• 超小型・軽量サーモクーラー baby SAMOL SL-1F 製品画像

    超小型・軽量サーモクーラー baby SAMOL SL-1F

    PR驚きの冷却機能を搭載した手乗りサイズの電子冷却装置!サーモ・クーラー

    baby SAMOL SL-1Fは手乗りサイズのサーモ・クーラーです。 こんな小ささで、-5℃を作れます。つまり凍るんです!(外気20℃) 完全電子部品ですので、高精度の温度調節にも好適です。 ◆極めて高い冷却能力。 冷却できる温度は標準品で周囲の温度から約30℃下げる事が可能。 特注品では50℃まで冷却できるものも製作可能です。 また、冷却能力は、入力電力の約40%と高い効率です。 ■用途...

    • babySamol_Banner.png

    メーカー・取り扱い企業: 日本ブロアー株式会社

  • 金属溶接/接合でお困りではありませんか?※溶接手法の説明資料進呈 製品画像

    金属溶接/接合でお困りではありませんか?※溶接手法の説明資料進呈

    PR電子ビーム溶接、TIG溶接・真空ろう付け・トーチろう付け・マイクロTI…

    電子ビーム溶接、ろう付お任せください! 電子部品などの精密溶接のほか、通常溶接のご依頼も大歓迎です! 第2工場稼働により生産能力増強しました。少量~大量まで、小物~大物まで承ります! ヘリウムリーク検査、マイクロスコープで高信頼性溶接に対応しています。 【こんなお困りごとはありませんか?】 ■金属溶接の依頼が初めてで、適した加工方法が分からない… ■精密でなく、通常の溶接を依頼したい… ★そ...

    • 7.jpeg
    • 4.jpeg
    • 4.ステンレス流路 電子ビーム溶接.png
    • 2.png
    • 5.jpeg
    • 8.jpeg
    • 8.ステンレス角型真空チャンバー.jpg
    • 9.EBW 深溶込サンプル.JPG
    • 10.電子ビーム溶接機.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社太陽イービーテック

  • 角度分解HAXPES測定 製品画像

    角度分解HAXPES測定

    HAXPES:硬X線光電子分光法

    HAXPESでは、試料表面から深い位置まで(~約50nm)の情報を得る事が可能です。さらに2次元検出器を用いた角度分解測定により、広い光電子取出角で取得したデータを、角度すなわち検出深さを変えた情報に分割することができます。これにより、非破壊でXPSよりも深い位置までの深さ方向結合状態比較が可能です。状態変化が極表面のみに留まらずバルク...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 微生物の構造・形態観察 製品画像

    微生物の構造・形態観察

    ナノレベルの構造解析や形態観察を受託しております。

    電子顕微鏡による解析を、試料作製から観察・撮影までスピーディ・ハイクオリティで受託します。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • 工業計測器 開発・製造サービス 製品画像

    工業計測器 開発・製造サービス

    見えないところで、お役に立ちたい

    当社では、工業計測器・各種変換器・情報応用機器・電子制御システムの 開発・製造・販売などの事業を展開しております。 システム技術、計測技術、及び計算技術(CAE解析)の部門を兼ね備え、 FAシステムの設計製作から工業や土木計測及び開発まで、...

    メーカー・取り扱い企業: 計測エンジニアリング株式会社

  • 接合強度試験サービス|JTL 製品画像

    接合強度試験サービス|JTL

    半導体部品・電子部品等の微小部接合強度の評価を実施致します。

    本サービスでは、接合強度試験機(ボンドテスター)を用いて各種部品の組立て・実装工程の接合信頼性評価を行います。特に電子部品の接合強度試験(シェア試験・プル試験)を得意としており、高密度実装部品の評価にも適しています。 電子部品以外にも、様々な製品や材料についてそのままの状態で接合強度評価を行うことも可能です。各種...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • 【分析事例】粘着シートによる電子部品の汚染評価 製品画像

    【分析事例】粘着シートによる電子部品の汚染評価

    有機汚染の定性・定量・分布を複数手法の組み合わせで評価

    半導体デバイスの製造工程では、ダイシング用テープなど様々な粘着シートが使用されます。粘着シートは異物・汚染の原因となることがあります。そこで、本事例ではTOF-SIMS・SWA-GC/MSを用いて複合 的に評価した結果をご紹介します。TOF-SIMSでは、粘着シート各材料の定性を行うことで、異物・汚染がどの粘着シートに起因するのか、また粘着シートのどの層に起因するのか同定が可能です。またSWA-...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【技術紹介】構造物変状計測(構造物の沈下・傾斜) 製品画像

    【技術紹介】構造物変状計測(構造物の沈下・傾斜)

    電子レベル/スタッフによる方法やHyPosによる方法など!土木・建築分…

    した「HyPos(ハイポス) による方法」や「ノンプリズム型トータルステーション(TS)による方法」 などがございます。 【構造物変状計測概要】 ■連通管式沈下計・傾斜計による方法 ■電子レベル/スタッフによる方法 ■HyPos(ハイポス)による方法 ■レーザー距離計による軌道変位計測 ■ノンプリズム型トータルステーション(TS)による方法 ■レーザー距離計による地下鉄の内空...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東横エルメス

  • 『空気非接触環境での受託分析サービス』※分析サンプル資料進呈 製品画像

    『空気非接触環境での受託分析サービス』※分析サンプル資料進呈

    Na、Mg、Liなど。自動車・電子機器・機械部品分野における新素材・新…

    でも、リチウム、ナトリウム、カリウム等、空気中の水分や酸素に触れると表面の状態が変化する物質を、活性な状態のままで分析を可能とする『空気非接触環境での分析サービス』でお役に立てます。 自動車・電子機器・化学・機械部品の研究・開発における 新素材・新製品の開発/隠れた性質の発見/基礎データの確認といったニーズにお応えしています。 ◎要望例 ・製造過程で溶け込んだ油分の熱分解の挙動が、...

    メーカー・取り扱い企業: ハイドロラボ株式会社

  • EBSD 主要な解析手法 製品画像

    EBSD 主要な解析手法

    EBSDにより材料の結晶構造や結晶方位の評価が可能です。

    EBSDとは、後方散乱電子回折(Electron BackScatter Diffraction:EBSD)のことで、走査型電子顕微鏡を用いて、材料のミクロな結晶組織を観察する方法です。結晶性試料に電子線を照射すると、電子は...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • エネルギー分散X線分光法(EDS) 製品画像

    エネルギー分散X線分光法(EDS)

    特性X線を検出!微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析…

    『エネルギー分散X線分光法(EDSまたはEDX)』は、電子顕微鏡(SEMやTEM)に 取り付けられた検出器で電子線照射により発生する特性X線を検出し、 試料や異物の元素情報を得る手法です。 物質に電子線を照射することにより発生する特性X線が検出器...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【受託測定サービス】プローブの先端磨耗度合い確認実験 製品画像

    【受託測定サービス】プローブの先端磨耗度合い確認実験

    接触回数によってプローブ先端ではどのような変化が起こっているのか?

    こっているのか…?」実験を通じて、数値化や可視化(画像取得)をサポートします。 【実験例】 ・100万回の耐久試験 ・10万回毎に測定物との接触抵抗値の測定 ・5万回毎にプローブの先端を電子顕微鏡で確認 ・数種類の材質のプローブで耐久試験を実施 ・測定物への接触痕の観察 ・300A連続通電時の測定物とプローブとの接点温度の測定 など 装置・測定器の組合せにより、さまざまな...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サンケイエンジニアリング 本社

  • EELS分析手法による膜質評価 製品画像

    EELS分析手法による膜質評価

    元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です!

    当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 EELS分析とEDS分析は、TEM試料に加速した電子を照射することで 元素同定を行う分析手法です。 「異なるカーボン膜」の事例では、状態分析が特長である EELS分析手法を用いてナノ領域での膜質評価を行いました。 EDS分析ではスペク...

    • 2020-08-18_15h10_16.png
    • 2020-08-18_15h10_19.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • [IP法]Arイオン研磨加工 製品画像

    [IP法]Arイオン研磨加工

    IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

    カードエッジコネクタについてIP加工後、反射電子像観察を行いました。 IP法と機械研磨法で作製した断面の反射電子像観察を行いました。 IP法ではCu結晶粒が明瞭に観察され、研磨キズもありません。...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • Arイオンミリング加工 製品画像

    Arイオンミリング加工

    機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

    Arイオンミリング法とは、機械研磨を行った後、低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です。...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ダイヤモンドのクラリティ観察 製品画像

    ダイヤモンドのクラリティ観察

    マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができま…

    一見きれいに見えるモノでも、拡大すると内包物があったり割れが あったりします。マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を 観察することができます。 また、マイクロスコープでは半導体電子部品やシリコンチップなどの 検査、観察も行っています。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察可能 ■半導体電子部品...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 製品評価支援 製品画像

    製品評価支援

    自社の試験設備で確かな品質をサポート!製品の使用環境を考慮しての加速度…

    、 お客様への品質保証を確固たるものにしています。 下記のような製品の使用環境を考慮しての加速度試験・性能評価が可能です。 「鉄道車両搭載用ユニットや防衛案件など、ハードな環境で使用される電子機器の性能保証」 「金属加工品に不可欠な様々な表面処理(めっき)の耐食性(防錆効果)」 「アルミ材のアルマイト処理・化成被膜処理の性能確認」 【特長】 ■加速度試験・性能評価が可能 ■...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユーバー

106〜120 件 / 全 435 件
表示件数
15件
  • 構造計画研究所バナー画像再提出_128541.jpg
  • 0624_daido_300_300_2109603.jpg

PR