パワーデバイステスター（半導体テスター）『N50シリーズ』

コンパクト＆高速計測！200V耐圧仕様のパワーデバイステスター（半導体…

【開発評価用途等のカスタム】 ■di/dt耐量 ・MOSFETのボディーダイオードの逆回復動作の破壊試験 ■dv/dt耐量 ・MOSFETに寄生するNPNトランジスタが2次降伏を起こさないかの試験 ■サージ耐量ダイオード ・非繰返しピーク順電流“I...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター

【SiC・GaN対応】パワーデバイステスター（半導体テスター）

SiC、GaNなど新素材に対応すべく、高耐圧、高速スイッチング用途の計…

当社では、開発評価用途等のカスタムニーズにも対応いたします。 ・di/dt耐量：MOSFETのボディーダイオードの逆回復動作の破壊試験 ・dv/dt耐量：MOSFETに寄生するNPNトランジスタが2次降伏を起こさないかの試験 ・サージ耐量（ダイオード）：非繰り返しピーク順電流“IF...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター