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PR実装コストの低減を実現!電極が凸型形状のチップ抵抗ネットワーク
当製品は、電極が凸型形状のチップ抵抗ネットワークです。 部品搭載回数の減少による実装コストの低減を実現。 最高使用電圧は25V、定格電力は1/16Wです。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【仕様(抜粋)】 ■素子数:4 ■回路記号:D(独立回路) ■包装数量:10,000 アイエイエム電子ではチップ抵抗ネットワークを始め各種厚膜チップ抵抗器を製造販売しております。 ※詳...
メーカー・取り扱い企業: アイエイエム電子株式会社
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小型真空蒸着装置『HVE-100』【クリーンな成膜を実現!】
PRクリーンな成膜が可能な小型真空蒸着装置!シャッタを具備しているので安定…
『HVE-100』は省スペースな小型蒸着装置です。基板成膜面は下向きで 設置、抵抗加熱源からの蒸発で上向きに成膜する配置(デポアップ)です。 シャッタを具備しているので安定した状態で蒸着が可能です。 【特長】 ■高真空排気系:<10^-4Paの到達真空度でクリーンな成膜が可能 ■チャンバはメンテナンスしやすいようにSUS製で内部に防着板を配置 ■省スペース/小型化:W500×D39...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ハイブリッジ 東京営業所
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【測定事例】 半導体レーザ 電極部の熱伝導性評価 【TM3】
半導体レーザ 電極部を評価!!
半導体 電極部の熱物性評価ができます。 事例では、Au電極部の下にAl2O3の絶縁膜が存在する部分と、そうではない部分がありますが、サーマルマイクロスコープTM3で評価することで、熱浸透率の違いが観察されてい...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ベテル ハドソン研究所
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太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置P…
わりました。 EL画像測定装置としての基本機能を重視しながら、光学系に2400万画素の高精細カメラを搭載し、業界初のオートフォーカス機能により簡単操作で鮮明なEL画像を取得、マイクロクラックや電極不良個所の特定や、モジュールでの不良セルの選別にご活用いただけます。 薄膜太陽電池では、成膜不良やスクライブ電極の不良の検出・位置特定が可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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薄膜と微小領域の熱物性測定に。構造部材用耐熱コーティングの評価が可能
部で熱浸透率の低下(2%程度)を確認 ○試料表面のコーティングの評価(茨城大学工学部) →構造部材用の耐熱コーティングの評価が可能 →超硬工具のコーティングも同様に評価可能 ○半導体レーザの電極部 →絶縁層による放熱性低下を可視化 →薄膜による放熱特性の変化が把握可能 ●詳しくはお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ベテル ハドソン研究所
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太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置P…
わりました。 EL画像測定装置としての基本機能を重視しながら、光学系に2400万画素の高精細カメラを搭載し、業界初のオートフォーカス機能により簡単操作で鮮明なEL画像を取得、マイクロクラックや電極不良個所の特定や、モジュールでの不良セルの選別にご活用いただけます。 薄膜太陽電池では、成膜不良やスクライブ電極の不良の検出・位置特定が可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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