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フレキシブル半導体製造装置『SHUTTLELINEシリーズ』
PR薄膜堆積用PECVD・ドライエッチング・故障解析用プロセス対応。多機能…
『SHUTTLELINE(R)シリーズ』は、RIE/ICP-RIE、PECVD/ICP-CVDに対応し コンパクトながら高性能かつ多機能な半導体製造装置です。 成膜とエッチングプロセスを一台で実現し、様々なウエハサイズと形状に対応可能。 シャトルシステムにより、異なるサンプルサイズでもハードウェアの変更が不要です。 世界で広く採用されており、Plasma-Therm LLCの グ...
メーカー・取り扱い企業: プラズマ・サーモ・ジャパン株式会社
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Nordic Bluetooth DK(開発キット)無料進呈
PR【先着8名】MDBT50Q-DB-33(nRF52833 BLEモジュ…
MDBT50Q-DB-33を購入いただいたお客様先着8名様のみ。 Nordic Semiconductor社 Bluetooth ver.5.4対応の最新モデルnRF52833を搭載したBLEスタックモジュールの開発ボードです。 先着8名様に限り、MDBT53-DB-40を購入いただいたお客様にNordic nRF52833 DK(開発キット)を無料進呈。 お気軽に御見積のご依頼、お問合せ下さい...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フクミ
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WEEE&RoHS・ELV対策が必要になります!10種類の有害化学物質…
い。 試料の種類、数量、ご依頼時期によっては通常よりお時間を頂く場合があります。 【分析機器】 ■蛍光X線分析装置 ■GC-MS ■高分解能GC-MS ■イオンクロマトグラフ ■ICP-AES ■ICP-MS ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人東海技術センター
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基盤や部材中の含有量、ばらつき状況などを分析!短時間~一週間ほどで結果…
【分析機器の一例】 ■蛍光X線分析装置 ■ICP質量分析装置 ■ICP発光分析装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人東海技術センター
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PCB含有の可能性のある構造物に。塗膜に関することはなんでもお気軽にお…
有量試験方法 ・QMS法 ・HRMS法 ■含有量試験 対応可能な分析方法 <鉛> ・JIS K 5674 鉛・クロムフリーさび止めペイント 付属書 A-塗膜中の鉛の定量 ・完全溶解後、ICP発光分光分析法 <六価クロム> ・JIS K 5674 鉛・クロムフリーさび止めペイント 付属書 B-塗膜中のクロムの定量 ・アルカリ抽出後、ジフェニルカルバジド吸光光度法 <コールタール...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人東海技術センター
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製品や部材等の品質に関する様々な分析・試験を受託!是非ご用命下さい
象物や測定条件などで異なります。 【主な品質分析用装置(一部)】 ■蛍光X線装置(波長分散、エネルギー分散) ■X線回析装置 ■イオンクロマトグラフ分析装置 ■顕微赤外分光装置 ■ICP発光分光装置(シーケンシャル型) など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人東海技術センター
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