非接触式伸び歪み計『Strainscope2』

PR破断する前に伸び計を取り外す必要がなく、作業時間を短縮。他メーカーの試…

非接触式伸び歪み計『Strainscope2』は、試験片にマーキングされた標線を CCDカメラで撮影し、伸びや歪みを計測する装置です。 非接触式のため、破断が発生する前に伸び計を取り外す必要がなく、 着脱作業にかかる時間を短縮でき、効率を高められます。 【特長】 ■リアルタイムで波形を画面に表示して確認可能 ■標線を自動追尾して専用のデータ処理ソフトで計測 ■金属・プラスチック・ゴムなど様々な...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京衡機試験機

回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催

多層膜の膜厚・屈折率を非接触で高精度測定。本体の操作や解析作業が容易　…

Mueller Matrix、偏光解消度、反射率・透過率、ドーパント濃度、 リタデーション(R0、Rth)などに関する検査にも対応しており、幅色い用途で活用可能です。 【特長】 ■高精度CCD、高分解能PMT搭載　　　■光学モデルのデータベースが豊富 ■多彩な拡張オプション　　　　　　　■販売実績が多数 〈　セミナー詳細　〉 ■テーマ：分光エリプソメータ 解析モデル作成手順の...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

全自動拡がり抵抗測定装置　SRP2000

全自動拡がり抵抗測定装置

・簡単なキーボード操作によるオペレーションのみで測定が可能となり、熟練作業が不要。 全自動による複数サンプルの連続測定が可能なため、オペレータのシステムへの拘束時間が大幅に短縮。 ・CCDカメラ・ビジョンシステムにより２探針とサンプルとの位置合わせを自動化。 ・探針のコンディショニングと較正曲線の入力を自動化。 ・一度に６つの試料台がマウントでき、多数サンプルの連続測定が可能。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

LSTは、CCDカメラを使用し、切断されたウェハーサンプル断面の結晶欠陥を測定します。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社