高電流 | イプロスものづくり

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【デモ機無料貸出し中】高精度CW 小型LDドライバー

PR高精度な電流制御で高い安定性を実現、産業機器や医療機器の組込み用として…

『CW LDドライバー TLA-514』は、小型で組込み用に好適です。安定性に優れ評価用から量産まで対応。量産時も長年構築した部材調達網で高品質な製品を少量から安定供給致します。電圧・電流の仕様範囲内で汎用的に使用でき、セミカスタムが可能です。デモ機貸し出しも行っておりますので、お気軽にお問い合わせ下さい。【LDドライバー　TLA-514仕様(抜粋)】 ■入力電圧：L...

メーカー・取り扱い企業：東北電子産業株式会社東京支店
リモートプラズマ・イオンビームスパッタリング装置　

PRヘリコンプラズマソースをイオン源として、ターゲット、基盤へのバイアス印…

ヘリコンプラズマソースをイオン源として、ターゲット、基盤へのバイアス印加により高品質かつフレキシブルな成膜をする装置です。イオン源、ターゲット、基盤それぞれに対して独立した電流制御を行います。複数のターゲットを搭載し、切り替えての多層成膜も簡単に行えます。同時にターゲット付近、基盤付近に独立したガス供給も行えるため、酸化膜・窒化膜をはじめとした様々な多層光学薄膜も成膜可能。新たな素材探索や成膜...
メーカー・取り扱い企業：ティー・ケイ・エス株式会社
EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み

「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高…

当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。『EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み』では、ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。吸収電流を電圧センスすることで、配線内の抵抗分圧に基づいたコントラストが得られるため、ビアチェーンなどのTEGで⾼抵抗不良箇所を検出することもできます。 ...
メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス
故障劣化予知診断　高調波を使用して電気設備の不具合箇所を特定！

2次から40次までの高調波を使用して診断！　モーター、機械、インバータ…

日本メカトロン株式会社は、計測、制御システムの開発を手がけ、お客様に満足いただけるシステムをご提案させていただきます。弊社の『故障劣化予知診断』は、高調波診断で行う予知保全システムです。 10年以上3万台以上の設備を測定　→　分解して検証した件を設備機器の劣化箇所・劣化度合と強調は成分に高い相関関係を見出しました。高調波診断(KS-2000)により、モーター、機械、インバ...

メーカー・取り扱い企業：日本メカトロン株式会社大阪事業所
【機器の健康診断】機器の状態監視で故障の予知保全を確認しませんか

インバーターの突然の故障原因を事前にキャッチ！急な設備トラブルを回避し…

設備機器でこんな事に困ってませんか？・稼働を止めれない設備機器の故障に困っている… ・定期的な点検が難しい機器の保全に困っている… ・点検箇所が多く工数や費用が掛かり困っている… ・設備保全担当が高齢化し、技術者がいなくて困っている… ・効率的な点検で最終的には遠隔監視をしたが難しい… 弊社の『故障劣化予知診断』は設備機器の困りごとを全て解決！ 10年以上3万台以上の設備を測定...

メーカー・取り扱い企業：日本メカトロン株式会社大阪事業所
事例　製品環境でのパッケージ　熱抵抗測定技術

半導体の熱抵抗を正しく測定できていますか？熱シミュレーション技術とコラ…

測定用素子として良く利用されるダイオード（PN接合）の特性を理解しないと、正しく測定できない場合があります。製品環境でのパッケージ熱抵抗を正しく求めるためには、実デバイスを使った熱抵抗解析を高精度に評価する技術が必要となります。局所発熱モデルにおいて実測と熱シミュレーションの整合モデルが作成出来ていれば、任意発熱時の熱抵抗がシミュレーションで解けます。弊社では、実測～シミュ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社Wave Technology
高調波簡易診断

異常・劣化が診断可能！設備機器の困りごとを解決いたします

当社の故障劣化予知診断では、『高調波簡易診断』が可能です。測定対象はモーター、機械。異常・劣化が診断できます。診断対象は(A・B1・B2・B3・C)の5段階診断です。また、電流不平衡・負荷モードも測定基準に含み、モーターから一番近い制御盤で測定します。【測定対象モーター部】 ■回転軸・軸受・据付 ■巻線の絶縁・振動 ■軸受・ハウジングの損傷 ■エアギャップ...

メーカー・取り扱い企業：日本メカトロン株式会社大阪事業所
［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】バイポーラトランジスタ（IGBT）の不良品調査

高電圧電源を用いたエミッション顕微鏡による故障箇所の特定

発光像とIR像の重ね合わせにより、リーク箇所を顕微的視野で特定できます。クラックや静電破壊など大規模な外観異常がある場合は、IR顕微鏡でも異常を確認可能です。また、エミッタ電極の遮光により、発光が検出できない場合には、コレクタ電極を除去し、コレクタ側から近赤外光を検出します。 2000Vまで印加可能な高電圧電源を用い、高耐圧で低リーク電流のパワーデバイスを動作させ、エミッション顕微鏡で故障箇所を...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
装置設計支援の事例

300を超える装置設計支援と多業界・多分野での実績有！装置設計支援の事…

装置リニューアル）など、装置開発の様々なお悩み・希望を解決いたします。 300を超える装置設計支援と多業界・多分野での実績もございます。ぜひご相談ください。【掲載事例】 ■高電流・電圧ケーブル巻取装置 ■細菌検査装置 ■RFIDファイバ実装装置 ■クローラロボット ■マイクロ流路チップ・セルソータ ■撹拌・洗浄装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ＡＵＣ
受託分析サービス『それ、壊さずに見えますよ!』

半導体・電子部品・有機複合材料などの内部構造や欠陥を拡大して観察できま…

『それ、壊さずに見えますよ!』は、隠れた異常が見える受託分析サービスです。非破壊の観察手法には電流経路を可視化する磁場顕微鏡、剥離を高感度で検出する超音波顕微鏡、内部構造を3次元で観察できるX線顕微鏡(X線CT)があり、これらを組み合わせることで、さまざまな現象を捉えることが可能です。また、高輝度X線により、錠剤の吸水と崩壊開始の状態をリアルタイムに観察でき、動画でのご...

メーカー・取り扱い企業：東芝ナノアナリシス株式会社
発熱解析による電子部品の故障箇所特定

故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能！高精度な発熱箇…

発熱解析は、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定する手法です。ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇...
メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス
【分析事例】積層セラミックコンデンサ(MLCC)の加熱SSRM

誘電体内の伝導パス(絶縁劣化箇所)の可視化

積層セラミックコンデンサ(MLCC)は、内部電極(金属)/誘電体層(絶縁体)/内部電極(金属)の積層構造を有するコンデンサです。MLCCの問題の一つとして高電界かつ高温下における誘電体層の絶縁劣化(低抵抗化)、つまり電極間ショートがあります。誘電体層内に形成される低抵抗な伝導パスを可視化することは絶縁劣化現象を解明する重要な手がかりとなります。本資料では、SSRM測定(高電界)と加熱機構(高温)を...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
分析事例トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所複合解析

デバイスの不良箇所特定から要因解析までワンストップでご提供

パワーデバイスは高電圧・大電流のスイッチとして電力/省エネの観点で注目されています。パワーデバイスでは、高電圧がかかるゆえの配線の不良や電気的な不良が生じます。また製品の信頼性向上のためには、不良要因の特定および解析が必須となります。本資料では不良箇所の特定をEMS(エミッション顕微鏡法)を用いて行い、不良要因解析をSCM(走査型静電容量顕微鏡法)とSEM（走査型顕微鏡法）で評価した事例をご紹介し...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
パワーデバイスのHAST試験

パワーデバイスに対して高温･高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能！…

株式会社アイテスでは、『パワーデバイスのHAST試験』を承っております。【特長】 ■最大1000V印加での不飽和蒸気加圧試験が可能 ■高温高湿下での通電により、金属配線の腐食やマイグレーション等の評価を実施 ■試験中のモニタリングにより､リアルタイムでの試料劣化を把握...【仕様】　試験電圧：最大DC1000Vまで印加可能 (正極コモン･保護抵抗110kΩ) 　試験数量 ...
メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス
【分析事例】SiCSchottkyDiodeのブレークダウン観察

前処理から発光箇所特定まで一貫解析

高電圧電源（2000Vまで印加可能）を用いることで、耐圧の高いダイオードに対してもブレークダウンを発生させることができます。本事例では600V耐圧のSiC Schottky Diodeを動作させ、逆方向に高電圧まで印加することで、ブレークダウンを発生させました。カソード電極を研磨で除去後、エミッション顕微鏡観察を行い、ブレークダウン電流発生箇所を特定した事例をご紹介します。測定には市販品を用い...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
燃料電池の性能評価試験

自動車およびその周辺分野を含めた様々なニーズにお応えし、委託試験・研究…

固体高分子形燃料電池の電極触媒や電解質膜などの新規材料を膜/電極接合体(MEA)化して評価します。様々な電極サイズ，流路のセルを用いて高電流密度領域での性能を評価します。 ●性能評価試験　・I-V特性(過電圧分離)，ECSA測定など ●耐久性評価試験　・電位サイクル試験(起動停止試験，負荷応答試験) 　・電解質膜の耐...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人日本自動車研究所
リチウムイオン電池向けのソリューションならコネックスシステムズ

コネックスシステムズは電池開発における、専門的な知見でお客様の目的や用…

▼電池メーカーとして培ってきた豊富な経験と技術で電池に関わる課題解決をサポート CONNEXX SYSTEMSは電池メーカーとして培ってきた豊富な経験と技術で産業用リチウムイオン二次電池に関するお客様のご要望に柔軟にお応えします。鉛蓄電池からリチウムイオン電池への置き換え、コスト削減、最適なカスタマイズ案や、多種多様な通信タイプ（RS-485、RS-232、CAN等）、技術サ...

メーカー・取り扱い企業： CONNEXX SYSTEMS株式会社
ロックイン発熱解析法

ロックイン発熱解析法は、電流経路中の僅かな温度上昇を検出します

・IR-OBIRCH機能も合わせ持ち、発熱箇所特定後、IR-OBIRCH測定により、故障箇所をさらに絞り込むことができます。・赤外線を検出するため、エッチングによる開封作業や電極の除去を行うことなく、パッケージのまま電極除去なしに非破壊での故障箇所特定が可能です。・ロックイン信号を用いることにより高いS/Nで発熱箇所を特定でき、Slice ＆ Viewなど断面解析を行うことができます。.....
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】パッケージ品のロックイン発熱解析

Si系パワーダイオードのリーク箇所非破壊分析

ロックイン発熱解析において、ホットスポットを絞るためには周波数を上げることが望ましいですが、一方で感度が悪くなってしまうという問題があります。そこで、高周波数側から低周波数側に測定条件を振っていき、発熱信号が得られ始める周波数を見際めることが重要となります。本事例では円筒状のパッケージ品において、リーク電流に伴う発熱箇所を非破壊で特定した事例をご紹介します。このように液晶法では難しい立体構造の...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【分析事例】近赤外VCSELのSMMによるキャリア分布評価

実装品の解体・加工から拡散層の計測までを一貫して行えます

近赤外VCSEL（面発光レーザー）の実装品を解体して微小なチップを取り出し、断面加工の後にSMM計測を実施しました。 VCSELの開口部を取り囲むように、高抵抗の電流狭窄層が観察されました。また、活性層近傍では材質の異なる膜が積層しており、この組成を反映したコントラストとして計測されました。同一組成の層内にもコントラストが確認され、これはキャリア濃度差やバンドの曲りを反映していると考えられます。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
WDXによる元素分析サービス｜JTL

材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の分析を実施します。

EPMA、FE-EPMA、XRFの分析方法である波長分散型X線分析法（WDX）を用いて、微量元素・軽元素の受託分析サービスを実施致します。 WDX装置はエネルギー分散型X線分析装置（EDX）よりも波長分解能が優れており、微量元素や軽元素の検出感度が高い分析が可能です。そのため金属材料の判別や微量元素の拡散状態の分析、異物の分析等の微量元素分析にご利用いただけます。...【優れたエネルギー分解...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社本社
［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法

ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

SSRMは、バイアスが印加された試料の表面を導電性探針で走査し、抵抗値の分布を二次元的に計測することで探針直下の広がり抵抗を可視化する手法です。シリコン半導体素子を計測した場合、空間分解能に依存しますが、キャリア濃度1016個/cm3以上に感度があります。・ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能・半導体のドーパント濃度分布計測に有効・半導体の極性（p型/n型）の判定は不可 ...
メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
【装置設計支援：事例】高電流・電圧ケーブル巻取装置

装置設計支援と多業界・多分野での実績多数！装置設計支援の事例をご紹介

置リニューアル）など、装置開発の様々なお悩み・希望を解決いたします。 300を超える装置設計支援と多業界・多分野での実績もございます。ぜひご相談ください。【事例】 ■製品：高電流・電圧ケーブル巻取装置 ■サイズ：W780×D1000×H900mm ■重量：100kgW ■使用ケーブル：φ14mm×30m ■巻取最大速度：3m/s ■巻取トルク：180N・m ■...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ＡＵＣ