高温 | イプロスものづくり

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常温から約150秒で1200℃に！高速高温カートリッジヒーター

PR短時間で1200℃まで上昇！加工時間の短縮、生産性の向上に貢献する高速…

『STC-1200-HS』は、常温から約150秒で1200℃に到達する高速高温カートリッジヒーターです。高温になるまで時間がかかると、加工時間や生産量にも大きく影響します。当製品は非常に短時間で高温に達するため、これまでの熱処理工程のスピードを上げ、生産性の向上に貢献します。過酷な条件下でフルに実力を発揮し、皆様に喜んでいただけるものと確信いたしております。その他、様々な高温ヒー...

メーカー・取り扱い企業：三洋熱工業株式会社
79GHzミリ波レーダー方式非接触型振動センサー

PR悪環境(高温等)でも影響なし！40KHzまでの広帯域・高振動周波数の計…

当製品は、79GHzミリ波レーダー技術を応用したレーダー信号処理プロセッサー内蔵の振動センサーです。内蔵レンズ付きアンテナにより狭範囲の測定が可能。 40KHzまでの広帯域・高振動周波数の計測ができます。 0.03μm(pk-pk)程度の極微小変位計測能力があります。また、非接触計測なので機械共振の心配がありません。【特長】 ■0.03μm(pk-pk)程度の極微...
メーカー・取り扱い企業：サクラテック株式会社
【分析事例】食品中アクリルアミドの定量分析

技能試験FAPASに参加し、分析値の精度を保証しています

炭水化物を多く含む食品を120℃以上の高温で加熱調理した際に、発がん性を有する可能性のあるアクリルアミドが生成することが2002年に発表され（図1）、注目を集めています。農林水産省HP（※1）によると、アクリルアミドはじゃがいもを揚げたスナ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】機械部品の洗浄前後における付着成分調査

洗浄効果評価や汚染物質の同定が出来ます

が十分に取り除けていない場合、組み立て後の機械で不具合が生じる危険性があります。汚れの付着有無を調べたり、付着している成分が何かを調べるには、加熱脱着GC/MS（TD-GC/MS）が有効です。試料を高温（上限350℃）で加熱することで、付着している有機物を揮発させGC/MSで測定することができます。付着している成分の同定や洗浄前後での付着量の比較、また洗浄方法の違いによる洗浄度合いの比較をするのに...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】IGZO 薄膜の結晶性・膜密度評価

酸化物半導体のXRD・XRR分析事例

結晶性で大きく特性が変化する材料でもあり、膜質との相関を考慮することが重要です。加熱温度の異なる3種類のIGZO薄膜の結晶性・膜厚・膜密度をXRD・XRRにて測定し、比較を行った事例をご紹介します。高温では結晶化が進み、膜密度が高くなっている様子を非破壊で確認することができました。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】プリント基板からの溶出成分の分析

液体試料中の陽イオン成分の分析が可能です

日常の様々な場所で電子機器が使われるようになり、製品の信頼性確保が重要となっています。プリント基板は高温・高湿度の環境で、配線に用いられているCuがマイグレーションを起こして不良となることが考えられるため、マイグレーションを助長する成分を評価することが重要です。本事例ではイオンクロマトグラフィー（...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】熱分解GC/MSによるスマートフォン封止剤の分析

2段階の加熱によりUV硬化系素材の分析が可能

封止剤の素材解析を行いました。低温(250℃)で試料を加熱し、発生したガス成分をGC/MS測定することにより、残存モノマーや低分子添加剤（重合開始剤、酸化防止剤）を検出することができます。引き続いて高温(550℃)で加熱することにより、高分子を分解してその構成成分を推定することができます。これにより封止剤はUV硬化系の素材であることがわかりました。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
［XAFS］X線吸収微細構造

XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する…

・試料中の着目元素周囲の局所構造（原子間距離、配位数）や化学状態（価数、配位構造）の評価が可能・環境（高温・高圧・雰囲気）を問わず、測定が可能・様々な試料形態（固体・液体・気体、薄膜、非晶質物質など）の測定が可能・適用可能な濃度範囲が広い（主成分元素から微量元素まで）・非破壊測定・測定方...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
粉体分析の受託サービス｜JTL

無機物・有機物問わず、様々な粉体試料の成分分析を実施します。

●目的に合った試料調製方法無機物の分析では、より精度の良いデータを得るための方法として、「ガラスビード法」または「加圧成型法」を用いた試料調製を実施致します。ガラスビード法は試料を融剤と共に高温で融解させ、ガラス化する方法で、精度の良い分析が可能です。加圧成型法はプレス機で加圧してペレットを作成する方法で、それぞれにメリット、デメリットがございます。弊社ではお客様の目的に合った試料調製方法...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社本社
電源ユニット内気流解析

電源ユニット内における気流の特性について明らかにすることを目的とする

析モデルとして採用し、電源ユニット内における気流の特性について明らかにすることを目的としています。PCをはじめとするコンピュータなどへ安定した電力を供給するために大変重要な役割を担う電源ユニットは、高温の発熱体を多く含むため、いかに効率よく排熱を行えるかが大きなポイントとなります。詳しくはカタログをダウンロードしてください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社環境シミュレーション
非金属介在物・析出物の抽出分析

非金属介在物・析出物の抽出分析が可能です。

に大きな影響を及ぼすため、その大きさや量を把握することは重要です。例えば、Al2O3などの非金属介在物は、強度の低下を招いたり、破壊の起点となることが知られています。また、析出物(金属間化合物)は、高温強度を向上させる場合もあれば、脆化の原因となる場合もあります。抽出分析では、特殊な溶液を用いて鋼材から介在物・析出物を抽出分離し、各分析手法と組み合わせることで、介在物・析出物の量、組成、大きさ、形...

メーカー・取り扱い企業：株式会社大同分析リサーチ
恒温恒湿槽

自動車およびその周辺分野を含めた様々なニーズにお応えし、委託試験・研究…

高温から低温までさまざまな環境ストレスを与えることにより、バッテリなどの装置から実車両まで信頼性の高い性能評価が行える環境試験装置です。試験設備や委託試験に関しましてお気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人日本自動車研究所
コンビナトリアル成膜の受託

マテリアルズインフォマティクスのためのハイスループット薄膜の作製と評価

■2元& 3元コンビ成膜に対応 ■PCからのレシピ入力&自動成膜に対応 ■タッチパネルで簡単操作（自動排気、成膜プロセス） ■基板加熱可能（標準仕様：最高650℃） ■ロードロック室での高温アニール可能（オプション） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社コメット
残留溶媒分析の受託サービス｜JTL

GC-MSによって、製品中の残留溶媒測定を実施します。

な製品の評価に使用されます。残留溶媒分析サービスでは、ヘッドスペースバイアルに試料を入れ、加熱後に発生したガスをGC-MSを用いて分析します。試料や目的によっては加熱脱着GC-MSを用いて、より高温の条件で分析を行うことも可能です。...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社本社
HDD/SSD評価技術サービス

HDD/SSDの評価(温度/湿度/サイクル/障害解析)を行っています。

HDD(ハード・ディスク・ドライブ)/SSD(ソリッド・ステイト・ドライブ)の信頼性評価、高温高湿槽での耐久試験、サイクル試験、故障分解解析を行います。 HDDスクリーニング、SSDエージングにより初期障害率、フィールド偶発障害率の低減が図れます。 HDD中古品、在庫品、運用品、の性能確...

メーカー・取り扱い企業：ハヤシレピック株式会社第３事業部
【分析事例】熱分解GC/MSダブルショット法による添加剤の同定

TG-DTAとGC/MSを用いた複合解析

適な温度条件を選んで未知の高分子材料及び含有する揮発性有機化合物をそれぞれ同定することが可能です。市販製品のプラスチック部分の熱分解温度を調べ、熱分解温度以下での緩やかな昇温（熱脱着法）と、その後の高温での瞬間加熱（熱分解法）の2条件でGC/MS測定を連続的に行うこと（ダブルショット法）により、このプラスチックはAS樹脂であり、添加剤として酸化防止剤：IRGANOX 1076が含まれていることがわ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】Si基板へのAl,Gaの拡散評価

SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定

コスト低減の観点から、GaNを材料としたパワーデバイスの基板には高抵抗Si基板の活用が期待されています。しかしながら、高温で成膜する際にAl,GaがSi基板表面に拡散してしまうと、低抵抗層が形成されリークの原因と言われております。そこで、Si基板中へのAl,Gaの拡散の有無を評価するため、SIMS分析を行った事例を...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST