HL-720　チューブ搭載IC３次元外観検査装置

HL-720　チューブ搭載IC３次元外観検査装置

高精度３次元画像計測方式で、効率的かつ精密にリードの外観検査、マーク検査、表面検査を行うシステムです。システムの工程は次に通りです。まず、チューブ側にあるICのマークと表面をヘッドに搭載された移動CCDで２次元スキャンし、ICを吸着後、固定CCD上で３次元外観検査を行い、アウト側のチューブにICを格納します。チューブ院とアウトが交互に動くので、IC吸着、格納時の時間のロスが軽減されます。また、チ...

メーカー・取り扱い企業： ファルコン電子株式会社 横浜本社、台湾、香港、蘇州書込み工場

電子部品6面外観検査装置

チップ部品の高速6面検査を行う、2次元CCDカメラによる画像検査機です

電子部品6面外観検査装置は、チップ部品の高速6面検査を行う、2次元CCDカメラによる画像検査機です。チップ部品をパーツフィーダーから搬送してチップ面の6面を検査します。ライン計測とずらし減算を主体とした独自の検査ロジックにより、実用的な検査ができます。オペレータはタッ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ヒューブレイン

マルチ媒体対応デバイス自動書込み装置

マルチ媒体対応デバイス自動書込み装置

/OUTいずれの組合せも可能）IC自動搬送、自動プログラミングシステムです。パワフルなソフト制御で確実な書きこみ、テスト、搬送媒体変換、マーキングが可能です（書込み以外はオプション仕様）。位置決めCCDカメラが２台搭載されていることに加えて、専用モジュールが効率的で確実なマルチサイトIC書込みを実現します。様々なI/Oが簡単に設定可能で、ICが格納されている媒体に合わせて、IN/OUTの媒体をフ...

メーカー・取り扱い企業： ファルコン電子株式会社 横浜本社、台湾、香港、蘇州書込み工場

【納入実績】計測・制御機器　イメージセンサ検査用 標準光源装置

半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置。

CCDやCMOS形のイメージセンサ、エリアセンサ、リニアセンサ、 近赤外線センサなどの半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置です。 光源装置は、半導体製造前工程テスト（ウェハの電気的特性試験）や、 後工程テスト（パッケージの電気的機能試験）、R＆D評価試験などで、 テストシステム装置と接続して使用されます。 各種テストシステムと接続が可能で、300mmウェハ対応、低照度対応...

メーカー・取り扱い企業： 応用電機株式会社 神奈川事業部（大和工場）

X線TV検査装置『SOFTEX SHR-90』

SOFTEX製Micro-focus搭載！超高解像度を実現したX線TV…

xel＜スタンダードタイプ＞ 　　　　　2304×1300pixel＜高解像度タイプ＞ ■センサタイプ：CMOSセンサ ■テーブルストローク：250×330mm ■テーブル制御機能：可視光CCDマッピング＋テーブル制御プログラム機能 ■CTスキャンシステム：3DCTスキャンシステム搭載可能＜オプション＞ ■傾斜角度：60度 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下...

メーカー・取り扱い企業： ソフテックス株式会社 営業本部

X線TV検査装置『SFXシリーズ』

高倍率・高解像度・高濃度分解能を実現！コンパクトなX線TV検査装置

0.2／0.25／0.3／0.5／0.2 ■焦点サイズ[μm]：5／5／8／5／1 ■最大設定倍率：約600倍／約600倍／約500倍／約550倍／約1800倍 ■カメラ：軟X線 I.I.+CCDカメラ ■解像度：トータル 33.3Lp/mm以上 ■移動距離 　・X-Yテーブル：250×330mm 　・Zテーブル：300mm 　・カメラ上下：オプション 400mm ■漏洩線量：...

メーカー・取り扱い企業： ソフテックス株式会社 営業本部

X線検査装置『EMT-J』

SOFTEXオリジナルX線発生器搭載！設置場所を選ばないX線検査装置

60Hz ■X線発生源：SOFTEX製マイクロフォーカス　密封管 ■X線最大出力：80kV　0.1mA ■焦点サイズ：10μm ■X線ディテクタ：イメージ・インテンシファイア(I.I.)＋CCDカメラ ■テーブルサイズ：200×200mm ■テーブルストローク：150×150×100mm ■画像処理計測ソフト：SOFTEX製ソフト(ZET-1)計測機能付 ■外部漏洩線量：1μSv...

メーカー・取り扱い企業： ソフテックス株式会社 営業本部

自動プログラミングシステム

電子機器の量産に適したデータ書込みと書込み作業の自動化、品質向上、作業…

自動プログラミングシステムは、トレイから書込み部へのデバイス搬送や書込み後のトレイへの収納を自動で行う自動化システムです。 CCDカメラの画像処理によりICソケット、トレイの位置情報を取得し、制御プログラムに設定を行う自動位置決め機能を搭載しています。 取得したソケットとトレイの位置情報に基づき、位置補正をしながら...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社カナデン 本社

高性能ウェハ・マスク破断装置『AMCシリーズ』

SEM用断面観察試料を簡単に作製！最小±2.5μmの位置精度でのけがき…

【ラインアップ】 ■AMC-7600：AMCシリーズ基本形 ■AMC-7800：CCDカメラを搭載して操作性がUP ■AMC-8000：最高機種(高いけがき位置精度) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アプコ

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

LSTは、CCDカメラを使用し、切断されたウェハーサンプル断面の結晶欠陥を測定します。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

【撮影画像 写真集進呈】X線非破壊査装置　SHRシリーズ

操作性が大幅アップ！ハイスピードX線画像・マッピング機能を搭載したX線…

xel＜スタンダードタイプ＞ 　　　　　2304×1300pixel＜高解像度タイプ＞ ■センサタイプ：CMOSセンサ ■テーブルストローク：250×330mm ■テーブル制御機能：可視光CCDマッピング＋テーブル制御プログラム機能 ■CTスキャンシステム：3DCTスキャンシステム搭載可能＜オプション＞ ■傾斜角度：60度 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下...

メーカー・取り扱い企業： ソフテックス株式会社 営業本部