• オーダーメイド型スパッタリング成膜装置 製品画像

    オーダーメイド型スパッタリング成膜装置

    PR難しい材料、様々な基板形状、用途にも!非常に幅広い基板サイズに対応可能

    当社では、研究・試作から量産まで対応可能な「オーダーメイド型 スパッタリング成膜装置(PVD)」を取り扱っております。 フレキシブルエレクトロニクス、光通信技術、薄膜太陽電池や バッテリー等の薄膜デバイスの研究開発から量産まで装飾や 表面保護のためのコーティングにも対応。 サンプルサイズ、成膜対象マテリアル、バッチプロセス等、お客様の 用途に応じて組み立てることが可能です。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: プラズマ・サーモ・ジャパン株式会社

  • 簡単導入!電子実験記録ノート『BIOVIA Notebook』 製品画像

    簡単導入!電子実験記録ノート『BIOVIA Notebook』

    PR【使用開始にあたり特別な準備やトレーニングが不要!】シンプルな画面構成…

    電子実験ノート 『 BIOVIA Notebook 』は簡単に導入・運用できるELN/電子実験ノートで、研究開発部門のDX化推進に好適なツールです。 実験業務において、研究開発のスピードUP、コスト削減、 組織間情報共有を実現することで研究開発でのイノベーションを促進します。 過去には数億円規模でのコストダウンや4,000ユーザの運用でも専任不要の実績がございます。 また BIOVIA Note...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ウェーブフロント 本社

  • 半導体製品の信頼性トータル・ソリューション 製品画像

    半導体製品の信頼性トータル・ソリューション

    半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート

    度・ズレ強度   ■ESD / Latch Up / CDM試験   ■電気特性計測   ■塩水噴霧試験  ●分析・解析   ■X線透過観察   ■超音波顕微鏡観察   ■発光解析(EMS/IR-OBIRCH)   ■走査型電子顕微鏡(SEM)   ■透過型電子顕微鏡(TEM)   ■表面汚染分析(TOF-SIMS)   ■異物分析(FT-IR) ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 静電破壊した橙色LEDの不良解析 製品画像

    静電破壊した橙色LEDの不良解析

    良品と静電気(ESD)破壊品の輝度・特性の比較、EMS顕微鏡による発光…

    当社では、静電破壊した橙色LEDの不良解析を行っております。 ESD試験にて破壊され、発光強度の低下したLEDはエミッション発光と IR-OBIRCH法を用いて解析し、不良現象を明らかにすることが可能です。 「良品と静電気(ESD)破壊品の輝度と特性比較」や「エミッション 顕微鏡による発光解析」などの事例がございます。 【解析例】 ■良品と静電気(ESD)破壊品の輝度と特性...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • アイテス 装置一覧 製品画像

    アイテス 装置一覧

    アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です

     ・レーザー顕微鏡  ・SAM/SAT  ・X線透視装置  ・SEM/FE-SEM ■電気特性測定  ・カーブトレーサ  ・パワーデバイスアナライザ ■不良解析・故障解析  ・EMS/IR-OBIRCH  ・EBIC ■試料加工  ・FIB  ・回転式研磨台  ・イオンポリッシャー  ・斜め切削装置 ■信頼性評価試験  ・液槽式/気槽式 冷熱衝撃試験装置  ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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