ADLINK USB DAQ USB-7230/7250

絶縁型USBデジタルI / Oモジュール

30) / 8(USB-7250) ■光絶縁型周波数/イベント·カウンタ チャンネル数: 2 ■光絶縁型出力 チャンネル数: 16 出力タイプ: Open drain MOSFET 電源電圧: 5-35VDC ■一般仕様 インターフェース: High speed USB 2.0 データ転送: Programmed I/O サイズ: 156.5 (L)...

メーカー・取り扱い企業： サンテックス株式会社

パワーデバイステスター（半導体テスター）『N50シリーズ』

コンパクト＆高速計測！200V耐圧仕様のパワーデバイステスター（半導体…

【開発評価用途等のカスタム】 ■di/dt耐量 ・MOSFETのボディーダイオードの逆回復動作の破壊試験 ■dv/dt耐量 ・MOSFETに寄生するNPNトランジスタが2次降伏を起こさないかの試験 ■サージ耐量ダイオード ・非繰返しピーク順電流“I...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター

【SiC・GaN対応】パワーデバイステスター（半導体テスター）

SiC、GaNなど新素材に対応すべく、高耐圧、高速スイッチング用途の計…

当社では、開発評価用途等のカスタムニーズにも対応いたします。 ・di/dt耐量：MOSFETのボディーダイオードの逆回復動作の破壊試験 ・dv/dt耐量：MOSFETに寄生するNPNトランジスタが2次降伏を起こさないかの試験 ・サージ耐量（ダイオード）：非繰り返しピーク順電流“IF...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター

半導体カーブトレーサ　「CS-3100」

各種半導体の特性測定に最適

半導体カーブトレーサ　「CS-3100」は、IGBT、MOSFET、トランジスタ、ダイオードなど各種半導体の特性測定に最適です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マックシステムズ

【資料】しるとくレポNo.39＃カーブトレーサでの評価

測定環境に合ったカスタマイズも対応可能！カーブトレーサ自動測定システム…

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ 皆さんはMOSFETやバイポーラトランジスタ等の半導体の電気特性を 評価する際、どのような計測器を使用されていますか？ 専用のテスタもありますが、手軽に評価できるカーブトレーサも 便利ですよね。でもカーブ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology