実験・研究開発用途 受託成膜サービス『ALD（原子層堆積）装置』

PRご要望のプリカーサによる各種サンプルへの成膜をお手伝い。ライブデモ、パ…

ワッティーでは、ALD装置を使用した『受託成膜サービス』を行っております。 Al2O3、TiO2、ZrO2、HfO2、RuO2、SiO2、TiN等、各種酸化膜・窒化膜の成膜が可能。 成膜可能サイズは小チップからパイプ、フィルム等、300mmの大きさまで対応可能です。 ご要望のプリカーサによる各種サンプルへの成膜のお手伝い、お客様立会い によるライブデモや、ご希望のレシピ、パラメータ...

メーカー・取り扱い企業： ワッティー株式会社

ThetaMetrisis社　非接触ポータブル膜厚計

膜厚の測定に好適。多層膜厚み同時測定も可能な非接触ポータブル膜厚計

非接触ポータブル膜厚計は、PC（USBポート）から電源供給。研究現場や製造現場に持ち込み、瞬時に測定できます。 研究室のみならず、 現場でも使いやすいThetaMetrisis社の非接触型の膜厚計です。 【特長】 ○多層膜厚み同時測定も可能！ →例：PMMA/poly-Si/Si3N4/SiO2 10層までの膜厚を測定できます。 ○リアルタイムモニタリングなど 未乾燥の塗膜、硬化収...

メーカー・取り扱い企業： オーテックス株式会社

三次元光屈折率・膜厚測定装置　プリズムカプラ　SPA-3DR

試料のX軸・軸・Z軸の光屈折率を回転しながら測定！FPD用フィルムやS…

Sairon Technology, Inc. 三次元光屈折率・膜厚測定装置　プリズムカプラ　SPA-3DRは、試料のX軸・Y軸・Z軸の光屈折率を回転しながら測定します。測定対象は透明フィルム、透明フィルム上の薄膜、石英、液体などがあり、FPD用フィルム、SiO2等の３次元複屈折率測定などの用途に適しています。搭載レーザーは405nm-1550nmの範囲で、4種まで搭載可能、複屈折率測定は、X-Y...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

膜厚測定システム　SKOP

オーシャンオプティクス社分光器を使用した安価・簡易膜厚測定システム！

SKOP (Starter Kit for Optical thickness measurement) 光学式膜厚測定システムは、 光学薄膜の分光反射率を測定し、そのスペクトルを解析することで薄膜の厚みを測定するシステムです。 基板上の薄膜はエタロンとして作用し、反射スペクトルに干渉パターンを引き起こします。 パターンの正弦波ピークの間隔は、材質の屈折率と膜の厚みに相関があります。 SKOPで...

メーカー・取り扱い企業： オプトシリウス株式会社

非接触なので短時間で測定可能！反射分光式膜厚計 ※レンタルあり

【レンタルなら最短で当日発送】反射分光式膜厚計はSiO2膜やITO膜、…

反射分光式膜厚計は光干渉式膜厚計や光学式膜厚測定機などとも呼ばれ、透明薄膜表面の反射と裏面の反射による干渉を利用し非接触で膜厚を測定する手法です。 あすみ技研では、高額な装置を導入するのではなく、使い方にあった 利用をご提案し、失敗のない装置の選定をお客様にしていただくために 反射分光式膜厚計のレンタルをご提案します。 まとまった予算が無くても、抑えた金額ですぐご利用でき、 短期...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社あすみ技研