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PR半導体パッケージの電気検査のプローブピンへの半田転写、先端摩耗及び半田…
『Probe Pin Saver(プローブピンセーバー)』(PPS)は、半導体パッケージの電気検査時に発生するプローブピンへの半田転写、ピンの先端摩耗及び、半導体パッケージの半田ボールダメージを抑制する異方性導電シートです。 半導体パッケージとプローブピン間へ挟んでご使用頂くことで、半田ボールとプローブピンのハードな接触を回避しますので、半田ボールに与えるダメージを軽減すると同時に、プローブピン寿...
メーカー・取り扱い企業: ユナイテッド・プレシジョン・テクノロジーズ株式会社 本社
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少量多品種量産でコスパを実現!省エネ省材料の小型射出成形装置
PR精密部品からはすば歯車、内ネジ部品まで幅広く成形可能!幅広い部品を少量…
エプソンテックフオルムの小型成形機『AE-M3RU』は ローターユニットが搭載された金締め力3tの横型小型成形機です。 独自開発したフラットスクリュテクノロジーやホットランナーを成形機本体に標準搭載することで 従来機の特長を引き継ぎ、少量多品種量産でコスパを実現します。 また『AE-M3RU』は、はしば歯車や内ネジなどより幅広い部品に対応するためにローターユニットを搭載。 この回...
メーカー・取り扱い企業: エプソンテックフオルム株式会社
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ドイツコンパクトマイクロナノ工業CTシステム diondo d1
最小および中サイズの分析と測定に最適 高性能透過型X線源の採用により…
diondo d1 は、小型および中型部品の分析および測定用に特別に設計された高解像度マイクロ・ナノ CT システムです。 従来のシステムと比較して、d1 は高出力透過 X 線源を使用することで、同じ測定時間で最大 4 倍の分解能を達成でき、同じ分解能で測定時間を 1/4 に短縮できます。 非常に高い送...
メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社
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ドイツ 万能型サブマイクロフォーカス工業CT diondo d2
小型および中型部品の分析および測定用に特別に設計された万能型サブマイク…
検査分析から、VDI/VDE 2630 1.3 規格に準拠した高精度度量衡座標測定技術、製品の生産管理に至るまで、幅広い用途に使用できます。 diondo d2 万能型サブマイクロフォーカス工業 CT システムは、その極めて高い適応性により、科学研究と産業の両方で新たな基準を打ち立てています。 ▪ 高解像度 3D 解析 低密度材料から完全なアセンブリまでの 3D 解析 ▪ オプショ...
メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社
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熱膨張率が低い花崗岩ステージ!2種類の検出器が搭載可能な高出力 X 線…
躍が可能になります。 ▪ さまざまな組み合わせが可能 特定の試験ニーズを満たすために最大 2 つのチューブと 2 つの検出器を装備 ▪ 革新的なソフトウェア パッケージ スパイラルCT、散乱補正、平面CT撮影など、多彩な検査ソリューションに対応。 ▪ 座標測定技術 VDI/VDE 2630-1.3 規格に準拠した再現可能な 3D 測定テクノロジーにより、最高の測定要件を満...
メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社
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高密度部品の分析・検査のための高性能線形加速器CT装置
性能レベルは3MeV、6MeV、9MeV、無段階調整可能 ▪ 機械システム 顧客のニーズに応じてさまざまなサイズをカスタマイズできます。 ▪ フラットパネル検出器 リニアック CT に最適化された高解像度 (140μm) フラットパネル検出器 ▪ ラインアレイ検出器 リニアック CT に最適化された高解像度 (200μm) リニアアレイ検出器...
メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社
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