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サプライチェーン・リスク回避!実績豊富なカンボジア製ACアダプタ
PR安価で高効率なACアダプタ、GaN搭載(窒素ガリウム)急速充電器、バッ…
大手台湾電源メーカー【Kuantech (Cambodia) Co.,Ltd】が、カンボジア国に、線材から自社製作できる自動化の進んだ電源製品の巨大工場を設立。 弊社取扱も、カンボジア工場視察および監査を重ねて、既に実績は5年間で、約50万個以上。 <Kwantech社の特長> ■充実した製品ラインナップ ACアダプター/充電器、医療機器用ACアダプタ、PD対応USB充電器、USBケ...
メーカー・取り扱い企業: シノ・アメリカン・ジャパン株式会社
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PR扱いやすい超小型。出力0~3.0Vで、5~24Vの電源供給に対応。セン…
温湿度アナログ変換出力モジュール『SCM-DA2』は、 温湿度測定の負担を減らせる製品です。 電源を入れるだけでセンサを自動認識し、 温湿度センサのデジタルデータをアナログに変換・出力します。 出力は0~3.0Vと分かりやすく、5~24Vの電源供給が可能です。 PLC、電圧データロガー、パネルメータなどに接続して活用できます。 【特長】 ■Sensirion(センシリオン...
メーカー・取り扱い企業: 有限会社シスコム(SysCom)
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高温状態での動作が要求されるデバイスに!高温でのラッチアップ試験をご紹…
り、高温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格(抜粋)】 ■JEDEC(JESD78E) ・電流パルス印加法、電源過電圧印加法 ・ClassI:室温、ClassII:最大使用周囲温度 ■JEITA{JEITA ED4701/302(試験方法306B)} ・電流パルス印加法、電源過電圧印加法 ・Class...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性…
■電流パルス印加法(JEDEC・JEITA・AEC) ■電源過電圧法(JEDEC・JEITA・AEC) ■電圧パルス印加法(AEC) ■ESDパルス印加法(参考試験) ■ラッチアップ判定法(JEDEC方式・電流定義方式) ■試験前後の保護ダイオード特...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託!故障解析・分…
【装置概要】 <シーメンス(メンター)「PWT2400A」> ■加熱用電源600A×4台を装備 ■ゲート用電源-10V~20V×16台を装備 ■最大16chのデバイスを同時に試験 ■JESD51-14に準拠した測定法によるTj測定 ■試験中に自動で過渡熱抵抗測定の...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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DUTボード作製から試験まで!ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致…
V(Step:5V) ■単一/ステップアップ印加、ピンコンビネーション印加等の多様な印加条件に対応 ■破壊判定方法:保護ダイオード特性評価、IiL/IiH特性評価、VoL/VoH特性評価、 電源ピンの特性評価の4種類に対応 ■ソケットや専用の変換基板等の手配から試験用DUTボード作製から試験まで対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも含まれています。これらに…
部品⇒変更部品(コスト削減)の置き換え時の信頼性評価 ■対応部品の例 ・能動部品(トランジスタ、ダイオード、サイリスタ、等) ・受動部品(コンデンサ、抵抗、等) ・LCD ・基板 ・電源 等...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ
太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測
造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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半導体製品およびそれを含む電子部品の信頼性として重要な、ESD(静電気…
) ■単一印加、ステップアップ印加、ピンコンビネーション印加等 多様な印加条件に対応します。 ■破壊判定方法は、保護ダイオード特性評価、IiL/IiH特性評価、 VoL/VoH特性評価、電源ピンの特性評価の4種類に対応します。 ■ソケット、専用基板等の手配・試験ボード作製にも対応します。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ
太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測
造を顕微鏡でフォトルミネセンス観測ができます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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