• <無料サンプル進呈> 電子基板用 防水防湿コーティング 製品画像

    <無料サンプル進呈> 電子基板用 防水防湿コーティング

    PR非有機溶剤で安心安全。電子部品の防水や絶縁など、コンフォーマルコーティ…

    電子基板用保護コーティング剤『フロロサーフFG-3650シリーズ』は、 電子部品の防水や絶縁保護、実装基板の防湿防水コーティング(コンフォーマルコーティング)に適しています。 ▼フロロサーフFG-3650シリーズの優れた性能 高防湿・防水性 / 耐リチウム電池電解液  / 耐酸性・耐酸化ガス 高絶縁抵抗・低誘電率 / 非引火性・非危険物 ~    法人様限定で【無料サンプル】を進呈しています!...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フロロテクノロジー

  • 電子機器とマイクロエレクトロニクスの試験 製品画像

    電子機器とマイクロエレクトロニクスの試験

    PR電子コンポーネントから材料までお客様のニーズに合わせた材料試験機と治具…

    インストロンは、電子機器およびマイクロエレクトロニクス、EVバッテリー製造業者の、 低荷重~中荷重の試験ニーズに対応する多様な万能試験機、疲労試験機、衝撃試験機を提供しています。 万能試験機は、1台でケーブル、ワイヤー、デバイス、ディスプレイ材料など電子コンポーネントや 材料の引張、圧縮、曲げ、剥離、引裂き、せん断などの様々な試験をマルチで行うことができ、試験 用途に応じ幅広いアクセサリーを備え...

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    メーカー・取り扱い企業: インストロンジャパンカンパニイリミテッド 日本支社

  • 技術資料『表面分析の概要』 製品画像

    技術資料『表面分析の概要』

    代表的な表面分析であるEPMAやAESなどを解説した技術資料

    【掲載内容概要】 ■はじめに  ・表面分析方法について ■表面分析の種類と特徴  ・各表面分析の特徴  ・EPMA(電子プローブマイクロアナライザー)  ・AES(オージェ電子分光法)  ・XPS(X線光電子分光法)  ・SIMS(二次イオン質量分析法)  ・TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析法)...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニケミー

  • オオクマ・ソリューション関西 会社案内 製品画像

    オオクマ・ソリューション関西 会社案内

    業界のソリューションから社会のソリューションへ

    当社は、熊本市で長年ものづくりを生業としているオオクマ電子から 子会社として2015年10月に分離独立いたしました。 今まで培ってきた電子機器の開発・設計・製造ノウハウをその手段として、 関連業界へのソリューション提供はもちろん、これからの社会が...

    メーカー・取り扱い企業: オオクマ・ソリューション関西株式会社 本社

  • X線透過観察サービス|JTL 製品画像

    X線透過観察サービス|JTL

    X線透過により製品・部品の内部構造状態を非破壊で観察します。

    X線透過観察サービスでは、X線での非破壊観察により試料の内部構造を観察・検査・計測を行うことができます。電子部品や実装部品などの不具合解析によく用いられる手法です。 JTLでは、電子デバイスの他に各種素材、部品・製品形状の試料について、内部構造観察から不具合の多数個検査まで幅広いニーズにご対応します。 ...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • マイクロESCAによる分析 事例集 製品画像

    マイクロESCAによる分析 事例集

    400LPIの銅メッシュ(メッシュ間隔:63.5μm)の分析結果を掲載…

    当事例集では、400LPIの銅メッシュ(メッシュ間隔:63.5μm)を マイクロESCA(Quantum-2000)により分析した結果を紹介しております。 二次電子像から分析視野を指定してその領域の銅の面分析を行った結果 二次電子像に対応した銅の分布が得られ、さらにこのデータから測長機能を 利用してメッシュ間距離などを測ることができます。 【掲載概要...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 【分析】RoHS指令 製品画像

    【分析】RoHS指令

    お客様のリスクを軽減、品質を改善、信頼を構築するため、お手伝いさせてく…

    “EU(欧州連合)域内において、コンピュータ、通信機器、家電等の電気・ 電子機器について有害な化学物質の使用を禁止する指令です。 廃棄電気・電子機器のリサイクルを容易にするため、また、最終的に埋立てや 焼却処分されるときに、ヒトや環境に影響を与えないように電気・電子...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社JTC

  • 品質管理システム『Expert LiMS』 製品画像

    品質管理システム『Expert LiMS』

    品質管理・品質保証レベルの向上とデータインテグリティへの対応を支援しま…

    他 ■検体採取業務機能  ・検体採取指図書&記録書、ラベル発行機能  ・採取量指示機能  ・検体重量の自動収集及び手入力  ・検体受取機能 ■ER/ES指針Part11、DI対応  ・電子署名  ・電子記録  ・セキュリティ管理  ・監査証跡 ■マスタ機能  ・マスタのファイル出力/取込機能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社朋電舎

  • 機械製品、部品の損傷調査・原因究明サービス 製品画像

    機械製品、部品の損傷調査・原因究明サービス

    損傷を受けた部品を調査することで、損傷原因を明らかに!損傷原因を明らか…

    IHI検査計測社では、機械製品、部品の損傷調査を実施しています。 【損傷調査の実施方法】 ■外観観察:損傷の発生状況、き裂の発生箇所、変形量の計測、腐食状況の確認 ■破面観察:破断面を走査電子顕微鏡(SEM)で観察し、損傷形態を明らかにする ■ミクロ・マクロ観察:金属的な組織を観察し、問題点を明らかにする ■材質調査:化学分析を実施し、材質の妥当性を確認する ■機械試験:部材の機械...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社IHI検査計測

  • 【受託サービス】腐食環境診断/対策 製品画像

    【受託サービス】腐食環境診断/対策

    ワンストップで提供!腐食環境ソリューションでお客様の課題解決をサポート

    用した腐食環境診断から、 環境改善コンサルティングまで、腐食対策ソリューションを ワンストップで提供し、環境改善や機器の安定運用をサポートします。 データセンターやマシン室、交換機室などの電子機器設置環境だけでなく、 汚水処理施設や工場などの電気・電力設備設置環境、生活環境など、 さまざまな分野の環境診断にご活用いただいています。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 ...

    メーカー・取り扱い企業: ユーロフィンFQL株式会社

  • [Slice&View]三次元SEM観察法 製品画像

    [Slice&View]三次元SEM観察法

    FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を…

    、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます。また、SIM(Scanning Ion Microscope)像についても同様にSlice & Viewが可能です。 ・二次電子(Secondary Electron;SE)像、反射電子(BackScattered Electron;BSE)像、走査イオンSIM(Scanning Ion Microscope)の観察が可能...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 防衛・航空・宇宙・車載機器のEMC試験 製品画像

    防衛・航空・宇宙・車載機器のEMC試験

    私たちは、EMC試験という専門領域で技術をひたむきに追求し、電磁波に関…

    電子機器が社会のあらゆる方面に広がる中で、EMC試験の重要性が日増しに高まっています。私たちイー・エム・シー・ジャパンは、豊富な試験実績と技術力で多くのお客さまから信頼をいただく独立系の試験機関です。防衛装備品、車載電子機器を中心に民間航空機、宇宙開発、一般民生品にいたるまでさまざまな試験を手がけ、設立以来独自のポジションを築き上げています。 またイー・エム・シー・ジャパンは、技術志向を強める一方で、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イー・エム・シー・ジャパン 本社テストサイト、刈谷テストサイト、相模原テストサイト

  • [SIM]走査イオン顕微鏡法 製品画像

    [SIM]走査イオン顕微鏡法

    高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能

    固体試料にイオンビームを照射すると二次電子が発生します。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じます。この像を走査イオン顕微鏡(Scanning Ion Microscope: SIM)像といいます。 電子線照射によってもこ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    RoHS/ELVスクリーニング分析の受託サービス|JTL

    ED-XRFによるRoHS/ELVスクリーニング分析を実施します。

    ELVとは自動車・廃自動車及び部品・材料の鉛(Pb)、水銀(Hg)、カドミウム(Cd)、六価クロム(Cr6+)の4物質を規定値以下にする欧州連合の指令です。 RoHSとは電子・電気機器における鉛(Pb)、水銀(Hg)、カドミウム(Cd)、六価クロム(Cr6+)、ポリ臭化ビフェニル(PBB)、ポリ臭化ジフェニルエーテル(PBDE)の6物質を使用を制限する欧州連合の指令です...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • 【DL可/EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析 製品画像

    【DL可/EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析

    金属および金属化合物の硬さや脆さなどの性能比較、変色の不具合がなぜ起こ…

    電子線後方散乱回折法EBSD(Electron Backscatter Diffraction Pattern)は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・結晶系の異なる相の分離 ・分離相ごとに分布割合や結晶方位解析 本事例では 【EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析 を紹介しています。 EBSDで2相ステンレスにおいて、α 相とγ 相の分布割合と結晶方...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • ※実績多数!生産ライン・工程内異物(クレーム品)調査 製品画像

    ※実績多数!生産ライン・工程内異物(クレーム品)調査

    クレーム品・異物のトラブルの原因究明・問題解決をお手伝い!製薬会社様・…

    異物及びクレーム対応試験を行っております。電子顕微鏡分析・IR分析(有機物分析)・無機元素分析等を行い異物を同定し、トラブルの原因究明や問題解決のためのお手伝いを致します。 対象異物:ガラス、プラスチック、人毛・獣毛、繊維、植物片、金属片...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社安全性研究センター

  • 【DL可/EBSD】EBSDによるはんだ断面の内部歪み測定 製品画像

    【DL可/EBSD】EBSDによるはんだ断面の内部歪み測定

    「実装条件違いや経年劣化で起きる不具合は何か?」 はんだ内部に潜む問題…

    電子線後方散乱回折法EBSD(Electron Backscatter Diffraction Pattern)は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・微小領域での結晶粒径、相構造に関する分析 ・実装部などの微小部における残留応力の評価(約50μmでの解析事例あり) 本事例では 【EBSD】はんだ断面の内部歪み測定 を紹介しています。 EBSDで熱衝撃試験によ...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

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