• フォークリフト安全支援システム『BFV202』 製品画像

    フォークリフト安全支援システム『BFV202』

    PRディープラーニングAI推論処理により、接近する作業者を検知し運転者にモ…

    フォークリフトの前方2カメラ、後方2カメラを進行方向により切り替えて撮像し、AI推論処理します。 ■運用中のフォークリフトに後付け可能 ■高速処理によるリアルタイム判定 ■検知エリアを任意で設定可能 ■移動速度、旋回方向に連動して検知エリアが変化  ※当該機能の有効/無効は前方・後方のカメラ毎に選択可能 ...【仕様】  電 源 :DC9~16V(標準)       DC9~7...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パル技研

  • 温湿度アナログ変換出力モジュール『SCM-DA2』 製品画像

    温湿度アナログ変換出力モジュール『SCM-DA2』

    PR扱いやすい超小型。出力0~3.0Vで、5~24Vの電源供給に対応。セン…

    温湿度アナログ変換出力モジュール『SCM-DA2』は、 温湿度測定の負担を減らせる製品です。 電源を入れるだけでセンサを自動認識し、 温湿度センサのデジタルデータをアナログに変換・出力します。 出力は0~3.0Vと分かりやすく、5~24Vの電源供給が可能です。 PLC、電圧データロガー、パネルメータなどに接続して活用できます。 【特長】 ■Sensirion(センシリオン...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社シスコム(SysCom)

  • OWON XDG3000シリーズ  2-CH任意波形発生器 製品画像

    OWON XDG3000シリーズ 2-CH任意波形発生器

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    ・高度なDDS技術、最大250MHzの周波数出力 ・1.25GS / sのサンプリングレート、および1μHzの周波数分解能 ・最大1Mの任意の波形長 ・垂直解像度:14ビット ・包括的な波形出力:6つのグループ基本波形と152のグループ組み込み任意波形 ・包括的な変調オプション:AM、FM、PM、FSK、3FSK、4FSK、PSK、OSK、ASK、BPSK、PWM、スイープ、バースト ...

    メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社 オウオンサポートデスク

  • 1ライン3CH設置や、工程前後に測定が可能!多ポイント膜厚測定 製品画像

    1ライン3CH設置や、工程前後に測定が可能!多ポイント膜厚測定

    多CHでの前後の測定が可能な、多ポイント膜厚測定。複数の受光ヘッドを使…

    『FF8』は、サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT(フ-リエ変換膜厚計)や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 オプションにて膜の厚みの差やム...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムロード

  • 光通信用の基本測定器・光マルチテスタ『OMTシリーズ』 製品画像

    光通信用の基本測定器・光マルチテスタ『OMTシリーズ』

    波長モニタ機能を内蔵したパワーセンサ登場!光スイッチ・光アッテネータな…

    ちの計測器と組み合わせ、生産ラインなどでの自動測定機構も容易に構築できます。 【ラインナップ】 ■波長モニタ付パワーセンサ【OMT-1360】   光パワーと波長を同時測定 ■1ch/2chパワーセンサ【OMT-1330/1331】   全chアナログ出力付き ■光アッテネータ【OMT-1410】 ■光スイッチ【OMT-1511/1520/1530/1540】   1×2 1...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アルネアラボラトリ

  • PCIボード TCSPC & MCSモジュール 製品画像

    PCIボード TCSPC & MCSモジュール

    最大2チャンネルのPCIボード型モジュール。ベース分解能 ナノ秒orピ…

    ●1or2 入力チャンネル&同期チャンネル ●ベース分解能 25ps or 1ns ●デッドタイムが短い ●カウントレート 最高 40Mcps の時間タグ機能 ●32768 ヒストグラムチャンネル TimeHarp 260 はコンパクトで使いやすい、時間相関単一光子カウンティング (TCSPC) 及びマルチチャンネルスケーリング (MCS) 用のPCIボードです。高い時間分解能ながら...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

  • HyperFADC(ハイパー・エフエーディシー) 製品画像

    HyperFADC(ハイパー・エフエーディシー)

    10km先の微弱信号を1GHzでサンプリングできる 世界唯一のソリュ…

    ●1LSB=29μVの分解能 ● ジッタ0.5psの高精度クロック源 ● QSFP+規格40Gb光ファイバ出力 ● 標準規格JESD204Bの出力フォーマット ● 12~16bit,2ch,1Gサンプリング/秒 ● SNR(Signal-to-noise Ratio) -70dB@170dB (T.B.D) ● THD(Total harmonic distortion) -8...

    メーカー・取り扱い企業: 特殊電子回路株式会社 本社

  • マルチポテンショ・ガルバノスタット『PS-04』 製品画像

    マルチポテンショ・ガルバノスタット『PS-04』

    各チャンネルは独立し、別々に測定動作が可能!大電流から微小電流をカバー…

    『PS-04』は、1台で最大4CHまで増設可能なマルチポテンショスタットです。 各チャンネルは独立しており、別々に測定動作が可能です。 エレクトロメータ・ポテンショスタット・ガルバノスタット・ 無抵抗電流計として、独立に設定操作ができます。 大電流から微小電流をカバーし、±15V,±2A~±200nAワイド8レンジ GPIBおよびRS232C(USB)付です。 【特長】...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東方技研

  • 分光イメージングユニット 製品画像

    分光イメージングユニット

    スキャニング操作を加えることにより、2次元データ取得が可能!

    当社では、2次元的に測定対象物を捉え、部位毎の分光情報を取得・解析・ 表示する技術を有する『分光イメージングユニット』を取り扱って おります。 部位毎にデータを分光分析することにより、素材の物理・化学的情報が 得られ画像として表示することが可能です。 【特長】 ■小型・軽量(当社製従来品比較、容積で約1/8、重量で1/8) ■高分解能(空間軸解像度、波長軸解像度が高い) ■...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社分光応用技術研究所 本社

  • 非接触膜厚計『FF8』※カスタム仕様等の対応可能! 製品画像

    非接触膜厚計『FF8』※カスタム仕様等の対応可能!

    測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定シ…

    『FF8』は、サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT(フ-リエ変換膜厚計)や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 【標準測定】 測定範囲(分解能) 対応...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムロード

  • 水中での膜厚測定されたい方必見!水中膜厚計『FF8』 製品画像

    水中での膜厚測定されたい方必見!水中膜厚計『FF8』

    空気中と水中でSi基板上のSiO2膜(シリコン酸化膜)を測定!薄膜解析…

    『FF8』は、サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT(フ-リエ変換膜厚計)や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触水中膜厚計です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 空気中と水中でSi基板上のSiO2膜(シリコ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムロード

  • 顕微鏡膜測定や非透過サンプル膜厚測定も可能!非接触膜厚計 製品画像

    顕微鏡膜測定や非透過サンプル膜厚測定も可能!非接触膜厚計

    お持ちの顕微鏡とドッキングも可能!顕微鏡膜測定と2D分光放射オプション…

    『FF8』は、サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT(フ-リエ変換膜厚計)や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 オプションでは、顕微鏡膜測定や...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムロード

  • 【カスタム仕様等の対応可能】非接触膜厚計『FF8』 製品画像

    【カスタム仕様等の対応可能】非接触膜厚計『FF8』

    測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定シ…

    『FF8』は、サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、FFT(高速フーリエ 変換)等によって膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 連続測定機能やトラバース機構、データ通信機能の製作も可能ですので、 イ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムロード

  • 光測定装置『Effect Optical System II』 製品画像

    光測定装置『Effect Optical System II』

    LED開発のスピード、作業性、製品の品質向上に貢献します。

    リットに依存) [ソースメーター] ○外形寸法:104mm×238mm×460mm ○入力電圧:AC100-240V 50Hzまたは60Hz ○出力範囲:1μV~200V/1pA~10A/2ch ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イフェクト

  • OWON XDG2000シリーズ  2-CH任意波形発生器 製品画像

    OWON XDG2000シリーズ 2-CH任意波形発生器

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    ・最大100MHz周波数出力 ・ 500MSa / sサンプルレート、垂直解像度1μHz ・14ビット垂直解像度、10 Marb波形長 ・包括的な波形出力:6つの基本波形、 および150の内蔵任意波形 ・包括的な変調機能:AM、FM、PM、FSK、FSK、4FSK、PSK、OSK、ASK、BPSK、PWM、スイープ、バースト ・高精度周波数カウンターが統合され、サポートされている範囲1...

    メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社 オウオンサポートデスク

  • 【カスタム仕様等の対応可能】非接触膜厚測定システム『FF8』 製品画像

    【カスタム仕様等の対応可能】非接触膜厚測定システム『FF8』

    測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定シ…

    『FF8』は、サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、FFT(高速フーリエ 変換)等によって膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 連続測定機能やトラバース機構、データ通信機能の製作も可能ですので、 イ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムロード

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