DAコンバータユニット（USB接続）『TUSB-0416DAM』

PR分解能16ビット、変換レート1MHz USBインターフェース付きDAコ…

本ユニットは、分解能16bit、変換レート1MHzの高性能DAコンバータユニット（USB接続）です。 アナログ出力はBNCコネクタ４チャンネルで、高分解能の直流電圧出力の他、FIFO方式メモリとUSBインターフェースとの組み合わせで、制限なく連続的に波形出力が可能です。 可変基準電圧源の他、ファンクションジェネレータ、任意波形発生器などとしても使用できます。...出力チャンネル数：4ch（2ch*...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社タートル工業

新型：ソフトスタータ α-Beat plusアルファビートプラス

PR【納期10日】再突入電流が出ない始動器。インバーターのバックアップにも…

『α-Beat plus：アルファビートプラス』は、2023年9月にデビューした新型ソフトスターターです。 スターデルタ始動方式でみられる再突入電流は出ません。 冷却ファンが必要なく、高調波対策・ノイズ対策も不要で、 インバーターのバックアップにも好適です。 短納期で対応でき、MCB容量も小さく配線も3本と小型軽量で経済的。 固定速の設備に適しています。 ソフトスタート・ソフトストップするので...

メーカー・取り扱い企業： 電光工業株式会社

リチウムイオン電池向けのソリューションならコネックスシステムズ

コネックスシステムズは電池開発における、専門的な知見でお客様の目的や用…

▼電池メーカーとして培ってきた豊富な経験と技術で電池に関わる課題解決をサポート CONNEXX SYSTEMSは電池メーカーとして培ってきた豊富な経験と技術で 産業用リチウムイオン二次電池に関するお客様のご要望に柔軟にお応えします。 鉛蓄電池からリチウムイオン電池への置き換え、コスト削減、 最適なカスタマイズ案や、多種多様な通信タイプ（RS-485、RS-232、CAN等）、 技術サ...

メーカー・取り扱い企業： CONNEXX SYSTEMS株式会社

ロックイン発熱解析法

ロックイン発熱解析法は、電流経路中の僅かな温度上昇を検出します

・IR-OBIRCH機能も合わせ持ち、発熱箇所特定後、IR-OBIRCH測定により、故障箇所をさらに絞り込むことができます。 ・赤外線を検出するため、エッチングによる開封作業や電極の除去を行うことなく、パッケージのまま電極除去なしに非破壊での故障箇所特定が可能です。 ・ロックイン信号を用いることにより高いS/Nで発熱箇所を特定でき、Slice ＆ Viewなど断面解析を行うことができます。.....

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】パッケージ品のロックイン発熱解析

Si系パワーダイオードのリーク箇所非破壊分析

ロックイン発熱解析において、ホットスポットを絞るためには周波数を上げることが望ましいですが、一方で感度が悪くなってしまうという問題があります。そこで、高周波数側から低周波数側に測定条件を振っていき、発熱信号が得られ始める周波数を見際めることが重要となります。 本事例では円筒状のパッケージ品において、リーク電流に伴う発熱箇所を非破壊で特定した事例をご紹介します。このように液晶法では難しい立体構造の...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】近赤外VCSELのSMMによるキャリア分布評価

実装品の解体・加工から拡散層の計測までを一貫して行えます

近赤外VCSEL（面発光レーザー）の実装品を解体して微小なチップを取り出し、断面加工の後にSMM計測を実施しました。 VCSELの開口部を取り囲むように、高抵抗の電流狭窄層が観察されました。また、活性層近傍では材質の異なる膜が積層しており、この組成を反映したコントラストとして計測されました。同一組成の層内にもコントラストが確認され、これはキャリア濃度差やバンドの曲りを反映していると考えられます。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

WDXによる元素分析サービス｜JTL

材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の分析を実施します。

EPMA、FE-EPMA、XRFの分析方法である波長分散型X線分析法（WDX）を用いて、微量元素・軽元素の受託分析サービスを実施致します。 WDX装置はエネルギー分散型X線分析装置（EDX）よりも波長分解能が優れており、微量元素や軽元素の検出感度が高い分析が可能です。 そのため金属材料の判別や微量元素の拡散状態の分析、異物の分析等の微量元素分析にご利用いただけます。...【優れたエネルギー分解...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法

ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

SSRMは、バイアスが印加された試料の表面を導電性探針で走査し、抵抗値の分布を二次元的に計測することで探針直下の広がり抵抗を可視化する手法です。 シリコン半導体素子を計測した場合、空間分解能に依存しますが、キャリア濃度1016個/cm3以上に感度があります。 ・ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能 ・半導体のドーパント濃度分布計測に有効 ・半導体の極性（p型/n型）の判定は不可 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【装置設計支援：事例】高電流・電圧ケーブル巻取装置

装置設計支援と多業界・多分野での実績多数！装置設計支援の事例をご紹介

置リニューアル） など、装置開発の様々なお悩み・希望を解決いたします。 300を超える装置設計支援と多業界・多分野での実績もございます。 ぜひご相談ください。 【事例】 ■製品：高電流・電圧ケーブル巻取装置 ■サイズ：W780×D1000×H900mm ■重量：100kgW ■使用ケーブル：φ14mm×30m ■巻取最大速度：3m/s ■巻取トルク：180N・m ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＡＵＣ