3500V高圧ソースメータ

PR±3500V高圧ソースメータ

・±3500V/±120ｍA/180W ・最高分解能1fA/100uV ・1M　ACD ・最大10GΩ測定...・±3500V/±120ｍA/180W ・最高分解能1fA/100uV ・1M　ACD ・最大10GΩ測定...

メーカー・取り扱い企業： Semi Next株式会社

【NEW】2024年度版『オプティクス＆フォトニクスカタログ』

PR光学部品の総合カタログ、全468ページ！レンズ、ミラー、フィルターなど…

当社の新製品・人気製品を中心にまとめた 『2024年度版 オプティクス＆フォトニクスカタログ』を配布中です！ 全468ページの大ボリュームで20、000品目以上を紹介。 製品の特長や価格情報だけでなく、 レンズやミラーの選定ガイドや、テクニカルガイドも随所に収録。 光学分野の研究者、設計者、OEMユーザーに役立つ情報が満載です。 【掲載製品】 ■オプティクス(光学素子)　■オプトメカニクス ■...

メーカー・取り扱い企業： エドモンド・オプティクス・ジャパン株式会社

200mm高精度手動プローブシステム『WL-210-LE』

正確な測定のためのローカルエンクロージャー付 Signatone社製プ…

当社では、ローカルエンクロージャー付きで、高い信頼性を誇る200mm高精度手動プローブシステム『WL-210-LE』を取り扱っております。 故障解析（FA）、RF及びmmWウェーハレベルの信頼性、デバイス特性評価など、様々なアプリケーションに対応。 ローカルエンクロージャーは低ノイズに加え、低静電容量の測定に 優れたEMIシールド及び遮光環境を提供...

メーカー・取り扱い企業： 東機通商株式会社

原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX20』

故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール

機能が装備されています。 また、真のノンコンタクト(TM)モードのスキャンによって、チップがより鋭く、 かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社