• 御社の課題をお聞かせください!企業ニーズアンケート 製品画像

    御社の課題をお聞かせください!企業ニーズアンケート

    PR信州TLOが貴社のニーズにマッチする技術シーズをご紹介いたします!

    貴社のニーズについて調査させていただき、適切な先生や技術があれば、ご紹介いたします。 また、すぐにマッチする技術がない場合にも、課題に対応する発明が出てきた際にご紹介いたします。 詳しくは、関連リンク先のページをご覧いただき、貴社のニーズをご入力ください。...特になし...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社信州TLO

  • ハイパースペクトルカメラ Hyspex Classic 製品画像

    ハイパースペクトルカメラ Hyspex Classic

    PR可視から近赤外(~2500nm)に対応。高感度・低ノイズでリモートセン…

    HySpexシリーズのハイパースペクトルカメラはフィールド・ラボ・航空システムのアプリケーションにご使用いただくことが可能です。 ■高いS/N比 ■高い空間解像度、フレームレート ■可視、近赤外の波長範囲に対応した製品ラインナップ (400~1000nm/930~2500nm/960~2500nm) ■撮影条件に応じた豊富なアクセサリー  航空機用、ラボ用、フィールド用システムでの...

    メーカー・取り扱い企業: ケイエルブイ株式会社

  • 【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析 製品画像

    【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析

    デバイス内部の構造を複合的に評価します

    MSTでは電子デバイス内部の構造評価に適した技術を取り揃えており、観察視野や目的に応じた分析手法をご提案します。 本資料では、X線CTとFIB-SEMを用いてデバイスの特異箇所を調査した事例を紹介します。まずX線CTを用いてサンプル全体の内部構造を観察し、特異箇所を探索しました。続いて、ビア上に確認された特異的な構造物について、FIB-SEMを用いて詳細な構造を確認しました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】トランジスタ内部の状態評価 製品画像

    【分析事例】トランジスタ内部の状態評価

    デバイス内部の異常を非破壊で評価します

    外観検査では分からないデバイス等の故障原因を調査するために、X線CTをはじめとする非破壊による評価が必要となる場合があります。 X線CTを用いて不具合のあったトランジスタを測定し、内部の状態を確認しました。 その結果、ワイヤーの断線が確認され...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】FT-IRによる樹脂の硬化反応評価 製品画像

    【分析事例】FT-IRによる樹脂の硬化反応評価

    官能基の変化を捉えることで樹脂の硬化度を評価することが可能です

    耐薬品性や電気絶縁性などに優れている樹脂は、様々な電子部品の絶縁体、コーティング剤、接着剤として利用されています。FT-IR分析は、樹脂の硬化度等の不良原因を調査することが可能で、製品開発に有効です。 一例として、エポキシ樹脂の硬化度を評価した事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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