• CZウェーハ エピ受託加工 SiGeエピウェーハ 他 製品画像

    CZウェーハ エピ受託加工 SiGeエピウェーハ 他

    PR小ロットからの対応可能です。特殊なエピ、多層エピなどにも出来るだけ対応…

    「エピウェーハ」 1. ディスクリートデバイス向けや IC powerデバイス向けに使用されております。 *直径: 100-200 mm *Epi層ドーパント: Boron 、Phosphorous *Epi層抵抗値: 0.01-500 Ω/cm *Epi厚: 1-150 um *Stacking fault: 10 /cm2 以下 *Thickness Uniformity: ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エナテック 東京本社

  • 堅牢タブレット『EDGE-PAD PRO』【※事例集を無料進呈】 製品画像

    堅牢タブレット『EDGE-PAD PRO』【※事例集を無料進呈】

    PR部品取り付け漏れの防止や商品の在庫管理などにお役立ち。ノートPCの強度…

    当社で取り扱う、堅牢タブレット『EDGE-PAD PRO』のユースケース についてご紹介します。 部品チェックシステムにおける部品取り付け漏れの防止をはじめ、 遠隔体温モニタリングシステムとして非接触でモニタリングも可能。 また、小売店舗での作業端末として商品の在庫管理や、 ロボティクスコンストラクションクレーン制御でLTE対応・ 長時間稼働といった事例もございます。 【...

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    メーカー・取り扱い企業: ナラサキ産業株式会社 メカトロソリューション部 機能材料課

  • 組成比勾配のあるSi(1-x)Gex 試料の定量化 製品画像

    組成比勾配のあるSi(1-x)Gex 試料の定量化

    2点の問題を解決するために濃度既知の試料を3点以上分析。

    歪 Si デバイスに用いられる組成比勾配を持つ Si(1-x)Gex膜の深さ方向に 対するGeの濃度分布を正確に定量するのに SIMS(2 次イオン質量分析法)が 用いられます。 SIMS で Si(1-x)Gex 膜を分析する際に 2 点解決しなければならない問題があり、 1点目はSi に対する Ge の2次イオン強度が組成比の変化に伴い大きく変化 するので、組成比毎の相対感度因子...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

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