★中心粒径250nm～★焼結体向け超微粒SiCパウダー

PR【低温焼結・高密度化】焼結用材料に好適！超微粒α-SiCパウダー

当社独自のSiC(炭化ケイ素)微細化技術を活かしたα-SiCパウダー『GC#40000』をご提供 『Dv50（中心粒径）：0.25μm』の超微粒SiCによる、優れた焼結性を示します （GC#40000を焼結体原料に使用により期待されるメリット） 　・低温焼成：CO2削減、ランニングコスト低減 　・緻密化　：成形体強度の向上、ポアの抑制 ※プレス成型や金型における流動性が必要な場合、球状SiC造...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フジミインコーポレーテッド

【展示会出展】SONY製センサ採用　InGaAsカメラシリーズ

PR400～1700nmの近赤外線領域に高い感度を有するInGaAs(イン…

2021年6月より大幅なプライスダウンを実現！ UVC・カメラリンク接続タイプも新登場！大好評販売中です！ 【用途】 ◆シリコンウェハー観察 ◆製品パッケージなどの欠陥検査 ◆樹脂透過による内部の検査 ◆水分の検出 ◆美術品の検査 ◆異種材料の識別 ◆近赤外線ビームの観察、検査 ◆太陽光パネルのEL発光検査 【特長】 ◆高画素タイプの130万画素(1280×1024)タ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アートレイ

非接触ビームモニタリングシステム『BeamWatch』

高出力ディスク&ファイバーレーザー測定！非接触ビームプロファイラーのご…

『BeamWatch（ビームウォッチ）』は、非接触ビームモニタリングシステムです。 kWクラスの高出力ディスク・ファイバーレーザー（波長帯域980-1080nm）の ビームプロファイル計測に対応。レイリー散乱の信号を計測し、レーザー光は 機構や光の特性に影響を与えることなく直接システム内部を通過し計測します。 システムは稼動部品が必要ない構成とな...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社オフィールジャパン

ビームプロファイラ『BeamWatch AM』

すべての測定がリアルタイム！起動直後に発生するフォーカルシフトの計測が…

【仕様】 ■波長：1060-1080nm ■最小集光スポット径：50µm ■パワーレンジ：50-1000 W ■Minimum Power Densities：1.5MW/CM2 ■ビームプロファイリング：ISO11146準拠 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社オフィールジャパン