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    プレートフィンクーラー フロン冷媒【使用圧カスタマイズ可】

    PR独自の技術でパイプとフィンの熱伝導率が高い!フィンピッチ、熱源の圧力な…

    松澤製作所の『プレートフィンクーラー 直膨式』は、 パイプを通過する気体を温めたり冷やしたりする熱交換器です。 独自の製造機械でフィンを圧入しているため パイプとフィンの熱伝達率が非常に高いことが特長です。 また、エロフィンでは対応しきれないチューブとフィンの材質組合せができたり、 フィンピッチも自由に決められるので、様々な条件に対応が可能。 熱源の圧力に応じたパイプ厚さを...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社松澤製作所

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    竪型二軸スクリューポンプ GemiL

    PRあんこ・おからなどペースト状食材をエアロックなしで安定移送。省人化・自…

    『竪型二軸スクリューポンプ GemiL』は、固形物や ペースト状食材などを安定して移送できる製品です。 高い自吸性能を持ち、エアロックや目詰まりを防止。スクリュー同士が接触せず、 ポンプ内壁とも接触しない“非接触回転式”により、摩耗による 異物混入のリスクを抑制し、食品の風味や食感を損なわずに移送できます。 また、追加の洗浄ポンプなしでCIP洗浄が可能なほか、 省スペース設計で...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ニクニ 本社、本社営業部、大阪営業所、名古屋営業所、福岡営業所

  • 【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価と酸化膜厚評価 製品画像

    【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価と酸化膜厚評価

    TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

    ステンレス(SUS)は耐食性に優れ、様々な工業製品・部品として使用されています。腐食に強い材料ですが、経年劣化や加工処理によって表面不動態皮膜の組成に変化が生じると不具合の原因につながります。今回、TOF-SIMSを用いてステンレス表面の金属酸化膜の状態について分析した事例をご紹介します。TOF-SIMSでは酸化物状態として分子情報を高感度に得ることで、表面数nm~数十nmの酸化物の分布を得ること...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    【分析事例】血液成分の洗浄残渣評価

    TOF-SIMSによる拭き取り残渣の可視化

    医療機器のパンフレット等に洗浄方法を記載する際には、その洗浄方法の妥当性を確認する必要があります。今回は医療機器の拭き取り方法の検証実験として、血液モデル薬物のウシ血清アルブミン(BSA)をアセチルセルロース(TAC)のシート・SUS製メス・ガラスにそれぞれ塗布し、拭き取り前後の成分残渣評価をTOF-SIMSで行いました。その結果、BSAの拭き取りには水よりもエタノールの方が適していることや、基質...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    【分析事例】めっき試料の脱ガス評価

    Ni/Auめっきの昇温脱離ガス分析(TDS)

    めっき膜にガスが含有されている場合、はがれや膨れ、膜中の気泡など不良の原因となる場合があります。めっき膜に含有されているガスについて調査するには、高真空中で試料を昇温させて脱離したガスを測定できるTDSが有効です。 SUS部材上にNi/Auめっきを施した試料について、TDS分析を行った結果を示します。めっき膜からH2, HCN, H2S, HClの脱離が確認できました。また、定量値の算出を行いま...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】TDSによるステンレス中水素脱離量の分析 製品画像

    【分析事例】TDSによるステンレス中水素脱離量の分析

    TDS(昇温脱離ガス分析法)で金属中水素の脱離量の評価が可能です

    鋼材など多くの金属材料は、常温で結晶格子内を拡散する拡散性水素により劣化(水素脆化)することが知られています。今回は水素を添加したステンレス板(SUS316L)について、TDSで水素の脱離量を評価した例を示します。150℃付近の低温域で拡散性水素と考えられる脱ガスピークが確認されました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XPS・AESによる深さ方向分析の比較 製品画像

    【分析事例】XPS・AESによる深さ方向分析の比較

    XPS:X線光電子分光法 AES:オージェ電子分光法

    XPSとAESは表面敏感な分析手法でありサンプル表面の評価に広く用いられますが、イオンエッチングを併用することで深さ方向の分析が可能となります。 深さ方向分析を行うにあたり、測定したい領域やサンプルの材質に応じてXPSとAESを適切に使い分けることが、目的に沿った分析を行う上で重要です。 XPSとAESの深さ方向分析の特徴について、SUS不動態膜の分析を例として比較します。...詳しいデータは...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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