作回数等の工程数を減らしつつ不良発生率を限りなく抑えた高品質な 鋳物造りを目指しています。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 前橋橋本合金株式会社 本社･工場

【分析事例】SiCSchottkyBarrierDiodeの測定

SiC中積層欠陥の検出事例

SiCはパワーデバイス用途向けなどに近年盛んに研究・利用が進んでいます。SiCは種々のポリタイプを持つため、積層配置が乱雑になる積層欠陥などが容易に発生するという問題を持ちます。この欠陥の検出法の一つとして、試料を光で刺激した際に放出される光を分析するフォトルミネッセンス（PL）法があります。 マッピング測定を行い欠陥起因の発光を...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ドイツ diondo工業CT測定サービス-積層造形

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

ドイツ diondo工業CT測定サービス-地質学

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

ドイツ diondo工業CT測定サービス-チップ-電子・電気

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイク...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

OBIRCH分析（光ビーム加熱抵抗変動法）

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗が変化することを利用して、異常箇所の特定を行う手法です。 ・配線やビア内のボイド・析出物の位置を特定可能。 ・コンタクトの抵抗異常を特定可能。 ・配線ショート箇所を特定...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

破損調査

組織観察、母材成分調査等を追加することも可能！実績豊富な専門家が調査内…

困った"に 川重テクノロジー株式会社がお応えします。 当社は、お客様の課題解決へ向け、実績豊富な専門家が調査内容を提案。 起点、進展方向、破壊形態の特定等を行う「基本コース」と、起点部欠陥、 組織観察、母材成分調査等を追加することが可能な「詳細コース」をご用意しております。 また、損傷に関する情報を頂ければ、調査に反映可能です。 【ご提案例】 ■基本コース（1～4及び...

メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社

ドイツ diondo工業CT測定サービス-半導体部品

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管： 190-300kV 送信ターゲット X線管： 160～300kV エリ...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

3D技術代行サービス『評価・解析サービス』

最新のスキャン技術とソフトウェアを用いて、形状や内部に発生している不良…

最新のソフトウェアを用いて、欠陥解析や形状評価、非破壊検査など様々な評価・解析が可能です。検査結果は情報を集約したレポートとして提出いたします。 [特長] ■正確なデータを取得 様々なサイズ、材質、形状のワークに対応可能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムクリエイト

SEM前方散乱電子によるGaN欠陥観察

GaNなどのパワー半導体の転位やステップ(微小な段差)、微小方位差が観…

GaNなどのパワー半導体において、原子レベルの欠陥は性能の劣化に影響を及ぼします。EBSD検出器を用いた前方散乱電子の評価により、転位に加えてステップ(微小な段差)や微小方位差の観察が可能となります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

技術情報誌 202001-02 酸化ガリウムの結晶構造解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

頼性、特性改善にはプロセス技術の最適化が必要であり、その評価方法が重要となる。本稿ではエピタキシャル膜の品質評価に必要な結晶構造解析と、デバイス特性への影響が大きいイオン注入プロセスにおける不純物、欠陥、キャリア濃度解析を行った事例を紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．断面TEM、平面STEMによる結晶構造解析 ３　イオン注入プロセス評価 ４．まとめ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定

ミクロンからセンチオーダーの異物・汚れをイメージとして捉えます

液晶パネルの量産化において、欠陥（異物・汚れ)を除去することが求められています。そこで、原因となる異物・汚れが何に起因するか調査することは、歩留まり向上に有効です。 液晶パネルの異物・汚れを評価した事例を紹介します。TOF-SI...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ドイツ diondo工業CT測定サービス-生物医学分野

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 内部構造 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管： 190-300kV 送信ターゲット X線管： 160～300kV エリ...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

EMS分析（エミッション顕微鏡法）

故障箇所を迅速に特定

微弱な発光を検出することで、故障箇所を迅速に特定できる手法です。EMMS、PEM、EMIとも呼ばれます。 ・測定波長領域（可視域から近赤外域）に対して透明な材料のみ評価可能 ・クラック・結晶欠陥・ESDによる酸化膜破壊・Alスパイクによるショートなどの内部の欠陥を低損傷で捉えることが可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

みたれぽ[39]CTスキャンでアセンブリ品がどこまでとれる？

【みたれぽ】内部構造がまるわかり！外から見えないアセンブリがCTスキャ…

そこで今回は、CTスキャン～データを使った解析までやってみました！ アセンブリ品の例としてルービックキューブを使用し、下記を検証。 　1)構造確認：内部がどんな風にとれるのかを確認 　2)欠陥解析：プラスチック成形品内部の巣の有無を確認 　3)実物で確認：ワークを分解し、実際に中身を確認 　「外からではわからない構造がどんな風に見えるの？」 　「製品のCTスキャンってどんなこと...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムクリエイト

【分析事例】イオン注入及びアニール処理を行ったSiの低温PL

照射欠陥やアニールによる結晶性の回復を確認することが可能です

Si系半導体デバイスの作製ではイオン注入やアニール処理といった様々な処理が行われます。これらの処理前後における照射欠陥の度合いや結晶性の回復度合いを確認することは、製造プロセスを制御するにあたり重要と考えられます。低温下におけるフォトルミネッセンス(PL)測定は、これらを調査する際に有効な手段の一つです。 Si基...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【ロストワックス精密鋳造】品質保証

CTスキャンで内部欠陥の場所や大きさなどの傾向確認！当社の品質保証をご…

当社で行っているロストワックス精密鋳造の品質保証について ご紹介いたします。 テストピースを採取し、成分を分析する「材料分析」や超音波検査機器にて 内部欠陥の有無をチェックする「超音波分析」を実施。 また、非接触3Dスキャンで製品形状を確認したり、内部欠陥の場所や 大きさなどの傾向をCTスキャンで確認します。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相...

メーカー・取り扱い企業： エンケイオートモーティブ株式会社

統合リバースエンジニアリングソフト PointMaster

統合リバースエンジニアリングソフト PointMaster 形状比較 …

3D計測で得たデータを形状比較、 CAD、CAEなど様々なシーンで活用できます。 【特長】 ■ひとつのソフトウェアで総合的に処理が可能 ■複数の機能をシームレスに取り扱うことが可能 ■欠陥検出、肉厚評価、三次元計測といった機能を追加 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

３次元寸法・幾何公差測定・形状解析

欠陥部分や歪の傾向などを視覚的に把握する事も可能！形状解析や寸法測定な…

【サービス概要】 ■形状比較評価 ・3DスキャンしたデータとCADモデルを比較する事で、形状や加工精度を確認可能 ・カラーマップにする事により、欠陥部分や歪の傾向などを視覚的に把握する事ができる ■3次元寸法・幾何公差測定 ・ノギスやマイクロメーターなどのアナログ計測器では出来ない寸法測定、断面解析、 　形状や姿勢などの幾何公差を測定する...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ソプラ・クリエーション

技術情報誌 201901-01 Ga2O3膜の分析評価技術

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

れている。デバイス応用に向けた薄膜成長技術の発展とともに、Ga2O3薄膜の分析評価技術の重要性は益々高まると考えられる。本稿では、サファイア基板上に作製したGa2O3膜の結晶構造解析、および不純物、欠陥評価を行った事例について紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．試料 ３．分析結果 ４．まとめ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター