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    近赤外線ヒーター(ヒートビームシリーズ)

    PRハロゲンランプヒーターより放射される光(近赤外線)を照射し、高温・急速…

    近赤外線ヒーター ヒートビームシリーズは、特殊高効率ハロゲンランプから照射される近赤外線を利用し、ライン状やスポット状または、面状の熱源が得られるヒーターユニットです。 反射鏡は特殊金メッキを施し、熱効率が高くコンパクトな設計。 熱源にはハロゲンランプを使用する事により、最大1200℃までの加熱と2mm~3mm程度の集光が可能です。 ハロゲンランプから照射される輻射熱を利用しているので、非接...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ハイベック

  • 脱墨・脱積層 - プラスチック・リサイクルの革新技術 - 製品画像

    脱墨・脱積層 - プラスチック・リサイクルの革新技術 -

    PRKEYCYCLE DEINKING

    脱墨技術 - KEYCYCLE DEINKING - は、フィルム表面に印刷されたインクを完全に除去することが可能です。この技術は世界でも類を見ないものであり、この技術を応用してフィルムやシート表面に塗工された物質の除去にも活用され、金属箔やMLCC離型フィルムの脱積層(シリコンやセラミックの除去)も可能です。 工程は、特殊なソルベントフリーの洗浄液に破砕した対象物を投入し、一定時間攪拌し、...

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    メーカー・取り扱い企業: 双日マシナリー 株式会社 環境・生活産業システム本部

  • X線光電子分光法を用いた分析手法 製品画像

    X線光電子分光法を用いた分析手法

    絶縁物の測定が可能!金属・半導体・高分子等まざまな材料の研究開発や不…

    「X線光電子分光法」は、試料表面の元素分析・化学状態分析を行う手法です。 絶縁物の測定が可能なため、金属・半導体・高分子・セラミック・ ガラス等まざまな材料に適用可能。 表面分析の中でも多用れている手法の一つであり、材料の研究開発や 不良解析に利用れています。 【分析項目】 ■表面の組成分析(定性・定量):ワイドスキャン...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • パワーサイクル試験装置の開発/製造/販売 製品画像

    パワーサイクル試験装置の開発/製造/販売

    複数個のDUTの同時試験が可能!要望に応じた制御方法や試験条件にカスタ…

    当社では、二年間でおよそ100種類以上のパワーサイクル試験を受託しており、 この間に蓄積れたノウハウを活かしたパワーサイクル試験装置を 開発、製造、販売することになりました。 近年、HEVなどの車載用を中心に産業用機器や発電装置など、パワー半導体が 幅広い分野で使用れるよう...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 食品中のアレルゲン分析 製品画像

    食品中のアレルゲン分析

    信頼性の高い結果を迅速に報告!表示が義務化れた7品目等、アレルゲン物…

    法による定量検査(2日) ■3.PCR法(3日)またはウェスタンブロット法(2日)による確認検査 ■4.分析結果をお客様へ報告 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下い。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • フーリエ変換-赤外分光法(FT-IR)による有機物分析 製品画像

    フーリエ変換-赤外分光法(FT-IR)による有機物分析

    50μm程度(目安としては肉眼で確認可能な)大きであれば、概ねサンプ…

    当社では、「フーリエ変換-赤外分光法(FT-IR)による有機物分析」を 行っております。 物質に赤外光(IR)を照射すると、物質固有の官能基の分子振動により 特定の波数領域で光が吸収れます。 広帯域のIR光を連続的に試料に照射しスペクトルを得ることにより、 物質材料を特定することが可能です。測定対象物質は主に 赤外吸収を伴う有機物質と一部の無機物質となります。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術 製品画像

    ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術

    ワイヤーボンディング部の接合面を平面から観察!数値による評価が可能とな…

    化合物の面積が大きければ、接合面がそれだけ広い事になり、 ボンディングOKと評価できます。 一般的な断面観察では、金属間化合物の生成状態をある1点でしか確認できず、 評価の裏付けとしては弱の残るものでした。 クオルテックでは、ボンディングれた箇所の裏面からシリコンをエッチング する事で、金属間化合物の生成状態を、より明確に観察する技術を開発。 金属間化合物の面積を算出し、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 不具合現象:無電解NiAuランドでのはんだぬれ性不良 製品画像

    不具合現象:無電解NiAuランドでのはんだぬれ性不良

    銅張りガラエポ板に各種表面処理を施しはんだ広がり性を調査!

    当社で行った「無電解NiAuランドでのはんだぬれ性不良」の再現実験を ご紹介いたします。 予想れた不良原因は、ランド表面処理の違いで、銅張りガラエポ板に 各種表面処理を施しはんだ広がり性調査を実施。 結果として、NiAuの処理方法により、はんだ広がり性が異なることを確認。 同時にそ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

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    不具合現象:はんだ溶融性不良

    リフロー時のプリヒート時間を変更し、はんだ溶融性を確認!

    当社で行った「はんだ溶融性不良」の再現実験をご紹介いたします。 予想れた不良原因はリフロー条件の不適で、リフロー時の プリヒート時間を変更し、はんだ溶融性を確認。 その結果、プリヒート時間の短縮により溶融性を改善できますが、 BGAでのボイドが増加。ボイド...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • パルス通電パワーサイクル試験とその応用例 製品画像

    パルス通電パワーサイクル試験とその応用例

    実動作に近い環境での試験および評価!突入電流およびサージ電圧に影響しな…

    当社は、一般的なパワーサイクル試験(及び連続通電試験)に加え、パルス状の 試験電流をサンプルへ印加せる『パルス通電パワーサイクル試験』も 実施しています。 応用例として、「IGBT/FWD 交互通電試験」では、パルス通電のノウハウを 駆使し、IGBTとFWDを交互に通電せることで、よ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

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    電子部品の急速温度サイクル試験

    温度の変化または温度変化の繰り返しが、電子部品や機器に与える影響を確認…

    ■型式:TSD-101-W ■メーカー:エスペック株式会社 ■テストエリア内容量:100l ■テストエリア耐荷重:30kg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下い。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • サンプルを高精度に観察する先進のソリューション・サービス 製品画像

    サンプルを高精度に観察する先進のソリューション・サービス

    サンプルを高精度に観察!ウェブ会議での対応も可能ですので、お問い合わせ…

    低ノイズでの観察、わずか数分での高速動作が可能な「EBSD」や「X線CT」などを ラインアップ。 3サンプルの場合、3~5営業日ほどで対応いたします。なお、「EBSD」は加工時間が プラスれます。 ウェブ会議での対応も可能ですので、まずは各技術担当者へお気軽にお問い合わせくだい。 【特長】 ■X線CT ・CTデータをDVDにコピーしご提供 ・フリービュワーソフトに...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 疲労試験 製品画像

    疲労試験

    高精度な試験力・変位のコントロールが可能!微小サンプルの信頼性評価に威…

    ルが 可能で、電子部品など微小サンプルの信頼性評価に威力を発揮。 引張・圧縮の繰り返し応力を与えますが、治具の作製により曲げ疲労試験 にも対応します。ご用命の際は、お気軽にお問い合わせくだい。 【特長】 ■材料は繰返し応力を受けると静的な引張強や降伏応力よりも  小い力で破壊に至る ■繰り返しの試験力や変位を与え、製品の疲労寿命や耐久性を評価 ■治具の作製により曲げ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • プラズマFIB-SEMの加工~分析性能と実例~ 製品画像

    プラズマFIB-SEMの加工~分析性能と実例~

    100μm以上でも加工可能!ソース・ゲートがある構造物まで加工・観察・…

    当社のプラズマFIBはFE-SEMを搭載しており、FIB加工しながら FE-SEM観察が可能です。 断面加工は垂直に行い、FE-SEM観察は52°傾斜せた状態での 撮影となります。 ご希望により、測長・画像の傾斜補正も可能ですので、ご用命の際は お気軽にお問い合わせくだい。 【特長】 ■1時間以内でSiCの断面加工が可能 ■...

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