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    EMI(エミッション)トータル試験システム MR2300

    PR手近なところでノイズ対策!EMIは事前試験で効率アップ。

    MR2300は当社のスペクトラムアナライザ技術、電波暗箱技術およびアンテナ技術を結集した統合システムです。 EMIトータル試験システム MR2300の特長 ■追加設備のいらないEMIトータル試験システム アンテナ、EMI用スペクトラムアナライザ、LISN、EMI用PCソフトウェアのみならず、電波暗箱まで全てが揃ったトータル試験システム ■自社開発の小型・広帯域アンテナ 30M...

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    メーカー・取り扱い企業: マイクロニクス株式会社

  • 独自技術を採用したガラス加工用レーザー装置 製品画像

    独自技術を採用したガラス加工用レーザー装置

    PR高速かつ正確なガラス微細加工が可能。加工時の応力を抑えて、マイクロクラ…

    『LPKF Vitrion M 5000 Gen2』は、独自に開発した「LIDEプロセス」を採用し、±5μm以下の高精度でガラス微細加工が可能なレーザーシステムです。 加工時の応力を最小限に抑え、チッピングやマイクロクラックの発生を防止。 アドバンストパッケージングで標準使用される150×150mmから 510×515mmまでの大型パネルに対応し、基板のサイズや 形状に合わせて柔軟に対...

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    メーカー・取り扱い企業: LPKF Laser&Electronics株式会社

  • クランプメーター| Fluke 381 製品画像

    クランプメーター| Fluke 381

    マグネット式のディスプレイを測定地点から離れた場所に置くことが可能にな…

    (同梱) を使用すると、測定レンジが 2500 A AC まで拡大し、ディスプレイに関する柔軟性が向上し、厄介な大きさの導体も測定でき、電線にアクセスしやすくなります。 安全性適合 IEC/EN 61010-1:2001 1000V CAT III、IEC/EN 61010-1:2001 600V CAT IV ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社テクトロニクス&フルーク

  • mA ループ校正器|Fluke 789 プロセスメーター 製品画像

    mA ループ校正器|Fluke 789 プロセスメーター

    マルチメーターとループ校正器を1台のツールにしたプロセスメーター

    ループ校正器/シミュレーター ・手動ステップ (100 %、25 %、粗調整、微調整)、自動ステップ、自動ランプ ・バッテリー外蓋から簡単にバッテリー交換可能 安全性適合 1000 V EN61010-1 CAT III 標準および 600 V EN61010-1 CAT IV 標準に適合します。 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社テクトロニクス&フルーク

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